UNIVERSIDADE FEDERAL DO RIO GRANDE DO NORTE CENTRO DE CIÊNCIAS EXATAS E DA TERRA PROGRAMA DE DOUTORADO EM CIÊNCIA E ENGENHARIA DE MATERIAIS TESE DE DOUTORADO Obtenção de uma porcelana dielétrica a partir de matérias-primas do Rio Grande do Norte ELIALDO CHIBÉRIO DA SILVA Orientador: Prof. Dr. Uílame Umbelino Gomes Co - Orientador: Prof. Dr. Wilson Acchar Tese n° 79/PPgCEM Natal 2010 Elialdo Chibério da Silva OBTENÇÃO DE UMA PORCELANA DIELÉTRICA PARTIR DE MATÉRIAS-PRIMAS DO RN Tese de Doutorado submetida à Universidade Federal do Rio Grande do Norte para Obtenção do título de Doutor no Programa de Pós-Graduação em Ciências e Engenharia de Materiais. Orientador: Prof. Dr. Uílame Umbelino Gomes. Co-Orientador: Prof. Dr. Wilson Acchar. Natal 2010 ELIALDO CHIBERIO DA SILVA DEDICO ESTA OBRA A princípio e com fervor aos meus pais, Francisco Chibério da Silva, in memorian, e à Benedita Francisca da Silva, e com mesma intensidade à minha filha Elissandra Álvares Chibério e a todos os irmãos e seus respectivos cônjuges, e em especial, pela referência que me motivou para a carreira acadêmica, ao meu estimado irmão, Dr. Nagib Francisco da Silva. AGRADECIMENTOS Ao Prof. Dr. Uílame Umbelino Gomes, pela sua orientação no desenvolvimento deste trabalho. Como também pela confiança depositada, pelo companheirismo, e ser humano que tem sido; Ao meu Co-orientador, Prof. Dr. Wilson Acchar, pela sua confiança e seu interesse em mostrar e abrir caminhos para que eu continue nesta trajetória, e pelo seu apoio incondicional nas decisões tomadas; Ao Dr. Clodomiro Alves Jr., pelo apoio moral e disponibilidade de seu laboratório LABPLASMA.; A esta instituição de ensino, Universidade Federal do Rio Grande do Norte, por tudo que representa a todos os norteriograndences; A Comissão de Apoio à Pesquisa de Ensino Superior – CAPES, pelo apoio financeiro dado para a realização deste trabalho. A todos que compôem e os que trabalharam no Laboratório de Materiais Cerâmicos e Metais Especiais e do Laboratório de Propriedades Físicas de materiais Cerâmicos, pelo apoio e incentívo, em especial a Dona Lindalva, Eduardo Galvão, Ygor Alexandre, Antônio Carlos, Reniêr, Priscylla Cinthya, Jaquelígia e aos colegas do CTGÁS, Kathya Canella, Hérica, Angélica, Maxymme, André e Andréa por ajudarem na realização dos ensaios e por seus incentivos. Ao amigo e aluno Paulo Belarmino e sua respectiva esposa Elisângela, pelo suporte dado para tornar real a impressão de todos os exemplares desta tese. Ao meu sobrinho Pedro Henrrique, pelas incansáveis ajudas nas traduções de livros e artigos. A minha esposa, Taízia Patrícia, pelo apoio, carinho, incentivo, companheirismo e principalmente pela dedicação prestada nesta etapa final do trabalho; Aos meus amados Irmãos por sempre terem confiado em mim e pela paciência e respeito. À eles, o meu melhor muitíssimo obrigado; Aos meus pais, Sr. Francisco Chibério da Silva, in memorian, e a Sra. Benedita Francisco da Silva, por terem batalhado tanto pela minha educação quanto a dos meus irmãos. A eles, que tanto Amor e Carinho dedicou a sua família, mesmo tendo que ser duros e incisivos na difícil tarefa de educar; A minha amada e maravilhosa filha Elissandra Álvares Chibério, obra e graça do Senhor, que tenho como estímulo, sendo a razão do meu vencer; A Deus, que é o ser que tudo sabe, tudo pode e tudo tem, por propiciar-me esta oportunidade, dando-me saúde, paz e força de vontade para vencer os obstáculos que a vida me submeteu. Agradeço a Deus pela família que tenho, pois sem o apoio destes tudo seria mais difícil. Obrigado por tudo, meu bom Deus;. RESUMO A porcelana dielétrica é normalmente obtida através da mistura de diferentes matérias-primas, em proporções adequadas, sendo utilizada na produção de equipamentos eletroeletrônicos de diversas aplicações, desde capacitores de alta e baixa potência, a isoladores para baixa, média, alta e extra alta tensão, que são utilizados em linhas de distribuição e transmissão de energia elétrica. Neste trabalho, são estudadas as propriedades tecnológicas de uma porcelana dielétrica, formulada a partir de matérias-primas obtidas de pegmatitos encontrados nas regiões do Seridó e do Alto Oeste do Rio Grande do Norte, sendo estas constituídas de caulim, quartzo e feldspato, abundantes e de alta qualidade nestas regiões, e de uma argila proveniente de uma cerâmica situada no município de São Gonçalo do Amarante, também no Estado do Rio Grande do Norte. As matérias-primas foram caracterizadas através de: granulometria a laser, difração de raios X, análise térmica diferencial e análise termogravimétrica. As amostras foram conformadas por prensagem uniaxial a uma pressão de 50 MPa, e sinterizadas às temperaturas de 1150, 1200, 1250, 1300 e 1350 ºC, com patamares de sinterização de 30, 60, 90 e 120 minutos. Os ensaios tecnológicos realizados foram: análise da perda de massa, retração linear, porosidade, curva de gressificação, microscopia eletrônica de varredura, difração de raios X, dilatometria, rigidez dielétrica, resistividade transversal e permissividade dielétrica. Os melhores valores de propriedades foram obtidos na temperatura de 1250 ºC, para as composições estudadas, não sofrendo variações significativas em seu comportamento com o tempo de sinterização. Os materiais estudados podem ser empregados na obtenção de objetos usados em eletrotécnica como por exemplo: isoladores de baixa, média e alta-tensão para redes elétricas, dispositivos de comando, bucha de isolamento de transformador, capacitores de potência, vela de ignição, receptáculos de lâmpadas incandescentes e fluorescentes e outros. Palavras-chave: Cerâmica dielétrica, matéria-prima, caracterização, propriedades tecnológicas. ABSTRACT The dielectric porcelain is usually obtained by mixing various raw materials proportions and is used in the production of electronic equipment for various applications, from capacitors of high and low Power to insulators for low, medium, high and extra high voltage, which are used in distribution lines and transmission of electricity.This work was directed to the s tudy of technological properties of technic porcelain, made from raw materials extracted from pegmatites found in the regions of Seridó and the Alto Oeste of Rio Grande do Norte, which are made of kaolin, quartz and feldspar, abundant and high quality in these regions. The technic ceramics were obtained by mixing in appropriate levels, kaolin, feldspar, quartz and clay, the last item from a pottery in the city of Sao Gonçalo do Amarante, Rio Grande do Norte. During the development the following characterizations correlated to raw materials were made: laser particle sizing, x-ray diffraction, DTA and TG. The compositions studied were formed by uniaxial pressing at a pressure of 50 MPa and sintered at temperatures ranging from 1150 to 1350ºC and levels (times) of sintering between 30, 60, 90 and 120 minutes. The characterization of the samples were taken from the analysis of weight loss, linear shrinkage, porosity, stoneware curve, bulk density, flexural strength of three points, SEM and X-ray diffraction, TMA, Dielectric and cross Resistivity. The studied materials can be employed in producing the objects used in electrical engineering such as: insulators for low, medium and high-voltage electrical systems, command devices, bushing insulation for transformers, power capacitors, spark plugs, receptacles for fluorescent and incandescent light bulbs and others. Keywords: Technic Ceramics, Raw Material, Electrical Characterization. LISTA DE ILUSTRAÇÕES Figura 2.1. Estruturas básica de argilominerais: (a) Tetraedro de silicato; (b) Folha tetraédrica; (c) Octaedro de Al, Fe ou Mg; (d) Folha octaédrica; (e) Camada estrutural básica de caulinita. 13 Figura 2.2. Diagrama de fases ternário e características da porcelana triaxaial. 19 Figura 2.3. Difração de raios X por um reticulado cristalino (lei de Bragg) 31 Figura 2.4. Diagrama esquemático do sistema de classificação de partículas por difração a laser. 33 Figura 2.5. Diagrama com os componentes do microscópio eletrônico de varredura (MEV). 35 Figura 2.6. Circuito equivalente da Lei de Ohm. 44 Figura 2.7. Curvas características de resistores: a) Ôhmico, b) Não Ôhmico, c) Não Ôhmico. 45 Figura 2.8. Símbolo de resistores em circuitos elétricos e foto de resistores comerciais. 48 Figura 2.9. Representação das características de um resistor de fio. 49 Figura 2.10. Representação de um resistor de filme de carbono. 49 Figura 2.11. Representação de um resistor variável. 50 Figura 2.12. Representação de um resistor ajustável. 50 Figura 2.13. Representação de código de cores de um resistor. 51 Figura 2.14. Representação do circuito equivalente para determinar valores elevados de resistência. 52 Figura 2.15. Placa de um capacitor simples 58 Figura 2.16. Representação da polarização de um capacitor de placas simples. 60 Figura 2.17. Capacitor de “multicamadas. 61 Figura 2.18. Cargas visíveis sobre as superfícies do dielétrico. 65 Figura 2.19. Mecanismos de falhas nos sólidos. 76 Figura 3.1. Figura 3.2. Fluxograma da metodologia experimental usada. Mapa do rio Grande do Norte com as indicações das localização das materiais primas. 85 86 Figura 3.3. Ilustração do corpo de prova padrão. 99 Figura 3.4. Curvas teóricas de queima utilizadas para a sinterização das amostras. 101 Figura 3.5. Conexão do porta amostras e o instrumento de medição de resistência elétrica, ponte RLC da marca HP. 111 Figura 3.6. Porta amostras para o ensaio de rigidez dielétrica. 112 Figura 4.1. Distribuição granulométrica da argila. 115 Figura 4.2. Distribuição granulométrica do caulim. 115 Figura 4.3. Distribuição granulométrica do feldspato. 116 Figura 4.4. Distribuição granulométrica do quartzo. 116 Figura 4.5. Curva termogravimétrica (TG) com sua respectiva derivada (Drtg) da argila . 118 Figura 4.6. Curva termodiferencial (DTA) da argila. 119 Figura 4.7. Curva termogravimétrica (TG) com sua respectiva derivada (drtg) do Caulim. 120 Figura 4.8. Curva termodiferencial (DTA) do caulim. 121 Figura 4.9. Curva termogravimétrica (TG) com sua respectiva derivada (Drtg) do feldspato. 122 Figura 4.10. Curva termodiferencial (DTA) do feldspato. 122 Figura 4.11. Curva termogravimétrica (TG) com sua respectiva derivada (drtg) do quartzo. 123 Figura 4.12. Curva termodiferencial (DTA) do quartzo. 124 Figura 4.13. Difratograma de raios X da argila. 125 Figura 4.14. Difratograma de raios X do caulim. 126 Figura 4.15. Difratograma de raios X do feldspato. 126 Figura 4.16. Difratograma de Raios X do quartzo 127 Figura 4.17. Micrografia MEV (700X) da morfologia dos grãos da amostra de 130 argila, com pontos de microanálise por EDX. Figura 4.18. Espectrograma EDX do ponto A da Figura 4.17. 130 Figura 4.19. Espectrograma EDX do ponto B da Figura 4.17. 131 Figura 4.20. Espectrograma EDX do ponto C da Figura 4.17. 131 Figura 4.21. Micrografia MEV (800X) da morfologia dos grãos da amostra de caulim, com pontos de microanálise por EDX . 132 Figura 4.22. Espectrograma EDX do ponto A da Figura 4.21. 132 Figura 4.23. Espectrograma EDX do ponto B da Figura 4.21. 132 Figura 4.24. Espectrograma EDX do ponto C da Figura 4.21. 132 Figura 4.25. Micrografia MEV (600X) da morfologia dos grãos da amostra de feldspato, com pontos de microanálise por EDX 133 Figura 4.26. Espectrograma EDX do ponto A da Figura 4.25. 133 Figura 4.27. Espectrograma EDX do ponto B da Figura 4.25. 134 Figura 4.28. Espectrograma EDX do ponto C da Figura 4.25. 134 Figura 4.29. Micrografia MEV (700X) da morfologia dos grãos da amostra de quartzo, com pontos de microanálise por EDX . 135 Figura 4.30. Espectrograma EDX do ponto A da Figura 4.29 135 Figura 4.31. Espectrograma EDX do ponto B da Figura 4.29 135 Figura 4.32. Espectrograma EDX do ponto C da Figura 4.29. 135 Figura 4.33. Comportamento dilatométrico das composições A e B. 138 Figura 4.34. Difratogramas de raios X da amostra da composição A, sinterizada a temperatura de 11500C na isoterma de 2 horas (amostra 07) 139 Figura 4.35. Difratogramas de raios X da amostra da composição A, sinterizada a temperatura de 12500C na isoterma de 2 horas (amostra 23) 139 Figura 4.36. Difratogramas de raios X da amostra da composição A, sinterizada a temperatura de 13500C na isoterma de 2 horas (amostra 39) 140 Figura 4.37. Difratogramas de raios X da amostra da composição B, sinterizada a temperatura de 11500C na isoterma de 2 horas (amostra 47) 140 Figura 4.38. Difratogramas de raios X da amostra da composição B, sinterizada a temperatura de 12500C na isoterma de 2 horas (amostra 63) 141 Figura 4.39. Difratogramas de raios X da amostra da composição B, sinterizada a temperatura de 13500C na isoterma de 2 horas (amostra 79) 141 Figura 4.40. Micrografia MEV dos corpos de prova da composição A. (A) Amostra sinterizada a temperatura de 11500C (Amostra 08). (B) Amostra sinterizada a temperatura de 12500C (Amostra 24) e (C) Amostra sinterizada a temperatura de 13500C (Amostra 40) 145 Figura 4.41. Micrografia MEV da amostra 08. (A) Micrografia MEV (400X) da composição A, sinterizada a temperatura de 11500C em isoterma de 2 horas, com pontos de microanálise por EDX; (B) Espectrogramas EDX do ponto A de (A); (C) Espectrogramas EDX do ponto B de (A), (D) Espectrogramas EDX do ponto C de (A); (E) Espectrogramas EDX do ponto D de (A); (F) Espectrogramas EDX do ponto E de (A). 146 Figura 4.42. Micrografia MEV da amostra 24. (A) Micrografia MEV (400X) da composição A, sinterizada a temperatura de 12500C em isoterma de 2 horas, com pontos de microanálise por EDX; (B) Espectrogramas EDX do ponto A de (A); (C) Espectrogramas EDX do ponto B de (A), (D) Espectrogramas EDX do ponto C de (A); (E) Espectrogramas EDX do ponto D de (A). 147 Figura 4.43. Micrografia MEV da amostra 40. (A) Micrografia MEV (400X) da composição A, sinterizada a temperatura de 13500C em isoterma de 2 horas, com pontos de microanálise por EDX; (B) Espectrogramas EDX do ponto A de (A); (C) Espectrogramas EDX do ponto B de (A). 148 Figura 4.44. Micrografia MEV dos corpos de prova da composição B. (A) Amostra sinterizada a temperatura de 11500C (Amostra 48). (B) Amostra sinterizada a temperatura de 12500C (Amostra 64) e (C) Amostra sinterizada a temperatura de 13500C (Amostra 80). 