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dc.contributor.advisorD'assunção, Adaildo Gomespt_BR
dc.contributor.authorSouza, Adriano Gouveia dept_BR
dc.date.accessioned2014-12-17T14:56:21Z-
dc.date.available2007-06-19pt_BR
dc.date.available2014-12-17T14:56:21Z-
dc.date.issued2006-06-12pt_BR
dc.identifier.citationSOUZA, Adriano Gouveia de. Análise espectral de reflectarrays com substrato de duas camadas dielétricas anisotrópicas uniaxiais. 2006. 78 f. Dissertação (Mestrado em Automação e Sistemas; Engenharia de Computação; Telecomunicações) - Universidade Federal do Rio Grande do Norte, Natal, 2006.por
dc.identifier.urihttps://repositorio.ufrn.br/jspui/handle/123456789/15514-
dc.description.abstractRecently, an amazing development has been observed in telecommunication systems. Two good examples of this development are observed in mobile communication and aerospace systems. This impressive development is related to the increasing need for receiving and transmitting communication signals. Particularly, this development has required the study of new antennas and filters. This work presents a fullwave analysis of reflectarrays. The considered structures are composed by arrays of rectangular conducting patches printed on multilayer dieletric substrates, that are mounted on a ground plane. The analysis is developed in the spectral domain, using an equivalent transmission line method in combination with Galerkin method. Results for the reflection coefficient of these structures are presented and compared to those available in the literature. A good agreement was observed. Particularly, the developed analysis uses the transmission lines theory in combination with the incident potentials and the field continuity equations, at the structures interfaces, for obtaining the scattered field components expressions as function of the patch surface currents and of the incident field. Galerkin method is used to determine the unknown coefficients in the boundary value problem. Curves for the reflection coefficient of several reflectarray geometries are presented as function of frequency and of the structural parameterseng
dc.description.sponsorshipCoordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superiorpt_BR
dc.formatapplication/pdfpor
dc.languageporpor
dc.publisherUniversidade Federal do Rio Grande do Nortepor
dc.rightsAcesso Abertopor
dc.subjectEletromagnetismopor
dc.subjectArranjo refletorpor
dc.subjectFSSpor
dc.subjectPropagaçãopor
dc.subjectElectromagnetismeng
dc.subjectWave scatteringeng
dc.subjectFSSeng
dc.subjectPropagationeng
dc.titleAnálise espectral de reflectarrays com substrato de duas camadas dielétricas anisotrópicas uniaxiaispor
dc.typemasterThesispor
dc.publisher.countryBRpor
dc.publisher.initialsUFRNpor
dc.publisher.programPrograma de Pós-Graduação em Engenharia Elétricapor
dc.contributor.authorLatteshttp://lattes.cnpq.br/9187176142584249por
dc.contributor.referees1Oliveira, Antônio Jerônimo Belfort dept_BR
dc.contributor.referees1Latteshttp://lattes.cnpq.br/2846838293878451por
dc.contributor.referees2Sousa, Fernando Rangel dept_BR
dc.contributor.referees2Latteshttp://lattes.cnpq.br/9092018794878372por
dc.contributor.referees3Silva, Sandro Gonçalves dapt_BR
dc.contributor.referees3Latteshttp://lattes.cnpq.br/6122570451445215por
dc.description.resumoOs constantes avanços das telecomunicações tornamse cada vez mais evidentes nas últimas décadas. As tecnologias de comunicações móveis e da indústria aeroespacial são um bom exemplo desta evolução. Isto ocorreu devido ao aumento do fluxo de dados a serem transmitidos. Para suprir essa demanda, novas tecnologias vêm surgindo na construção de antenas e na filtragem dos sinais de RF. Este trabalho apresenta uma análise de onda completa de estrutura de arranjos refletores (reflectarray). A estrutura analisada é composta por um arranjo de patches condutores retangulares depositados sobre um substrato com duas camadas de materiais iso/anisotrópicos, que por sua vez estão montadas sobre um plano de terra. A análise foi efetuada no domínio espectral, sendo utilizado o método da linha de transmissão equivalente em combinação com o método de Galerkin. Como resultado foram obtidos os coeficientes de reflexão (amplitude e fase) correspondentes para as estruturas analisadas. Para validação desses resultados foi realizada uma comparação com os resultados disponíveis na literatura. Especificamente, a análise desenvolvida usa a teoria de linha de transmissão em conjunto com os potenciais incidentes e com a imposição da continuidade dos campos nas interfaces de contorno, para a obtenção das expressões das componentes dos campos espalhados em função das densidades de corrente do patch e dos campos incidentes. O método de Galerkin é utilizado na determinação numérica dos coeficientes pesos desconhecidos. Desta forma, são determinados os coeficientes de reflexão (amplitude e fase) das estruturas consideradaspor
dc.publisher.departmentAutomação e Sistemas; Engenharia de Computação; Telecomunicaçõespor
dc.subject.cnpqCNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICApor
Appears in Collections:PPGEE - Mestrado em Engenharia Elétrica e de Computação

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