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https://repositorio.ufrn.br/handle/123456789/15284| Título: | Eosi: um modelo para desenvolvimento de sistemas embarcados tolerantes a falhas |
| Autor(es): | Morais, Antonio Higor Freire de |
| Orientador: | Brandão, Gláucio Bezerra |
| Palavras-chave: | Tolerância a falha;Sistemas embarcados;FPGA;Fault Tolerant;Embedded Systems;FPGA. |
| Data do documento: | 17-Jul-2009 |
| Editor: | Universidade Federal do Rio Grande do Norte |
| Referência: | MORAIS, Antonio Higor Freire de. Eosi: um modelo para desenvolvimento de sistemas embarcados tolerantes a falhas. 2009. 112 f. Dissertação (Mestrado em Automação e Sistemas; Engenharia de Computação; Telecomunicações) - Universidade Federal do Rio Grande do Norte, Natal, 2009. |
| Resumo: | A evolução das tecnologias em semicondutores possibilita que dispositivos sejam desenvolvidos cada vez mais com uma maior capacidade de processamento. Neste sentido, estes componentes passam a ter sua utilização ampliada para um maior campo de atuação. Ambientes da indústria petroleira, mineração, automotivos e hospitalares são exemplos de setores que estão utilizando tais dispositivos com maior frequência em seus processos. As atividades que são desenvolvidas por estas indústrias estão diretamente envolvidas com a segurança ambiental e a saúde daqueles que nela trabalham. Desta forma, torna-se mister a utilização de sistemas que sejam dotados de características de segurança extra que possam conferir a estes sistemas maior confiabilidade, segurança e disponibilidade. O modelo de referencia eOSI que será apresentado por esta Dissertação tem por objetivo permitir que estes sistemas sejam desenvolvidos sob uma nova perspectiva que facilite a escolha das estratégias de tolerância a falha a serem empregadas na aplicação. Como forma de validar a utilização deste modelo será apresentada uma arquitetura de suporte que foi desenvolvida em FPGA com base neste modelo. |
| Abstract: | The semiconductor technologies evolutions leads devices to be developed with higher processing capability. Thus, those components have been used widely in more fields. Many industrial environment such as: oils, mines, automotives and hospitals are frequently using those devices on theirs process. Those industries activities are direct related to environment and health safe. So, it is quite important that those systems have extra safe features yield more reliability, safe and availability. The reference model eOSI that will be presented by this work is aimed to allow the development of systems under a new view perspective which can improve and make simpler the choice of strategies for fault tolerant. As a way to validate the model na architecture FPGA-based was developed. |
| URI: | https://repositorio.ufrn.br/jspui/handle/123456789/15284 |
| Aparece nas coleções: | PPGEE - Mestrado em Engenharia Elétrica e de Computação |
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