149 Figura 4.45. Micrografia MEV da amostra 48. (A) Micrografia MEV (400X) da composição B, sinterizada a temperatura de 11500C em isoterma de 2 horas, com pontos de microanálise por EDX; (B) Espectrogramas EDX do ponto A de (A); (C) Espectrogramas EDX do ponto B de (A), (D) Espectrogramas EDX do ponto C de (A); (E) Espectrogramas EDX do ponto D de (A). 150 Figura 4.46. Micrografia MEV da amostra 64. (A) Micrografia MEV (400X) da composição B, sinterizada a temperatura de 12500C em isoterma de 2 horas, com pontos de microanálise por EDX; (B) Espectrogramas EDX do ponto A de (A); (C) Espectrogramas EDX do ponto B de (A). 151 Figura 4.47. Micrografia MEV da amostra 80. (A) Micrografia MEV (400X) da composição B, sinterizada a temperatura de 13500C em isoterma de 2 horas, com pontos de microanálise por EDX; (B) Espectrogramas EDX do ponto A de (A); (C) Espectrogramas EDX do ponto B de 152 (A), (D) Espectrogramas EDX do ponto C de (A). Figura 4.48. Retração linear dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P1. 154 Figura 4.49. Retração linear dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P2 155 Figura 4.50. Retração linear dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P3 155 Figura 4.51. Retração linear dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P4. 156 Figura 4.52. Absorção de água dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P1 158 Figura 4.53. Absorção de água dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P2 158 Figura 4.54. Absorção de água dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P3 159 Figura 4.55. Absorção de água dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P4 159 Figura 4.56. Porosidade aparente dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P1 162 Figura 4.57. Porosidade aparente dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P2 162 Figura 4.58. Porosidade aparente dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P3 163 Figura 4.59. Porosidade aparente dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P4 163 Figura 4.60. Massa específica aparente dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P1. 166 Figura 4.61. Massa específica aparente dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P2 166 Figura 4.62. Massa específica aparente dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P3 167 Figura 4.63. Massa específica aparente dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P4 167 Figura 4.64. Variação de massa corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P1 169 Figura 4.65. Variação de massa dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P2. 170 Figura 4.66. Variação de massa dos corpos de prova sinterizados, em função da 170 temperatura e da composição na isoterma P3 Figura 4.67. Variação de massa dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P4 171 Figura 4.68. Curva característica do ensaio de flexão em três pontos das composições A e B 172 Figura 4.69. Tensão de ruptura à flexão dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da e da composição na isoterma P1 173 Figura 4.70. Tensão de ruptura à flexão dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da e da composição na isoterma P2 174 Figura 4.71. Tensão de ruptura à flexão dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da e da composição na isoterma P3 174 Figura 4.72. Tensão de ruptura à flexão dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da e da composição na isoterma P4 175 Figura 4.73. Curva de gresificação das composições A e B na isoterma P1 177 Figura 4.74. Curva de gresificação das composições A e B na isoterma P2 178 Figura 4.75. Curva de gresificação das composições A e B na isoterma P3 178 Figura 4.76. Curva de gresificação das composições A e B na isoterma P4 179 Figura 4.77. Resistividade elétrica dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da e da composição na isoterma P1. 182 Figura 4.78. Resistividade elétrica dos corpos-de-prova sinterizados, em função da temperatura e da e da composição na isoterma P2 182 Figura 4.79. Resistividade elétrica dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P3 183 Figura 4.80. Resistividade elétrica dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P4. 183 Figura 4.81. Constante dielétrica dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P1. 185 Figura 4.82. Constante dielétrica dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P2. 185 Figura 4.83. Constante dielétrica dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P3. 186 Figura 4.84. Constante dielétrica dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P4. 186 Figura 4.85. Rigidez dielétrica em fonte DC dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P1. 188 Figura 4.86. Rigidez dielétrica em fonte DC dos corpos de prova sinterizados, 188 em função da temperatura e da composição na isoterma P2. Figura 4.87. Rigidez dielétrica em fonte DC dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P3. 189 Figura 4.88. Rigidez dielétrica em fonte DC dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P4 189 Figura 4.89. Rigidez dielétrica em fonte AC dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P1. 191 Figura 4.90. Rigidez dielétrica em fonte AC dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P2. 191 Figura 4.91. Rigidez dielétrica em fonte AC dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P3. 192 Figura 4.92 Rigidez dielétrica em fonte AC dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P4. 192 LISTA DE TABELAS Tabela 2.1. Especificações de caulim para cerâmica branca. 14 Tabela 2.2. Especificações de feldspato para os principais uso nas industrias. 16 Tabela 2.3. Especificações de quartzo para os principais uso nas industrias. 17 Tabela 2.4. Quantidade de mineral de argila, caulim, feldspato e quartzo no território brasileiro. 20 Tabela 2.5. Mercado consumidor de matéria prima em forma bruta no Brasil 20 Tabela 2.6. Investimentos realizados em 2005 e previstos para os três anos consecutivos (2006, 2007, 2008) em R$. 21 Tabela 2.7. Principais transformações realizadas no produto, durante o ciclo de queima do suporte cerâmico. 36 Tabela 2.8. Coeficiente de resistividade de alguns materiais. 46 Tabela 2.9. Valores de coeficientes de temperatura de alguns materiais. 48 Tabela 2.10. Valores para cada algarismo de um resistor de acordo com sua respectiva faixa. 51 Tabela 2.11. Constante dielétrica (K) na temperatura ambiente 250C de alguns materiais. 57 Tabela 2.12. Características médias de porcelanas para capacitores. 62 Tabela 2.13. Características de materiais isolantes. 67 Tabela 2.14. Valores de (K) dos sólidos isolantes não-polares com t = 20ºC. 69 Tabela 2.15. Classificação de materiais isolantes cerâmicos de acordo com suas fases cristalinas. 73 Tabela 2.16. Rigides dielétrica de alguns materiais. 79 Tabela 2.17. Características de porcelanas eletrotécnicas. 83 Tabela 2.18. Valores típicos para um bom isolador elétrico. 84 Tabela 2.19. Números do setor de isoladores elétricos de porcelana no Brasil referente a 2003. 84 Tabela 3.1. Composições de massa cerâmica para obtenção de porcelana técnica. 94 Tabela 3.2. Definição e codificação dos corpos de prova. 95 Tabela 3.3. Relação das amostras selecionadas para ensaio das propriedades elétricas e suas respectivas espessuras 108 Tabela 4.1. Fluorescência de raios X das matérias primas utilizadas. 129 Tabela 4.2. Valores de retração linear encontrados e valor padrão em função da isoterma e da composição 156 Tabela 4.3. Valores de absorção de água encontrados e valor padrão em função da isoterma e da composição 160 Tabela 4.4. Valores de porosidade aparente encontrados e valor padrão em função da isoterma e da composição 164 Tabela 4.5. Valores de massa específica aparente encontrados e valor padrão em função da isoterma e da composição 168 Tabela 4.6. Valores de variação de massa encontrados e valor padrão em função da isoterma e da composição 171 Tabela 4.7. Valores de tensão de ruptura encontrados e valor padrão em função da isoterma e da composição 175 Tabela 4.8. Temperaturas de gresificação das massas cerâmicas em função da retração linear e da absorção de água. 179 Tabela 4.9. Propriedades elétricas das massas cerâmicas. 193 LISTA DE SIMBOLOS E ABREVIATURAS a. C..................... Período temporal referente a epoca antes de Cristo c.a........................ Corrente alternada AA……………... ABC Absorção de água (%) Associação Brasileira de Cerâmica Vs........................ Velocidade de sedimentação g.......................... Aceleração da gravidade (m/s2) de......................... Diâmetro da esfera (cm) ds......................... Peso específico da substância (g/cm3) η.......................... Viscosidade do meio dispersante em poises ΔT....................... Variação de temperatura σ.......................... Tensão tangencial aplicada num fluido (N/m2) MEV................... Microscopia eletrônica de varredura EDX.................... Espectrometria por fluorescência de raios X por energia dispersiva DRX.................... Difração de raios X ATG.................... Análise térmica gravimétrica DrTG.................. Derivada da curva termogravimétrica DTA.................... Análise térmica diferencial TG...................... Análise termogravimétrica TRC.................... Tubo de meio catódico TMA................... Análise termomecânica AG...................... Análise granulométrica VM...................... Variação de Massa TRF.................... Tenção de ruptura à flexão S.......................... Velocidade do feixe refletido So........................ Velocidade do feixe incidente d.......................... distância interplanar λ.......................... Comprimento de onda da radiação θ.......................... Ângulo de incidência da radiação ρd......................... Densidade ρF......................... Densidade de um fluido ν.......................... Velocidade terminal de sedimento A1,..... A2............. Amostras 1 e 2 da composição A. BB1,..... B2............. Amostras 1 e 2 da composição B P1, ........P4........... Tempo de patamar (30, 60, 90 e 120 minutos) T1,.....,T5............. Temperaturas de sinterização 1150, 1200, 1250, 1300, 1350oC, respectivamente α.......................... Coeficiente de temperatura do material Ls........................ Comprimento inicial do corpo-de-prova (mm) Lq....................... Comprimento final do corpo-de-prova (mm) RL....................... Retração linear (%) PA....................... Porosidade aparente (%) MEA................... Massa específica aparente (g/cm3) M0....................... Massa inicial Mf........................ Massa final Pu...................... Peso do corpo de provas úmido (g) Ps....................... Peso do corpo de provas imerso seca (g) Pi....................... Peso do corpo de provas em água (g) P.......................... Carga atingida no momento da ruptura (Kgf) L.......................... Distancia, Espessura, comprimento. (m, cm, mm) b.......................... Largura do corpo-de-prova (mm) h.......................... Altura do corpo-de-prova (mm) f........................... Distância focal V......................... Unidade de medida de potencial elétrico v........................... Potencial elétrico (V) P.......................... Potência elétrica (W) W........................ Unidade de medida de potência elétrica (Watt) R......................... Resistência elétrica (Ω) I........................... Corrente Elétrica (A) A......................... Unidade de medida da corrente elétrica (Ampére) Ω......................... Unidade de medida de resistência elétrica ρ.......................... Resistividade elétrica - ró (Ω.cm) ρ0......................... Resistividade do material a temperatura inicial ds......................... Peso específico da substância (g/cm3) σ.......................... Condutividade elétrica (1/(Ω.cm) Ac........................ Área de contato ou Área do material Sσ......................... Condução elétrica ε........................... Permissividade absoluta do material ε0......................... Permissividade absoluta do vácuo Қ......................... Permissividade relativa ou Constante dielétrica ƒ.......................... Fator de conversão t........................... Densidade do dielétrico d0......................... Espessura inicial d.......................... Espessura final Ucrit..................... Valor máximo da tensão permitida Ed........................ Valor médio da rigidez c........................... Capacitância S.I........................ Sistema Internacional de Unidades R=∞...................... Resistência elétrica infinita ICTA.................. Confederação Internacional de Análise Térmica ASTM................. Sociedade Americana de Teste de Materiais IUPAC................ União Internacional de Química Pura e Aplicada Q......................... PIB Carga elétrica Produto Interno Bruto SUMÁRIO 1.0. INTRODUÇÃO.......................................................................................................................1 2.0 .REVISÃO BIBLIOGRÁFICA...............................................................................................4 2.1. Classificação dos produtos cerâmicos....................................................................................6 2.1.1 Cerâmica estrutural ou vermelha........................................................................................6 2.1.2. Cerâmica branca..................................................................................................................7 2.1.3. Cerâmica de revestimento e pavimento..............................................................................7 2.1.4. Refratários.............................................................................................................................8 2.1.5. Cimento..................................................................................................................................8 2.1.6 Vidro......................................................................................................................................9 2.1.7. Abrasivos...............................................................................................................................9 2.2. Materiais utilizados...............................................................................................................10 2.2.1. Argila...................................................................................................................................10 2.2.2. Minerais argilosos...............................................................................................................11 2.2.3. Caulim..................................................................................................................................12 2.2.4. Feldspato..............................................................................................................................14 2.2.5. Quartzo................................................................................................................................16 2.2.6. Características dos materiais utilizados...........................................................................18 2.3. Propriedades tecnológicas dos materiais cerâmicos...........................................................21 2.4. Caracterização de matéria-prima para industria cerâmica.............................. ...............22 2.4.1. Análise química..................................................................................................................22 2.4.1.1. Umidade............................................................................................................................23 2.4.1. 2. Perda ao fogo...................................................................................................................24 2.4.1.3. Teor de SiO2 na matéria-prima .....................................................................................24 2.4.1.4. Teor de Al2O3 na matéria-prima.... ...............................................................................25 2.4.1.5. Teor de TiO2 na matéria-prima.....................................................................................25 2.4.1.6. Teor de Fe2O3 e FeO na matéria-prima.........................................................................26 2.4.1.7. Teor de CaO e MgO na matéria-prima.........................................................................26 2.4.1.8. Teor de Na2O e K2O na matéria-prima ........................................................................27 2.4.1.9. Teor de matéria orgânica na matéria-prima................................................................27 2.4.2. Análise térmica...................................................................................................................28 2.4.2.1. Análise térmica gravimétrica (TG)................................................................................28 2.4.2.2. Análise térmica diferencial (DTA).................................................................................29 2.4.2.3 Análise dilatométrica……………………………………………………………………30 2.4.3. Difração de raios X (DRX).................................................................................................31 2.4.4. Analise granulométrica (AG)............................................................................................32 2.4.5. Análise de microestrutura eletrônica de varredura (MEV)...........................................34 2.5. Ensaios e análise das características tecnológicas das cerâmicas.....................................36 2.5.1. Variação de massa (VM)...................................................................................................36 2.5.2. Retração linear (RL)..........................................................................................................37 2.5.3. Absorção de água (AA)......................................................................................................38 2.5.4. Porosidade aparente (PA)..................................................................................................38 2.5.5. Massa específica aparente (MEA).....................................................................................39 2.5.6. Tensão de ruptura á flexão (TRF).....................................................................................40 2.5.7. Gresificação.........................................................................................................................40 2.6. Propriedades elétricas dos matérias cerâmicos..................................................................41 2.6.1. Conceitos básicos de eletricidade......................................................................................41 2.6.2. Resistência e resistividade elétrica....................................................................................42 2.6.2.1 Lei de Ohm........................................................................................................................43 2.6.2.2 Resistores e seus diferentes tipos.....................................................................................48 2.6.2.3 Código de cores para resistores.......................................................................................50 2.6.2.4 Aplicação da Lei de Ohm.................................................................................................50 2.7. Capacitores e dielétricos.......................................................................................................53 2.7.1. Características de um capacitor........................................................................................55 2.7.2 Capacitância.........................................................................................................................58 2.7.3 Fatores que afetam a capacitância.....................................................................................59 2.8. Dielétricos ou isoladores........................................................................................................63 2.8.1. Polarização do dielétrico ...................................................................................................63 2.8.2. Constante dielétrica ...........................................................................................................64 2.8.3. Classificação dos dielétricos segundo o tipo de polarização ..........................................66 2.8.4. As propriedades de matérias isolantes ............................................................................67 2.8.5. A constante dielétrica de isoladores sólidos ....................................................................68 2.8.6. Condutividade elétrica de isolantes ..................................................................................69 2.8.7. A condutividade elétrica superficial dos isolantes sólidos .............................................70 2.8.8. O fator de perda .................................................................................................................71 2.8.8.1 Perdas dielétricas em isolantes sólidos ...........................................................................72 2.8.9. Descarga interna – análise da rigidez dielétrica .............................................................74 2.8.10. Ruptura dielétrica dos sólidos ........................................................................................75 2.8.10.1. Ruptura elétrica ............................................. .............................................................78 2.8.10.2. Ruptura térmica dos isolantes sólidos..... ...................................................................79 2.8.11. O Comportamento higroscópico ....................................................................................80 2.8.11.1. Absorção de água do isolador em uso .........................................................................81 2.8.12. Porcelana eletrotécnica ...................................................................................................81 3 .0. MATERIAIS E MÉTODOS.................................................................................................85 3.1. Metodologia............................................................................................................................85 3.2. Matérias-primas.....................................................................................................................86 3.2.1. Moagem a seco....................................................................................................................87 3.2.2. Argila...................................................................................................................................87 3.2.3. Pegmatitos (caulim, feldspato e quartzo).........................................................................88 3.3. Caracterização das matérias-primas...................................................................................88 3.3.1. Análise química...................................................................................................................89 3.3.2. Difração de raios X.............................................................................................................89 3.3.3. Microscopia eletrônica de varredura...............................................................................90 3.3.4. Análise térmica das matérias-primas...............................................................................90 3.3.4.1. Análise termogravimétrica e termodiferencial.............................................................91 3.3.4.2. Análise dilatométrica (TMA)..........................................................................................91 3.3.5. Análise granulométrica......................................................................................................93 3.4. Preparação das massas cerâmicas........................................................................................93 3.4.1. Misturas e homogeneização...............................................................................................94 3.5. Preparação dos corpos de prova..........................................................................................94 3.5.1. Compactação.......................................................................................................................98 3.5.2. Secagem dos corpos de prova............................................................................................99 3.5.3. Sinterização dos corpos de prova....................................................................................100 3.6. Determinação das propriedades dos corpos de prova......................................................101 3.6.1. Variação de massa (PF)....................................................................................................102 3.6.2. Retração linear (RL)........................................................................................................102 3.6.3. Absorção de água (AA)....................................................................................................103 3.6.4. Porosidade aparente (PA)................................................................................................103 3.6.5. Massa específica aparente (MEA)...................................................................................104 3.6.6. Tensão de ruptura à flexão (TRF)...................................................................................104 3.6.7. Fluorescência de raios X.................................................................................................105 3.6.8. Análise por difração de raios X.......................................................................................105 3.6.9. Análise microestrutural...................................................................................................106 3.6.10. Resistividade....................................................................................................................106 3.6.11. Constante dielétrica........................................................................................................111 3.6.12. Rigidez dielétrica............................................................................................................111 4.0. RESULTADOS E DISCUSSÃO.........................................................................................113 4.1. Caracterização das matérias primas..................................................................................113 4.1.1. Análise granulométrica....................................................................................................114 4.1.2. Análise térmica.................................................................................................................117 4.1.3. Caracterização mineralógica...........................................................................................124 4.1.4. Caracterização química...................................................................................................127 4.1.5. Morfologia das partículas................................................................................................130 4.2. Caracterização das massas cerâmicas...............................................................................136 4.2.1. Comportamento dilatométrico das massas cerâmicas..................................................136 4.2.2. Caracterização mineralógica das massas cerâmicas.....................................................138 4.2.3. Caracterização microestrutural dos corpos de prova sinterizados..............................142 4.2.4. Caracterização física das massas cerâmicas sinterizadas.............................................153 4.2.4.1. Retração linear de queima............................................................................................153 4.2.4.2. Absorção de água dos corpos sinterizados..................................................................157 4.2.4.3. Porosidade aparente......................................................................................................160 4.2.4.4. Massa específica aparente.............................................................................................164 4.2.4.5. Variação de massa no processo de sinterização ou perda ao fogo............................168 4.2.4.6. Resistência à flexão........................................................................................................172 4.2.4.7. Temperaturas de gresificação.......................................................................................176 4.2.5. Caracterização elétrica das massas cerâmicas sinterizadas........................................180 4.2.5.1. Resistividade elétrica.....................................................................................................180 4.2.5.2. Constante dielétrica.......................................................................................................184 4.2.5.3. Rigidéz dielétrica em fonte DC.....................................................................................187 4.2.5.4. Rigidez dielétrica em fonte AC.....................................................................................190 5. CONCLUSÃO.........................................................................................................................194 SUGESTÕES PARA TRABALHOS FUTUROS....................................................................196 REFERENCIAS..........................................................................................................................197 APÊNDICE.................................................................................................................................203 Capitulo 1 Introdução Introdução______________________________________________________________________________ 1 1.0. INTRODUÇÃO A cerâmica é a arte e a ciência de fabricar e de usar peças sólidas, as quais são constituídas por componentes essenciais, em grande parte por minerais inorgânicos não metálicos e metálicos. Materiais cerâmicos ou cerâmicas compreendem todos os materiais de emprego em engenharia ou produtos químicos inorgânicos, com exceção dos metais e suas ligas, e que são obtidos, geralmente, pelo tratamento em temperaturas elevadas. Segundo a Associação Brasileira de Cerâmica (ABC), a cerâmica tem um papel importante para economia do país, com participação no PIB (Produto Interno Bruto) estimado em 1%, correspondendo a cerca de 6 bilhões de dólares. A abundância de matérias-primas naturais, fontes alternativas de energia e disponibilidade de tecnologias práticas embutidas nos equipamentos industriais, fez com que as indústrias brasileiras evoluíssem rapidamente e muitos tipos de produtos dos diversos segmentos cerâmicos, atingissem nível de qualidade mundial com apreciável quantidade exportada. O setor industrial da cerâmica é bastante diversificado e pode ser dividido nos seguintes segmentos: cerâmica vermelha, materiais de revestimento, materiais refratários, louça sanitária, isoladores elétricos de porcelana, louça de mesa, cerâmica artística (decorativa e utilitária), filtros cerâmicos de água para uso doméstico, cerâmica técnica e isolantes térmicos. No Brasil existem todos estes segmentos, com maior ou menor grau de desenvolvimento e capacidade de produção. Além disso, existem fabricantes de matérias- primas sintéticas para cerâmica (alumina calcinada, alumina eletrofundida, carbeto de silício e outras), de vidrados e corantes, gesso, equipamento e alguns produtos químicos auxiliares. Dentro deste cenário econômico, a região Nordeste tem apresentado uma participação significativa. Muitas fábricas de diversos setores industriais estão se instalando elevando o consumo de energia elétrica, o que implica na expansão do sistema de transmissão e ______________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Introdução______________________________________________________________________________ 2 distribuição dessa forma de energia. O Estado do Rio Grande do Norte acompanha essa ascensão, o que tem aumentado a demanda de materiais cerâmicos, desde os segmentos ligados à construção civil, ao de cerâmica eletroeletrônica. Os produtos necessários para as edificações de indústrias são, em sua quase totalidade, produzidos no próprio Estado, sendo os usados em outros segmentos importados de outros Estados. O Rio Grande do Norte possui matéria-prima em abundância para a produção de isoladores cerâmicos e de cerâmica dielétrica, tais como caulim, feldspato e quartzo. Suas jazidas estão localizadas nas regiões do Seridó e do Alto Oeste do Estado. No caso da argila comum, as jazidas estão localizadas nas micro-regiões do baixo Assú e da Grande Natal, principalmente no município de São Gonçalo do Amarante. Tomando como referência dados adquiridos na Companhia Energética do Rio Grande do norte (COSERN), esta investiu em 2005 um montante de R$ 55,3 milhões que foram aplicados na melhoria da qualidade e da capacidade do fornecimento de energia elétrica e dos serviços prestados aos clientes. Deste investimento foram aplicados R$ 52,8 milhões no Sistema de Distribuição, com destaque para a entrada em operação das novas subestações, além dos valores que são gastos na importação de outros produtos eletroeletrônicos, como por exemplo os usados nas empresas de reparos em equipamentos eletrônicos tais como (resistores, capacitores, indutores, circuitos integrados, tiristores, transistores e outros), como também os utilizados em prédios residenciais multifamiliares ou não, empresas, etc, tais como receptáculos, guia fios, isoladores, dentre outros. O presente trabalho teve como objetivo principal estudar a viabilidade do ponto de vista tecnológico, através do estudo das principais propriedades dos produtos cerâmicos obtidos a partir de matérias-primas do Estado do Rio Grande do Norte, e identificar, com base nesse estudo, as aplicações possíveis desses produtos. ______________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Introdução______________________________________________________________________________ 3 Os objetivos específicos deste trabalho são: • Caracterização das matérias-primas estudadas; • Avaliação das alterações provocadas nas propriedades físicas e mecânicas dos corpos de prova produzidos a partir das matérias-primas, nos percentuais estudados; • Verificação do efeito das diferentes temperaturas de queima, nos tempos de isotermas, nas diferentes composições estudadas, e a sua influência nos resultados obtidos; • Comparar a influencias das propriedades físico-mecânicas com as propriedades elétricas estudadas; • Análise dos aspectos microestruturais e das alterações geradas nos resultados obtidos. Além desta introdução este trabalho é constituído de uma revisão bibliográfica, de outro capítulo que relata os materiais e métodos empregado, dos resultados e discursões e por fim as conclusões seguidos das sugestões de trabalhos futuros e referências. ______________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Capítulo 2 Revisão Bibliográfica Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 4 2.0 - REVISÃO BIBLIOGRÁFICA A palavra cerâmica é derivada do grego keramikos, que significa “de argila”. Existem indícios de atividade cerâmica em quase todos os povos da Antiguidade. O aparecimento dos primeiros utensílios cerâmicos ocorreu a partir do período Pré-Neolítico, nos anos 2500 a.C., quando se percebeu que o barro, quando deixado sob o sol escaldante, endurecia. Os primeiros objetos cerâmicos tinham a utilidade de armazenar água e alimentos, o que antes era feito usando-se cascas de árvores e crânios de pessoas ou animais. No entanto, pode-se dizer que a cerâmica feita de maneira mais sistemática veio no Neolítico, quando o homem passou a ser agricultor, pastor e ceramista (RESENDE, 1998). Os gregos, por muitos séculos, produziram as melhores peças de cerâmica do mundo Mediterrâneo, como por exemplo, o céramo ou keramos, um vaso de barro cozido usado para servir à mesa. De acordo com Pito (2000), na Grécia, em Roma e em outras regiões, a produção de cerâmica era vendida nas feiras, e havia uma exportação contínua de ânforas fenícias para todo o Mediterrâneo, em virtude da sua forma artística e da sua utilidade para servir água, vinho e azeite. De acordo com Amboni (1997), no Mediterrâneo, aproximadamente em 2000 a.C., foi inventado o torno, uma roda de madeira movida por um pedal que, fazendo girar um pedaço de argila colocado sobre ela, permite ao ceramista moldar o objeto desejado, geralmente em formato cilíndrico ou redondo. No Brasil, há cerca de 2000 anos, já havia, em diversas regiões, populações que manipulavam convenientemente a argila. A cerâmica mais sofisticada foi desenterrada na Ilha de Marajó (Pará), onde os indígenas desenvolveram o estilo marajoara, produzindo peças altamente elaboradas e especializadas (AMBONI, 1997). _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 5 De acordo com Hemming (1998), os índios brasileiros faziam sua cerâmica modelando e, às vezes, usando moldes ou enrolando, mas nunca numa roda; desconheciam, portanto, o torno. Além disso, não queimavam a argila em fornos, mas sim no chão, com lenha, razão pela qual os artefatos recolhidos em sítios arqueológicos possuem coloração escura, o que revela que foram “mal cozidos”. Os artefatos produzidos pelos indígenas brasileiros eram em geral destinados à ornamentação e ao acondicionamento e transporte de líquidos e alimentos. A literatura de História econômica brasileira registra a produção e o uso de objetos de cerâmica desde o Brasil colônia. Prado Júnior, por exemplo, descreve atividades ceramistas em várias regiões do Brasil colonial. A cerâmica é praticamente tão antiga quanto a descoberta do fogo. Predominaram ao longo da história e até o final do século XIX, métodos artesanais para a obtenção dos mais variados objetos. Tais objetos de uso decorativo ou doméstico e de uso na construção civil e industrial eram produzidos manualmente e muitos deles com excelente qualidade. No século XX e neste início do século, acompanhando a evolução industrial, a indústria cerâmica adotou a produção em massa, para qual são de fundamental importância o conhecimento e controle das matérias-primas, dos produtos e dos processos. Em termos de evolução técnico-científica, a Cerâmica pode ser dividida em três períodos: O primeiro período é denominado período keramos (do grego, sólido sinterizado) e abrange o período dos tempos pré-históricos até cerca de 1900. Neste período, típico de atividade agrícola ou artesanal, as peças obtidas a partir de matérias-primas naturais eram queimadas em fornos rudimentares. Toda a tecnologia era baseada na experiência de fabricação de cerâmica artesanal transmitida entre indivíduos. O segundo período denominado período industrial dos silicatos (de cerca de 1900 a 1940), abrange produtos cerâmicos fabricados em escala industrial a partir de matérias-primas naturais. Outros produtos industriais como o vidro, o cimento e refratários começam a ser _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 6 produzidos industrialmente, com tecnologia experimental. A ciência estudava o que já se tinha obtido na prática. No terceiro e ultimo período, denominado período da cerâmica avançada ou cerâmica de alta tecnologia (por volta de 1940 em diante), desenvolveu-se rapidamente a Ciência dos Materiais, na qual são estudadas a composição e a estrutura das substâncias, assim como as causas das propriedades. Neste período, a ciência está se antecipando à prática, prevendo, calculando reações e obtendo produtos com as propriedades desejadas (CERÂMICA, 1992). Baseado nesse contexto, este trabalho dará enfoque à cerâmica deiétrica, buscando as características voltadas ao emprego dessa no campo eletroeletrônico. 2.1 - Classificação dos produtos cerâmicos 2.1.1 - Cerâmica estrutural ou vermelha A cerâmica vermelha é em quase toda sua totalidade usada na obtenção dos seguintes produtos: tijolos e blocos, telhas, manilhas, lajes para forro, lajotas, vasos ornamentais, agregados leve de argila expandida e outros. Esses produtos são fabricados a priori próximos dos centros consumidores, utilizando matérias-primas locais. Como por exemplo, argila com alto teor de impurezas, entre as quais se destacam compostos de baixo ponto de fusão, além de outros com alto teor de ferro. Estes últimos, responsáveis pela cor vermelha características dos produtos. São produtos que se caracterizam por ter boa durabilidade, resistência mecânica e custo muito baixo, tendo as empresas que utilizar grandes áreas e movimentar grandes volumes de matérias-primas. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 7 2.1.2 - Cerâmica branca A cerâmica branca se destaca por suas propriedades, dentre elas a cor. Ela é empregada no processo de fabricação de louça sanitária, porcelana de mesa, porcelana elétrica e de laboratório. Em geral, esses produtos são fabricados a partir de misturas de matérias - primas, usualmente argilas, caulim, materiais fundentes (como o feldspato) e o quartzo. As temperaturas de queima são elevadas para que possam ser obtidos produtos densos e de alta dureza. Em particular, as porcelanas elétricas têm excelentes propriedades elétricas, o que permite a fabricação de isoladores, capacitores, termistores e outros, e mantêm estas propriedades ao logo de sua vida útil. Além de sua resistência à alta tensão, a porcelana dielétrica apresenta alta temperatura de fusão, como também uma alta resistência à variação de temperatura e uma elevada resistência mecânica, permitindo a produção de peças complexas. Também, apresenta ótima resistência a ataques químicos. 2.1.3 - Cerâmica de revestimento e pavimento A cerâmica de revestimento e pavimento compreende os seguintes produtos: azulejo, pisos e ladrilhos. Dentre as indústrias é a que tem permitido o maior grau de automação industrial. A grande maioria das etapas do processo, ou dos equipamentos, são controladas automaticamente e é cada vez mais intenso o uso de microcomputadores. Hoje já se fala em _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 8 fábricas com gerenciamento total por computador, desde a manipulação das matérias-primas até a embalagem. 2.1.4 – Refratários Os materiais refratário são produtos fabricados deliberadamente para suportar temperaturas elevadas sob as condições específicas dos fornos indústrias. Essa classe de produto deve apresentar resistência mecânica a altas temperaturas, boa resistência a quente, inércia química, boa resistência à abrasão e propriedades térmicas adequadas. Os maiores consumidores de refratários são as indústrias siderúrgicas e metalúrgicas. As diversas indústrias cerâmicas usam muitos produtos refratários na etapa de queima do produto cerâmico. Outros grandes consumidores de refratários são as indústrias de cimento e vidro, e as usinas de açúcar e álcool (caldeiras). Estes materiais compreendem os seguinte produtos: sílica, sílico-aluminosos, aluminosos de carbeto de silício, de mulita, de cordierita, de magnésio, de cromita, de grafita, entre outros. 2.1.5 – Cimento O cimento é obtido pelo tratamento térmico adequado de minerais, a fim de torná-los reativos com água, transformando-se depois em massas petrificadas. Na indústria cimenteira, o tratamento térmico é efetuado em imensos fornos rotativos, considerados as maiores peças _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 9 móveis de equipamento industriais no mundo. As principais matérias-primas da indústria cimenteira são o calcário, as argilas e os minérios ricos em ferro. 2.1.6 – Vidro A tendência de alguns materiais cerâmicos não cristalizarem após a fusão e resfriamento é a base para a fabricação dos vidros. Tais materiais cerâmicos não cristalinos se comportam como líquidos altamente viscosos, rígidos à temperatura ambiente, mas que amolecem gradualmente e começam a escoar a medida que a temperatura aumenta. Muitos vidros são transparentes à luz, e essa é a propriedade responsável pelo uso em janelas, garrafas, bulbos, lâmpadas e lentes. Embora a matéria-prima básica do vidro seja a sílica, a composição química pode variar mediante a adição de outros minerais de modo a obter uma infinidade de variedade de vidros com propriedades bem definidas. 2.1.7 – Abrasivos Nesses materiais, se enquadram grãos abrasivos obtidos por processos cerâmicos e produtos obtidos a partir desses grãos. Os grãos abrasivos são principalmente o óxido de alumínio eletrofundido e o carbeto de silício, além de outros como o diamante sintético, etc. Os produtos abrasivos são ferramentas abrasivas como lixas, rebolos, discos de desbastes e de _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 10 corte, pedras de afiar e outros. As ferramentas são grãos abrasivos agregados por um ligante, com diferentes formas e dimensões que se destinam ao trabalho de corte, desbaste, retífica e polimento. 2.2 - Materiais utilizados Os materiais utilizados neste trabalho foram basicamente à argila, o caulim, o feldspato e o quartzo. Destes, destacaremos suas propriedades e aplicações. 2.2.1 – Argila O termo argila apresenta denotações distintas dependendo do contexto e área considerados. Uma definição conveniente para argila (MOREIRA, 1994) pode ser dada como sendo silicatos hidratados de alumínio e ferro que contêm elementos alcalinos-terrosos e, são constituídos essencialmente por partículas denominadas mineriais argilosos, podendo conter impurezas na forma de minerais, acessórios não plásticos e finamente divididos, como quartzo, carbonatos feldspato e micas, devido principalmente a sua origem em rochas decompostas. É também comum a presença de certo teor de matéria orgânica. As argilas apresentam granulometria muito fina (diâmetro equivalente inferior a 2μm), e adquirem plasticidade quando umedecidas. Após secagem perdem a plasticidade, e após queima em temperatura superior a 1000 oC adquirem alta resistência mecânica. Entretanto, _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 11 mesmo que esta definição seja razoavelmente adequada do ponto de vista da tecnologia cerâmica, existem exceções e particularidades sobre determinados tipos de argilas, excluídas desta regra geral. Um exemplo disto são as argilas do tipo “flint”, as quais não apresentam plasticidade quando misturadas com água, embora apresentem os demais atributos. 2.2.2 - Minerais argilosos Os minerais argilosos ou mineriais argilosos são os minerais constituintes e característicos das argilas. São cristalinos, e podem ser divididos em duas classes gerais, em função de sua estrutura (SANTOS, 1989): silicatos cristalinos com estrutura em camadas ou lamelas, e silicatos cristalinos com estrutura fibrosa. Na classe dos materiais argilosos de estrutura fibrosa figuram somente a sepiolita e a paligorsquita. Já a classe dos mineriais argilosos de estrutura lamelar apresenta subgrupos característicos em função de determinadas propriedades estruturais. As lamelas destes mineriais argilosos são formadas na verdade, de camadas tetraédricas de silicatos e camadas octaédricas de hidróxidos. Sendo assim, a seguinte classificação pode ser destacada para os mineriais argilosos lamelares: a) Grupo de camadas 1:1 ou difórmicos: célula unitária do argilomineral constituída de uma camada octaédrica e uma tetraédrica; b) Grupo de camadas 2:1 ou trifórmicas: célula unitária do argilomineral constituída de uma camada octaédrica e duas tetraédricas. Os materiais argilosos cristalinos de estrutura em camadas compreendem basicamente, o empilhamento de folhas tetraédricas de silicatos (ESLINGER E PEAVER, 1988). Este é o principal motivo da denominação usual destas estruturas (filossilicatos). Os silicatos (SiO44-) _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 12 são tetraedros que apresentam, nas arestas, quatro ânions de oxigênio, e no centro, um pequeno cátion de silício. O arranjo plano em forma hexagonal dos ânions bassais destes tetraedros, origina uma folha tetraédrica. Neste arranjo, três de quatro ânions de oxigênio de cada tetraedro estão ligados a outros tetraedros, e o ânion restante de cada tetraedro aponta sempre para a mesma direção. Neste caso existe a formação de dois planos diferentes de oxigênio, contendo cada um deles, um número diferente de ânions. A fórmula estrutural para a folha tetraédrica pode ser dada por SiO4O104-, fazendo com que estas estruturas só possam existir em combinação com cátions. Cátions maiores podem ser acomodados pelas folhas octaédricas, ou seja, estruturas formadas por dois planos de hidroxilas empacotados de forma hexagonal. Nestas folhas octaédricas, os octaedros são acomodados entre si através de uma de suas faces. As folhas octaédricas apresentam neutralidade de carga. A união 1:1 ou 2:1 de folhas tetraédricas e octaédricas origina uma camada estrutural. Cátions e/ou moléculas de água, em geral, são ligados às estruturas, as quais podem ligar-se entre si fracamente. A Figura 2.1 ilustra as estruturas básicas formadoras de mineriais argilosos, bem como o modelo estrutural básico da caulinita. 2.2.3 - Caulim Entre os grupos de minerais argilosos, o grupo do caulim é um dos que mais se destaca, em razão das propriedades especiais que apresenta, como: brancura, maciez, plasticidade, inércia química, poder dispersivo na água e em outros meios líquidos, baixa condutibilidade _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 13 de calor e eletricidade, conferindo propriedades especiais, tais como térmica e mecânica, durabilidade, rigidez dimensional, dentre outras. Ver especificações do caulim para cerâmica branca na Tabela 2.1. A unidade estrutural básica corresponde às composições químicas 4SiO2.2Al2O3.4H2O ou 4SiO2.6MgO.4H2O. O grupo do Caulim compreende os subgrupos do caulim ou caulinita e da serpentina. O subgrupo da caulinita constitui-se mineralogicamente pela caulinita, haloisita, nacrita e diquita, e o subgrupo da serpentina, pela crisolita e antigorita. Estes constituem os tipos mais freqüentes. Os fatores que controlam os usos industriais do caulim são principalmente: o grau de pureza, alvura, poder de reflexão luminosa e a granulometria. Os principais usos industriais são para: cerâmica branca, papel, borracha, tintas, plásticos, tecidos, inseticidas, fertilizantes, adesivos, esmaltes, vidros especiais, medicamentos, química e couros, dentre outros. Figura 2.1 - Estruturas Básica de Mineriais argilosos (GOMES, 1986): (a) Tetraedro de Silicato; (b) Folha Tetraédrica; (c) Octaedro de Al, Fe ou Mg; (d) Folha Octaédrica; (e) Camada Estrutural Básica de Caulinita. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 14 Tabela 2.1 - Especificações de caulim para cerâmica branca Composição Química Baixos teores de Fe2O3 (<1%), TiO2, Al2O3 e CaO (se Fe2O3>1% dificilmente “cocozerá branco”. Contudo, para esta porcentagem, os baixos teores de Al2O3 e CaO atenuarão a cor de “cozimento” e a existência do TiO2 acentuará esta cor) Granulometria < 200 mesh Cor de Queima Branca ou cores clara Temperatura(°C) Kgf/cm2 110 > 2 950 > 15 1250 > 80 Tensão de Ruptura a flexão 1450 > 120 Temperatura(°C) % de absorção Absorção de água(°C) 950 < 26 1250 < 16 1450 < 6 Fonte: Bezerra et al. (1997) 2.2.4 – Feldspato Feldspato é um termo que define um grupo de minerais aluminossilicatos, com proporções variáveis de potássio, sódio e cálcio, em geral com características físicas e cristalográficas semelhantes. Este grupo de minerais subdivide-se em feldspatos potássicos e sódico-cálcicos (plagioclásios). Os feldspatos potássicos compreendem o ortoclásio e a microclina, que apresentam a mesma composição química (KAlSi3O8), porém diferem na estrutura cristalina. Os plagioclásios formam uma série isomórfica, na qual o membro final sódico é a albita (NaAlSi2O8) e o cálcio é a anortita (CaAl2Si2O8). Outra variedade comum de _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 15 feldspato é a pertita, que corresponde ao intercrescimento de ortoclásio ou microclina com albina. Devido a mais importante característica tecnológica, que é a fusibilidade pela capacidade de vidrar, os feldspatos são muito utilizados nas indústrias do vidro, cerâmica, esmalte e vidrado. Os principais depósitos de feldspato no Nordeste são do tipo pegmatítico, embora ocorram com abundância em granitos e rochas afins, ainda não aproveitados economicamente. No Rio Grande do Norte, os pegmatitos mineralizados em feldspato, constituem a Província Pegmatítica Borborema-Seridó (SILVA E DANTAS, 1984), abrangendo inclusive o Estado da Paraiba. Também ocorrem na região de Tenente Ananias e circunvizinhanças, constituindo outra província pegmatítica. Estes pegmatitos ocorrem na forma de altos topográficos, constituem pequenos depósitos, são de interna heterogeneidade, zonada, com grau de diferenciação elevada. A composição química é uma característica fundamental dos feldspatos, principalmente em relação aos teores de alumina (Al2O3), álcalis (K2O e Na2O) e ferro (Fe2O3). Numa análise sucinta, constata-se que a maioria destes feldspatos apresenta teores de álcalis maiores que 14,0%, de sílica maiores que 62,5%, Al2O3 maiores que 18,0%, e Fe2O3, uma parte variável entre 0,06 a 0,13% e outra parte, com teores abaixo de 0,05%. A razão K2O/Na2O, na sua maioria, apresenta valores entre 8,1 a 2,5, com alto K2O (entre 11,1% a 13,9%). As características recomendam tais feldspatos para usos prováveis nas indústrias cerâmica branca e de vidro. Veja na Tabela 2.2, a seguir as especificações de Feldspato para os principais usos nas indústrias. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 16 Tabela 2.2 - Especificações de feldspato para os principais usos nas indústrias Uso Industrial Propriedades Vidro Composição mineralógica Composição química Feldspato sódico/potássico K2O + Na2O > 8% Fe2O3 < 0,25% ( vidro comum) Fe2O3 < 0,07% (vidro especial) Cerâmica Branca Composição mineralógica Composição química Ensaios de cone Fusibilidade Feldspato sódico/potássico K2O + Na2O > 8% K2O + Na2O = 14% Fe2O3 < 0,07% Cor branca, brilhante Escorrimento até 35mm (massa cerâmica) Escorrimento > 5mm (esmalte) Fonte: Bezerra et al. (1997) 2.2.5 – Quartzo Sílica é uma designação genérica para os minerais de fórmula química SiO2, sendo o principal constituinte das areias quartzosas, quartzo e quartzito, e da grande maioria dos arenitos. A sílica, como mineral industrial a ser abordada neste trabalho, será considerada em função das suas aplicações industriais. Serão enfocados areias quartzosas, quartzo e quartzitos, com exceção dos arenitos. As areias quartzosas são constituídas principalmente por quartzo, um dióxido de silício de fórmula química SiO2, amplamente distribuída na crosta terrestre (constitui aproximadamente 12%). O quartzo é um mineral muito comum na crosta terrestre, participando da composição das rochas ígneas, metamórficas e sedimentares. Possuem diversas variedades cristalinas, _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 17 como o quartzo hialino, quartzo leitoso, róseo, enfumaçado, morion, ametista, citrino, prásio e variedades criptocristalinas, como a calcedônia, silex, chert, jaspe e opala. Quartzito é uma rocha metamórfica cujo constituinte mineralógico essencial e dominante é o quartzo. Os principais usos e aplicações do mineral quartzo e da areia quartzosa industrial são como fonte de silício, muito usado em indústrias de alta tecnologia (eletrônica, ótica, cerâmica, telecomunicações, informática e outros), nas indústrias de vidro, cerâmica, cimento, fertilizante e defensivos agrícolas, fundição, siderurgia, abrasivos, refratários ácidos, meios filtrantes, meios de troca térmica, padrão para medidas físicas, em desmonte hidráulico de minérios, dentre outros. Veja na Tabela 2.3, a seguir as especificações de quartzo para o principal uso nas indústrias. Tabela 2.3 - Especificações de quartzo para os principais usos nas indústrias Uso Industrial Propriedades Vidro Composição química Granulometria SiO2 > 99%, Al2O3 < 0,3% Fe2O3 < 0,07%, umidade < 1% Fracionada entre 30 a 200 mesh Cerâmica Composição química SiO2 > 98%, Al2O3 < 3% Fe2O3 < 0,13%, Silício/Fe-Si Composição química Granulometria SiO2 > 98% Retido em 1” = 100% Construção Civil Granulometria Revestimento de parede: 2 a 3mm Revestimento de piso: 5 a 6mm Fonte: Bezerra et al. (1997) _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 18 2.2.6 – Características dos materiais utilizados Cada uma das matérias-primas mencionadas têm influência predominante nos aspectos térmico, mecânico ou dielétrico. Assim, podemos definir o papel de cada componente na massa Cerâmica. • Quanto ao aspecto térmico O componente que influi termicamente é o quartzo, portanto, quanto maior sua porcentagem, maior é a temperatura suportada por essa porcelana. • Quanto ao aspecto dielétrico O feldspato é o componente que define o comportamento isolante, ou seja, os valores de rigidez dielétrica, o fator de perdas, etc. • Quanto ao aspecto mecânico Como na grande maioria dos demais materiais isolantes, os esforços melhor suportados pelos mesmos, são os de compressão, apresentando perante essas solicitações, valores dez vezes superiores aos de tração. Esses valores são conseqüência da porcentagem de argila e caulim presentes na massa cerâmica. Os três grupos mencionados compõem basicamente uma porcelana sem prejuízo de acréscimos de outros bastante importantes, mas, de porcentagem menor. Portanto, para o preparo da massa a ser trabalhada, deve-se estabelecer primeiramente a aplicação que a porcelana terá, para então, em função das condições elétricas ou dielétricas, mecânicas e térmicas que o material deve suportar, estabelecer a porcentagem de cada uma das matérias- _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 19 primas. Essa composição e características são representadas no diagrama de fase ternário da porcelana triaxial (JANSSEN, 2005) da Figura 2.2. Figura 2.2 – Diagrama de fases ternário e características da porcelana triaxial As propriedades atribuídas a cada matéria-prima usada na composição da porcelana são as seguintes: ¾ Caolim + argila: propriedades mecânicas. ¾ Feldspato: propriedades elétricas. ¾ Quartzo: propriedades térmicas. Um levantamento feito pelo Departamento Nacional de Produção Mineral (2006), mês de referência 2005, apresenta dados relevantes sobre o cenário dos minerais no território brasileiro. Nas Tabelas 2.4, 2.5 e 2.6, a seguir, apresenta-se os quantitativos das matérias- primas argila, caulim, feldspato e quartzo nas reservas minerais no território brasileiro, o _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 20 mercado consumido de produtos brutos relacionando os setores industriais e investimentos realizados em 2005, e previstos para os três anos consecutivos (2006, 2007, 2008). Tabela 2.4 – Quantidade de mineral de argila, caulim, feldspato e quartzo no território brasileiro RESERVA SUBSTÂNCIA MEDIDA ( Tonelada ) INDICADA ( Tonelada ) INFERIDA ( Tonelada ) LAVRADA ( Tonelada ) ARGILA 6.011.254.817 2.455.615.665 1.220.274.887 5.999.908.470 CAULIM 2.676.112.916 1.745.477.335 5.684.469.986 2.417.057.165 FELDPATO 1.027.299.840 765.228.596 644.053.333 1.124.180.534 QUARTZO 3.293.897 759.596 1.835.493 3.244.284 Fonte: Anuário Mineral Brasileiro 2006. Tabela 2.5 – Mercado consumidor de matéria prima em forma bruta no Brasil SUBSTANCIAS SETOR DE CONSUMO / USO (%) ARGILA Construção civil (23,49); Cerâmica vermelha (22,31); Piso e revestimento (12,93); Construção e manutenção de estradas (6,45); Aterro (5,04); Cimento (3,99); Cerâmica branca (3,58); Refratários (0,12); Pelotização (0,47); Extração de petróleo e gás (0,31); Fundição (0,29); Outros produtos químicos (0,25); Aterramento sanitário (0,22); Comércio de materiais de construção (0,18); Pavimentação asfaltíca (0,10); Produtos petroquímicos (0,09); Siderurgia (0,09); Filtros (0,08); Cosméticos (0,03); Argamassa para construção (0,01); Aparelhamento de placas e pedras (0,01); Extração e beneficiamento de minerais (0,01); Fertilizantes (0,01); Abrasivos (0,01); Artefatos de comento (0,01); Sabões, detergentes e produtos de limpeza (0.00); não informado (18,92). CAULIM Cerâmica branca (51,36); Cimento (20,52); Piso e revestimento (17,71); Extração e beneficiamento de minerais (2,99); Tinta, esmalte e vernizes (4,64); Não informado (1,15) FELDSPATO Piso e revestimento (67,70); Cerâmica branca (13,50); Cimento (8,40); Extração e beneficiamento de minerais (4,94); Construção civil (0,86); Vidros ( 0,86); Não informado (3,74) QUARTZO Indústria de lapidação (60,00); Coleção de minerais (20,00); Bijuterias (15,00); Não informado (5,00). Fonte: Anuário Mineral Brasileiro 2006 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 21 Tabela 2.6 - investimentos realizados em 2005 e previstos para os três anos consecutivos (2006, 2007, 2008) em R$. REALIZADOS EM 2005 PREVISTOS PARA OS TRÊS ANOS SEGUINTES UF MINA (106) USINA (106) ÁGUA MINERAL (106) TOTAL (106) MINA (106) USINA (106) ÁGUA MINERAL (106) TOTAL (106) BR 1.992,18 162,47 44,64 2199,29 6.437,76 8.873,12 110,58 15.421,46 MG 819,65 561,64 3,42 1.384,72 2.061,03 4.275,42 124,97 6.348,95 SP 48,77 26,29 6,18 81,25 359,58 63,91 13,71 437,20 SC 34,26 12,59 2,22 49,07 506,64 40,04 14,72 561,41 NE 216,71 56,56 7,06 280,33 758,73 119,93 19,93 898,61 BA 132,81 43,44 0,85 177,11 144,27 74,66 1,70 220,63 RN 14,61 0,12 1,03 15,78 13,31 2,64 2,40 18,37 Fonte: Anuário Mineral Brasileiro 2006 2.3 - Propriedades tecnológicas dos materiais cerâmicos É bastante extensa a faixa de variação das propriedades das cerâmicas, dependendo da constituição, queima e moldagem, dentre outros. Serão citadas, a seguir, algumas das principais propriedades destes materiais. a) Densidade: É a relação entre a massa de um corpo e o volume ocupado pelo mesmo. Existem cerâmicas que são mais leves que a água, e outras que possuem densidades elevadas. b) Volume aparente: É o volume de água deslocado por uma peça já saturada por 24h de imersão. c) Resistência ao desgaste: Depende muito da quantidade de vidro formado. d) Absorção de água: Depende da compactação, da constituição da temperatura e do tempo de queima, onde ocorre o início da vitrificação da peça. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 22 e) Porosidade: É mostrada através do aumento de peso que a peça apresenta após 24h de imersão em água. f) Resistividade: Depende da homogeneidade, granulometria e é melhor ainda quando o cozimento é feito na temperatura e no tempo certo. g) Resistência mecânica: Depende muito da quantidade de água usada na moldagem. 2.4 - Caracterização de matéria prima para industria cerâmica As caracterizações das matérias-primas foram realizadas em função da análise química, análise térmica, análise cristalográfica, análise morfológica e análise granulométrica. 2.4.1 - Análise química A análise química costuma ser executada segundo o chamado método clássico, que é demorado, mas permite a obtenção de resultados bastante exatos. Ultimamente, com o desenvolvimento de técnicas modernas, pode-se fazer a análise de argilas usando-se métodos complexométricos e instrumentais que estão, porém, sujeitos a restrições. As determinações usuais são: umidade, perda ao fogo, SiO2, Al2O3, TiO2, Fe2O3, FeO, CaO, MgO, Na2O, K2O, CuO, MnO, matéria orgânica, capacidade de troca de cátions e identificação de cátions trocáveis. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 23 As determinações feitas pelo método clássico são as seguintes: a) Determinação gravimétrica: umidade, SiO2, Al2O3, MgO, CaO(abaixo de 1%), Na2O, K2O b) Determinação volumétrica: Fe2O3(acima de 1%), FeO , TiO2(acima de 4%), CaO(acima de 1%). c) Determinação colorimétrica: Fe2O3(abaixo de 1%) e TiO2(abaixo de 4%). As determinações feitas pelo método instrumental e complexométrico são as seguintes : a) - Determinações espectrofotométricas: SiO2, TiO2 e Fe2O3. b) - Determinações complexométricas: CaO, MgO e Al2O3. c) - Fotômetro de chama: Na2O e K2O (SANTOS, 1989) 2.4.1.1 – Umidade As argilas geralmente contêm um teor variável de umidade, porém a apreciação dos resultados da análise química deve ser feita sobre o material seco, daí a importância dessa determinação. Argilas do grupo montmorilonita e da sepiolita-paligorsquita não perdem totalmente a água intercalada entre as camadas e de coordenação, e também a água adsorvida nos poros estruturais (zeolitic water), a não ser entre 200ºC e 250ºC. Outro tipo de umidade que costuma ser determinado em argila é a água higroscópica ou a higroscopicidade: é a umidade que a argila adquire em equilíbrio em ambientes saturados de vapor de água em temperaturas entre 15ºC e 25ºC, nessas condições, argilas cauliníticas e haloísitas apresentam _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 24 até 5% de umidade de higroscopicidade enquanto argilas esmectíticas atingem até 30% de umidade higroscópica (SANTOS, 1989). 2.4.1.2 - Perda ao fogo A perda ao fogo é principalmente devido às águas intercaladas, de coordenação e zeolíticas, à água de hidroxilas dos mineriais argilosos e também de hidróxidos existentes , tais como: Al(OH)3 e Fe(OH)3. Todavia, os componentes voláteis da matéria orgânica, sulfetos, sulfatos e carbonatos, quando presentes são incluídos nesta determinação (SANTOS, 1989). 2.4.1.3 – Teor de SiO2 na matéria-prima O conteúdo de SiO2 obtido através da análise química é devido a silicatos e à sílica livre. Os silicatos são os mineriais argilosos, as micas e os feldspatos. A sílica livre é proveniente de quartzo (variedade cristalina), opala (variedade amorfa), àgata e calcedônia (variedades criptocristalinas) e ácidos silícicos amorfos. Nas argilas residuais, a sílica livre é devida principalmente a quartzo macroscópico, que é um constituinte comum das rochas ígneas. Nas argilas sedimentares, além de quartzo microscópico, podem ser encontradas formas amorfas e criptocristalinas de sílica (SANTOS, 1989). _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 25 2.4.1.4 – Teor de Al2O3 na matéria-prima O alumínio existente numa argila, está em sua maior parte combinado, formando mineriais argilosos, geralmente caulinita. Algumas argilas apresentam teor de Al2O3 superior ao da caulinita teórica que é de 39,8%, provenientes também de boemita, gipsita, diásporo ou cliaquita (hidróxido de alumínio amorfo), sendo, portanto, altamente aluminosas e de interesse na fabricação de materiais refratários. Alguns caulins primários costumam ter teores de Al2O3 superior a 39,8% devido à remoção de sílica de caulinita por águas alcalinas de intemperismo (SANTOS, 1989). 2.4.1.5 – Teor de TiO2 na matéria-prima Óxido de titânio ocorre em quase todas as argilas, sendo rutilo, ilmenita e anastásio os minerais mais comuns. O último é o mineral que figura como o mais resistente no intemperismo, sua presença indica geralmente origem sedimentar. O rutilo se comporta semelhante ao anatásio quanto aos agentes de intemperismo e de transporte, sendo também freqüente nas argilas sedimentares, especialmente argilas refratárias e caulins sedimentares. Para quantidades baixas de TiO2(abaixo de 1%) não há praticamente alteração nas propriedades tecnológicas da argila, porém, quando os teores são elevados, problemas, como, por exemplo, de cor cinzenta na argila, podem ser devido a óxidos de titânio. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 26 2.4.1.6 – Teor de Fe2O3 e FeO na matéria-prima Hematita, limonita, lepidocrocita, goetita e pirita são os minerais de ferro mais freqüentemente encontrados nas argilas e seus efeitos se fazem sentir principalmente na alteração da cor da argila queimada e na redução da refratariedade. Argilas livres de óxidos de ferro, quando calcinadas, dão um produto de cor branca; com 1% de óxidos, a argila se torna amarela e a cor tende a se intensificar com porcentagens maiores. Entretanto, deve-se notar que nem sempre há proporcionalidade entre a cor e a quantidade de óxidos de ferro indicados pela a análise química, devido ao fato de o ferro poder entrar em combinação com outros componentes da argila, formando vidro, como no caso de argilas ricas em ilita ou montronita, onde o ferro faz parte do reticulado cristalino. Teores elevados de ferro e baixos de sílica levam a cores negras porque principalmente se forma magnetita e não há formação de vidros na queima(SANTOS, 1989). 2.4.1.7 – Teor de CaO e MgO na matéria-prima São geralmente proveniente de calcita, dolomita, gipsita e são raramente encontrados nas argilas cauliníticas do tipo refratário. A presença de cálcio, principalmente em argilas montmoriloníticas, é, geralmente, na forma de cátion trocável, se não estiverem presentes os minerais mencionados anteriormente (SANTOS, 1989). _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 27 2.4.1.8 – Teor de Na2O e K2O na matéria-prima Os álcalis encontrados nas argilas são quase que totalmente devido a feldspatos, micas ou cátions trocáveis. São agentes fundentes e, portanto, indesejáveis para materiais refratários, porém são fundamentais para a vitrificação de porcelanas e outros produtos de cerâmica branca. Geralmente o teor de K2O nas argilas é bem mais elevado que o de Na2O, porque minerais micáceos são mais resistentes ao intemperismo (SANTOS, 1989). 2.4.1.9 – Teor de matéria orgânica na matéria-prima Confere um caráter plástico muito desejável devido ao fato dos ácidos húmicos agirem como colóides protetores hidrofílicos das partículas de mineriais argilosos. A matéria orgânica tem influência sobre a capacidade de troca de cátions, de ordem de 150 a 200meq/100g de argila. A matéria orgânica encontrada nas argilas ocorre na forma de linhito, ceras e derivados do ácido úmico. Sua determinação pode ser feita por três processos: combustão a seco, oxidação com água oxigenada e oxidação com solução de dicromato de potássio (NETO, 2000). _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 28 2.4.2 – Análise térmica As análises térmicas permitem avaliar propriedades de uma substância em função do tempo ou da temperatura. Neste último caso, é feito o aquecimento a uma taxa fixa de variação de temperatura. A definição usualmente aceita para análise térmica, foi originalmente proposta pelo Comitê de Nomenclatura da Confederação Internacional de Análises Térmicas (ICTA), sendo, subseqüentemente, adotada tanto pela União Internacional de Química Pura e Aplicada (IUPAC), quanto pela Sociedade Americana de Testes de Materiais (ASTM). Análise térmica é um termo que abrange um grupo de técnicas nas quais uma propriedade física ou química de uma substância, ou de seus produtos de reação, é monitorada em função do tempo ou temperatura, enquanto a temperatura da amostra, sob uma atmosfera específica, é submetida a uma programação controlada. 2.4.2.1 - Análise térmica gravimétrica (TG) A análise termogravimetrica é utilizada para medir a variação de massa de uma substância, a qual pode resultar de uma transformação física (evaporização, condensação, sublimação) ou química (decomposição, oxidação) em função do tempo ou da temperatura, enquanto esta é submetida a uma programação controlada (CORDI, 2008). A medição é realizada em uma atmosfera definida, geralmente em condições inertes (nitrogênio) ou em um ambiente oxidativo (ar ou possivelmente oxigênio). A massa é medida em uma balança _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 29 eletrônica altamente sensível. Os efeitos de interferência da flutuação e fluxo de gás são compensados por uma correção de curva. Este ensaio pode fornecer valiosas informações sobre amostras geológicas para a indústria de transformação e também no controle de qualidade. Além disso, encontra grande aplicação na área de engenharia de materiais e pesquisa científica de novos materiais. 2.4.2.2 - Análise térmica diferencial (DTA) Na análise térmica diferencial, tanto a amostra a analisar como o material de referência inerte (usualmente alumina-α) sofrem um aquecimento controlado ou um resfriamento programado, que é quase sempre linear em relação ao tempo. Se a amostra e o material de referência não sofrerem qualquer mudança de química ou física, a diferença de temperatura entre eles será nula. Se, no entanto, qualquer reação química ocorrer, a diferença de temperatura ΔT ocorrerá entre a amostra e o material de referência. Assim, numa transformação endotérmica, exemplo: quando a amostra se funde ou é desidratada, a temperatura da amostra fica mais baixa que a do material de referência. Esta condição é apenas transitória porque, quando a reação se completa, a amostra terá novamente uma diferença de temperatura nula em comparação com a temperatura de referência. Tanto a forma como a dimensões dos picos podem dar muita informação acerca da natureza da amostra a analisar. Assim, os picos endotérmicos agudos freqüentemente significam mudanças na cristalinidade ou no processo de fusão, enquanto que endotérmicos largos originam-se de reações de desidratação. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 30 As mudanças físicas resultam usualmente em curvas endotérmica, enquanto que as reações químicas, particularmente, as de natureza oxidativa, são predominantemente exotérmicas (VOGEL, 1981). A análise termogravimétrica (TG) revela as modificações de massa, perda ou ganho, que ocorrem durante o aquecimento controlado de um determinado material em função da temperatura e/ou tempo. Esta técnica possibilita conhecer detalhadamente as alterações que o aquecimento pode provocar na massa das substâncias, permitindo estabelecer a faixa de temperatura em que elas adquirem composição química definida, a temperatura que começa a se decompor, acompanhar o andamento de reações de desidratação, de oxidação, de combustão, de corrosão, etc. 2.4.2.3 - Análise Dilatométrica (AD) Este método analítico fundamenta-se nas variações dimensionais sofridas por um corpo de prova quando aquecido progressivamente à temperatura de aproximadamente 1100ºC. A dilatometria é muito adequada para estudos de materiais cerâmicos argilosos ou de matérias-primas argilosas em particular. As curvas dilatométricas evidenciam variações dimensionais numa amostra que deve ser representativa, variações relacionadas com o coeficiente de dilatação ou com alguns dos fenômenos seguintes : Eliminação de alguns constituintes, podendo originar produtos gasosos ; Reações e transformações cristaloquímicas; Sinterização; Formação duma fase vítrea ou líquida; Creep(escoamento). O estudo dilatométrico permite obter informações sobre as dimensões convenientes que o corpo cerâmico deve possuir inicialmente para proporcionar um produto final com as dimensões desejáveis. Permite ainda determinar a ocorrência provável de fissuras, deformações ou tensões residuais. Permite também efetuar estudos cinéticos de certas transformações, se a temperatura for mantida constante e o registro dilatométrico funcionar em função do tempo(Gomes,1988). _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 31 2.4.3 - Difração de raios X (DRX) A difratometria de raios X é utilizada para o conhecimento de compostos cristalinos naturais ou sintéticos, principalmente para aqueles de granulação fina. Este método baseia-se no fato de que em substâncias cristalinas, os átomos estão ordenados segundo planos bem definidos e com espaçamentos característicos. Como os comprimentos de onda da radiação X são da mesma ordem de tamanho dos raios atômicos que constituem o retículo cristalino, ocorre difração durante a sua interação com o cristal. A lei de Bragg estabelece a relação entre o comprimento de onda (λ) da radiação que está interagindo com o retículo, os ângulos de incidência (θ) da radiação sobre um determinado conjunto de planos paralelos reticulares e a sua distância interplanar (d), conforme Figura 2.3. Para efeitos práticos, tudo pode ser analisado como se o plano cristalino refletisse à radiação. Portanto, nos referimos “às interferências como reflexos”. Figura 2.3 - Difração de raios x por um reticulado cristalino (lei de Bragg) (SANTOS, 1989). _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 32 O n é um número inteiro qualquer e representa o grau de ordem da interferência aditiva que resulta da satisfação da lei de Bragg e que pode ser detectada por algum dispositivo adequado (material fotográfico, cintilômetro, etc). Se a radiação usada não for monocromática, para cada comprimento de onda λx haverá um determinado ângulo Θx no qual ocorre a reflexão para a mesma distância d, ou seja, um mesmo conjunto de planos paralelos gera grande número de reflexos a ângulos diferentes. Assim, para que a análise por difração de raio-x seja possível, utiliza-se radiação monocromática ou que mais se aproxime do monocromatismo. No geral utiliza-se a radiação Kα do cobre, que é constituída por raios Kα1, Kα2 e Kβ. A radiação Kβ é eliminada através do uso do filtro de Ni ou de monocromadores. A radiação Kα2 não é eliminada, mas não causa problema à ângulos de incidência pequenos, pois nestes casos os ângulos de reflexão para Kα1 e Kα2 são praticamente iguais ( Kα1 = 1,540 Aº ; Kα2 = 1,544 Aº, sendo Kα1 duas vezes mais intenso que Kα2). Os ângulos de incidência maiores são ângulos de reflexão para os dois comprimentos de onda diferem, mas reconhece-se imediatamente tratar-se de reflexos do mesmo plano por ocorrerem sempre dois reflexos vizinhos, o primeiro aproximadamente duas vezes maior que o segundo ( GOULART; KWASHIMA, 1995). 2.4.4 - Analise granulométrica (AG) A análise granulométrica pode ser realizada por várias técnicas : a) Peneiramento, onde o tamanho da partícula é definido em função da malha da peneira na qual as partículas são retidas. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 33 b) Sedimentação e Elutriação, são técnicas baseadas na lei de Stokes, a qual relaciona a velocidade terminal de sedimentação(Vs) de partículas esféricas de diâmetro(de) e densidade(ρ) em um fluido de densidade (ρF) e viscosidade (η) na gravidade local (g) pela seguinte equação 2.1. ( ) ηρρ 18/2 Fs gdV −= (Equação 2.1) c) Classificação de partículas por difração a laser: Nos instrumentos baseados na técnica de difração a laser, a luz emitida a partir de um laser hélio-neônio (λ = 0.6318) é expandida e ilumina o campo de partículas como mostra a Figura 2.4. Figura 2.4 - Diagrama esquemático do sistema de classificação de partículas por difração a laser (GABAS et al, 1993) As partículas presentes na célula irão absorver ou dispersar a luz incidente de acordo com o seu tamanho, forma e índice de refração. A luz dispersada é subseqüentemente colimada pelas lentes de um transformador Fourier, e focada sobre um detector no eixo central posicionado a um distância da lente equivalente a distância focal f. O difratômetro _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 34 consiste de um conjunto de 31 (trinta e um) diodos de luz sensíveis semi-circular concêntricas, correspondendo a 31 (trinta e uma) variações de tamanho radialmente arranjados em distâncias crescente S a partir do centro do detector. A luz não difratada é focalizada no detector central. Uma medida registra a média de um grande número de impulso para cada elemento detector. Desse modo um padrão de difração composto desenvolvido a partir de todas as partículas contribuintes é registrado como uma função do ângulo de dispersão Θ, com Θ = S / f quando Θ é pequeno (GABAS et al, 1993). 2.4.5 Análise de microestrutura eletrônica de varredura (MEV) Os avanços da tecnologia moderna exigem materiais cada vez mais diversificado, cujo desenvolvimento depende do conhecimento de sua microestrutura em todos os níveis de detalhes e resolução. Este fato acelerou o avanço da análise instrumental, nesse contexto a partir da década de 30, desenvolveu-se o primeiro Microscópio Eletrônico de Transmissão (MET). Em seguida desenvolveu-se o Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV), que é usado para observação de amostras espessas. Este equipamento oferece um alto poder de resolução (da ordem de 30nm) e uma grande profundidade de foco (cerca de 300 vezes superior ao microscópio ótico) (SEGANTINI, 1996), o que possibilita obtenção de imagens com aparência tridimensional. O MEV também permite obtenção de informações de natureza química em áreas reduzidas, da ordem de micros, quando acoplados a um espectrômetro de dispersão de energia ou de dispersão de comprimento de onda. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 35 Para a construção da imagem, uma área da amostra é varrida ponto a ponto, de modo similar à formação de imagem de televisão, em uma coluna específica, um estreito feixe de elétrons de alta energia é focalizado num ponto da amostra, o que causa emissão de elétrons com grande espalhamento de energia, que são coletados e amplificados para fornecer um sinal elétrico. Este sinal é usado para modular a intensidade de um feixe de elétrons num tubo de raios catódicos (TRC). Para construir a imagem completa o feixe é varrido sobre uma área da superfície da amostra, enquanto o feixe no TRC é varrido sincronicamente num rastro geometricamente similar. A Figura 2.5 ilustra um diagrama com os componentes do Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV). Figura 2.5 - Diagrama com os componentes do microscópio eletrônico de varredura (MEV) _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 36 2.5 - Ensaios e análise das características tecnológicas das cerâmicas Com esses ensaios é possível estabelecer uma previsão quanto ao uso mais específico das massas cerâmicas em estudo, comparado esses valores com os encontrados nas bibliografias estudadas. 2.5.1 – Variação de massa (VM) Esta caracterização revela a variação de massa todo processo de sinterização, durante este processo de são realizadas algumas transformações no produto cerâmico (ABREU, 2001), estas transformações são apresentadas na Tabela 3.7. Tabela 2.7 - Principais transformações realizadas no produto, durante o ciclo de queima do suporte cerâmico. Temperatura Transformação Até 150ºC Eliminação da água livre 150 – 250ºC Eliminação de água ligada. Decomposição de alguns hidratos de ferro. 350 – 650ºC Eliminação da água de constituição 400 – 600ºC Combustão de substâncias orgânicas 573ºC Transformação de quartzo-alfa em quartzo beta 700 – 800ºC Inicio da fusão dos álcalis e óxidos de ferro 800 – 900ºC Decomposição dos carbonatos. Oxidação do carbono 1000ºC Inicio da fusão da massa com CaO e FeO com formação de silicatos Até 1200º Formação da fase vidrado com redução de tamanho e porosidade Fonte: Navarro et al, 2001 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 37 A variação de massa foi calculada a partir da equação 2.2. 100(%) 0 0 ×−= M MMVm F (Equação 2.2) Onde: M0 = Massa inicial Mf = Massa final 2.5.2 - Retração linear (RL) São variações das dimensões lineares do corpo de prova, após submetido à condições específicas de temperatura, as quais serão positivas quando houver retração e negativas se houver expansão. A contração é calculada a partir da equação 2.3: ( ) 100% ×⎟⎟⎠ ⎞ ⎜⎜⎝ ⎛ −= s qs q L LL R (Equação 2.3) Sendo: Rq = Contração de queima _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 38 Ls = Comprimento do corpo de prova após secagem a 110ºC (cm) Lq = Comprimento do corpo de prova após queima (cm) 2.5.3 - Absorção de água (AA) É a percentagem do peso de água absorvida pelo corpo de prova seco ver equação 2.4. ( ) 100% ×⎟⎟⎠ ⎞ ⎜⎜⎝ ⎛ −= s su P PPAA (Equação 2.4) Sendo: AA(%) = Absorção de água Pu = Peso do corpo de prova úmido (g) Ps = Peso do corpo de prova seco. (g) 2.5.4 - Porosidade aparente (PA) É a percentagem do volume de poros aberto do corpo de prova em relação ao seu volume total ver equação 2.5. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 39 ( ) 100% ×⎟⎟⎠ ⎞ ⎜⎜⎝ ⎛ − −= iu su PP PPPA (Equação 2.5) Sendo: PA(%) = Porosidade aparente Pu = Peso do corpo de prova úmido (g) Ps = Peso do corpo de prova seco (g) Pi = Peso do corpo de prova imerso em água (g) 2.5.5 - Massa específica aparente (MEA) Mede a massa por unidade de volume, apresentada pelos corpos de prova, pode ser calculado em função da razão entre a porosidade aparente e a absorção de água ou por expressão matemática do peso seco, peso úmido e peso imerso, como mostra a equação 2.6. ( ) AAPAcmgMEA // 3 = ou ( ) ⎟⎟⎠ ⎞ ⎜⎜⎝ ⎛ −= iu s PP PcmgMEA 3/ (Equação 2.6) _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 40 2.5.6 - Tensão de ruptura á flexão (TRF) É a pressão necessária para causar a ruptura de um corpo de prova, segundo o método proposto por VICAT, pode ser calculada pela equação 2.7. ( ) 22 3/ bhPLcmkgfTR = (Equação 2.7) Sendo: TR = Tensão de ruptura (Kgf/cm2) P = Carga atingida no momento da ruptura (Kgf ) L = Distância entre os apoios do corpo de prova (cm) b= Largura do corpo de prova(cm) h = Altura do corpo de prova. (cm) 2.5.7 – Gresificação Segundo Melo (1998), a aproximadamente 700ºC começam a fundir alguns componentes da argila, e aparece a fase líquida que vai se introduzindo nos interstícios da argila, que se contrai cada vez mais e conseqüentemente diminui a absorção de água (medida indireta da porosidade aberta) ao aumentar a temperatura. Quando a absorção de água é inferior a 3% e contração linear inferior a 8% o processo se estabiliza e o produto cerâmico _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 41 gresifica. Essa gresificação potencia a redução de absorção de água e aumentos de resistência à compressão, densidade, tração e módulo de elasticidade. A partir do ponto de gresificação essas propriedades serão continuamente diminuídas. O estudo de Gresificação consiste em uma análise gráfica do comportamento das propriedades cerâmicas (retração linear, absorção de água, módulo de tensão de ruptura à flexão) variando com a temperatura, esse estudo permite determinar o ponto ótimo de queima, ou seja, aquele ponto onde o material começa a densificar ou gresificar. Com isto pode-se otimizar as propriedades físico-mecânicas do produto final e reduzir seus custos energéticos, no caso de aplicações na industriais (GALDINO E MELO, 1999). 2.6 – Propriedades elétricas dos matérias cerâmicos As principais propriedades elétricas dos materiais cerâmicos que são abordadas neste trabalho farão a Resistividade, a Constante dielétrica e a Rigidez Dielétrica. 2.6.1 - Conceitos básicos de eletricidade • Carga elétrica (Q): Grandeza proveniente dos níveis subatômicos (ELETRON). Tem como unidade de medida o Joule (J). _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 42 • Resistência elétrica (R): É a oposição interna de um material a passagem de carga elétrica. Tem como unidade de medida Ohm (Ω). • Resistividade (ρ): É o coeficiente de resistividade do material e a sua unidade é o Ω.m. • Condutividade (σ): inverso da resistividade. Unidade: siemens/metro (S/m). • Corrente elétrica (I): Quantidade de carga que ultrapassa determinada secção em um dado intervalo de tempo. No SI é medido em ampére (A). • Potencial elétrico (v): Capacidade de um campo elétrico de realizar trabalho. No SI (Sistema Internacional de Unidades) é medido em volt (V). • Potência elétrica (P): Quantidade de energia convertida em um dado intervalo de tempo. No SI é medido em Watt (W). 2.6.2 – Resistência e resistividade elétrica. Os materiais condutores são caracterizados por diversas grandezas, dentre aestas destaca-se: a condutividade ou resistividade elétrica, constante dielétrica, rigidez dielétrica, comportamento mecânico, etc. Estas grandezas são importantes na escolha adequada dos materiais, uma vez que dos mesmos vai depender se estes são capazes de desempenhar as funções que lhe são atribuídas. A escolha do material condutor, isolante ou semi-condutor, mais adequado, nem sempre recai naquele de características elétricas mais vantajosas. Quando uma corrente elétrica é estabelecida em um condutor metálico, um número muito elevado de elétrons livres passa a se deslocar nesse condutor. Nesse movimento, os elétrons colidem entre si e também contra os átomos que constituem o metal. Portanto, os elétrons encontram certa dificuldade para se deslocar, isto é, existe uma resistência à _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 43 passagem da corrente no condutor (BOYLESTAD, 2004). Para medir essa resistência, os cientistas definiram uma grandeza que denominaram resistência elétrica. Os fatores que influenciam no valor de uma resistência: • A resistência de um condutor é tanto maior quanto maior for seu comprimento. • A resistência de um condutor é tanto maior quanto menor for a área de sua seção reta, isto é, quanto mais fino for o condutor. • A resistência de um condutor depende do material de que ele é feito. • A resistência depende da temperatura. 2.6.2.1 - Lei de Ohm A lei de Ohm recebeu esse nome em homenagem ao físico alemão Georg Simon Ohm, que em 1827 aos 38 anos descobriu uma das mais importantes leis relativas a circuitos elétricos. Existem varias formas de enunciar a Lei de Ohm, algumas delas serão citadas a seguir: “A diferença de potencial é obtida pelo produto da resistência elétrica com a corrente que atravessa essa resistência.” ( CREDER, 2007) “Lei de Ohm: A lei de Ohm estabelece que a tensão em um resistor é diretamente proporcional a corrente que flui através dele.” (IRWIN, 2005) “A equação I=E⁄R, é conhecida com Lei de Ohm, esta expressão mostra claramente que, para uma resistência fixa, quanto menor a tensão aplicada aos terminais de um resistor, maior a corrente, e que para uma tensão fixa, quanto maior for a resistência, menor será a corrente. Em outras palavras, a corrente é proporcional a tensão aplicada e inversamente proporcional a resistência.” ( BOYLESTAD, 2004 ). _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 44 Em síntese, A Lei de Ohm correlaciona à resistência, a corrente e a tensão em proporcionalidades matemática, onde a resistência é proporcional a tensão aplicada aos seus terminais e inversamente proporcional a corrente que circula através dele. É representada matematicamente pela equação 2.8: I VR = (Equação 2.8) Onde: R = Resistência elétrica; V = Diferencia de potencial nos terminais do resistor; I = Corrente que atravessa o resistor. Veja na Figura 2.6 o circuito equivalente da Lei de Ohm _______________________________________________________________________________________ Figura 2.6 - Circuito equivalente da Lei de Ohm. Para que haja corrente elétrica é necessário que o circuito tenha, alem do resistor, uma diferença de potencial e um condutor fechando o circuito. Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 45 Existem dois valores de R, muito importantes, que são: R=0 e R= ∞. Em um circuito que tem um único elemento e esse elemento é um resistor, quando o valor desse for zero, o circuito está em curto-circuito, pela equação V(t)= R*I, V(t)=0 apesar da corrente poder assumir qualquer valor; Quando o valor desse resistor for infinito, dizemos que o circuito está aberto. Com base na equação i(t)= V/R, i(t)=0, portanto a corrente é zero independente do valor da tensão através dos terminais abertos. A bibliografia apresenta duas características de resistores, resistores Ôhmicos e não- Ôhmicos, por esta razão a Lei de Ohm não pode ser aplicada integralmente a todos os materiais, uma vez que alguns não têm uma relação linear entre tensão e corrente, ou seja, suas resistências não se mantêm constantes com a variação da tensão aplicada. Esses materiais são também chamados de não-ôhmicos. A Figura 2.7 apresenta três gráficos V x I, sendo o gráfico (a) para um material ôhmico e os gráficos (b) e (c) para materiais não-ôhmicos. (B) (A) (C) Figura 2.7 - Curvas características de resistores: a) Ôhmico, b) Não Ôhmico, c) Não Ôhmico _______________________________________________________________________________________ Como a resistência elétrica é a medida da oposição que os átomos de um material oferecem a passagem da corrente elétrica. Ela depende da natureza do material de suas dimensões e da temperatura. A sua unidade no Sistema Internacional é o ohm (Ω). Para um Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 46 condutor composto por um material homogêneo e de seção transversal constante verifica-se que a resistência elétrica entre dois pontos é diretamente proporcional ao comprimento L e inversamente proporcional à área da seção transversal A, dado pela equação 2.9. A LR ρ= (Equação 2.9) Na equação acima, ρ (ró) é o coeficiente de resistividade (Ω.m), L é o comprimento do condutor (m) e A é a área da secção transversal do material (m2), valores do coeficiente de resistividade de alguns materiais é apresentado na Tabela 2.8, a seguir. Tabela 2.8 - Coeficiente de resistividade de alguns materiais VALORES DO COEFICIÊNTE DE RESISTIVIDADE DE ALGUNS MATERIAIS CLASSIFICAÇÃO MATERIAL ρ (Ω.m) PRATA 1.6 X 10-8 COBRE 1.7 X 10-8 ALUMÍNIO 2.8 X 10-8 TUNGSTÊNIO 5 X 10-8 PLATINA 10.8 X 10-8 METAIS FERRO 12 X 10-8 LATÃO 8 X 10-8 NÍQUEL-CARBONO 110 X 10-8 LIGAS GRAFITE 4000 A 8000 X 10-8 ÁGUA PURA 2.5 X 10-3 VIDRO 1010 A 1013 PORCELANA 3 X 1012 MICA 1013 A 1015 ISOLANTES BORRACHA 1015 A 1016 (SCHIMDT, 1979; VLACK, 1973) _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 47 A resistividade ainda apresenta variações com a temperatura, uma vez que a dilatação e a compressão alteram a mobilidade dos elétrons dentro do material, conforme a equação 2.10. ( )TΔ+∗= αρρ 10 (Equação 2.10) onde, ρ é a resistividade do material a temperatura T, ρ0 é a resistividade do material a temperatura T0, ∆T é a variação da temperatura (T – T0) e α é o coeficiente de temperatura do material. Alguns valores desse coeficiente de temperatura do material são apresentados na tabela 2.9. Tabela 2.9 - Valores de coeficiente de temperatura de alguns materiais VALORES DO COEFICIÊNTE DE TEMPERATURA DE ALGUNS MATERIAIS CLASSIFICAÇÃO MATERIAL α ( 0C-1 ) PRATA 0,0038 ALUMÍNIO 0,0039 PLATINA 0,0039 COBRE 0,0040 METAIS TUNGSTÊNIO 0,00498 NÍQUEL-CROMO 0,00017 LATÃO 0,0015 LIGAS GRAFITE 0.0002 A 0,0008 (SCHIMDT, 1979; RESENDE, 1977) _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 48 2.6.2.2 - Resistores e seus diferentes tipos Resistores são dispositivos que apresentam determinada resistência elétrica entre seus terminais. Em circuitos eletroeletrônicos, resistores são em geral, usados para provocar quedas de tensão entre dois pontos. Ele é representado pelos símbolos apresentados na Figura 2.8. (A) (B) Figura 2.8 – Ilustração de resistores elétricos. (A) Símbolo de resistores em circuitos elétricos; (B) Foto de resistores comerciais Existem seis tipos de resistor: - Resistor de fio: trata-se de um fio condutor de alta resistividade enrolado numa base cilíndrica de porcelana. O comprimento e o diâmetro do fio determinam sua resistência elétrica. Nas extremidades do fio são soldados os dois terminais. Em seguida, é aplicada uma camada de material isolante para evitar a entrada de umidade e poeira, na Figura 2.9 é apresentada sua característica. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 49 Figura 2.9 - Representação das características de um resistor de fio - Resistor de filme de carbono: trata-se de uma base de porcelana sobre a qual é depositada uma fina película de carbono (filme). Nesta película são feitos os sulcos que alteram suas dimensões, alterando sua resistência. Nas extremidades da película são soldados os dois terminais. Em seguida, é depositada uma cada de material isolante para evitar a entrada de poeira e umidade, como ilustrado na Figura 2.10. Figura 2.10 - Representação de um resistor de filme de carbono. - Resistor de filme metálico: tem a mesma estrutura do resistor de carbono, mas, a película é uma liga metálica de níquel-cromo. Desta forma, obtêm-se valores mais precisos de resistências. - Resistor variável ou potenciômetro: é um resistor variável de três terminais, sendo dois ligados as extremidades da resistência, e um ligado a um cursor móvel, que pode deslocar-se sobre o material resistivo. A resistência entre suas extremidades é fixa, porem, entre qualquer extremidade e o terminal ligado ao cursor, a resistência é variável, pois depende da posição _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 50 em que o cursor se encontra, a ilustração deste tipo de resistor pode ser vista na Figura 2.11, a seguir. Figura 2.11 - Representação de um resistor variável - Resistor ajustável ou trimpot: é um resistor que permite que sua resistência seja variada, assim como o potenciômetro, contudo, suas características construtivas e aplicações são diferentes. As aplicações mais comuns dos trimpot`s são os circuitos em que não se deseja mudar constantemente suas resistências como, por exemplo, instrumentos que precisam ser calibrados para funcionarem adequadamente. Uma vez calibrados, não se mexe mais no trimpot. Na Figura 2.12 Pode ser visto a representação do resistor ajustável. Figura 2.12 - Representação de um resistor ajustável 2.6.2.3 - Código de Cores para Resistores Alguns tipos de resistores têm tamanho relativamente pequeno na ordem de algumas unidades de milímetros o que impossibilita a impressão das especificações, no entanto _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 51 possuem de valor de resistência elevado, portanto, foi necessário criar um código de cores para auxiliar em sua, seus valores são codificados através de anéis coloridos, como mostrado na Figura 2.13 e na Tabela 2.10. Figura 2.13 - Representação de código de cores de um resistor. Tabela 2.10 - Valores para cada algarismo de um resistor de acordo com sua respectiva faixa. COR 1a Faixa 2a faixa 3a Faixa 4a Faixa Preto - 0 - - Marrom 1 1 0 - Vermelho 2 2 00 - Laranja 3 3 000 - Amarelo 4 4 0000 - Verde 5 5 00000 - Azul 6 6 000000 - Violeta 7 7 - - Cinza 8 8 - - Branco 9 9 - - Dourado - - 0,1 5% Prateado - - 0,01 10% Fonte: http://www.inf.pucrs.br/~calazans/undergrad/laborg/cod_cores_res.html _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 52 Para resistores de precisão, com cinco cores, o multiplicador irá entrar apos a 3ª faixa, ou seja, o multiplicador irá ser a 4ª faixa, e a tolerância a 5ª faixa. 2.6.2.4 - Aplicação da Lei de Ohm Além da aplicação da Lei de Ohm em análise de circuito de corrente alternada e corrente contínua para o cálculo das resistências, impedâncias, correntes e tensões e para os respectivos dimensionamentos nos projetos, esta Lei também é aplicada em dimensionamento de condutores, disjuntores dentre outros componentes constituintes de projeto de instalações eletroeletrônicas. Uma aplicação de suma importância para laboratórios de pesquisa e análise de materiais com propriedades elétricas é a medição de resistências de valores elevados, Maiores que 1M Ω, para determinar valores de resistência nessa ordem de grandeza é necessário montar o circuito da Figura 2.14. Figura 2.14 - Representação do circuito equivalente para determinar valores elevados de resistência. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 53 Seja X a resistência elevada a medir. Um voltímetro V de resistência interna RV sendo ligado em série com X e aplicando-se ao conjunto a tensão contínua U, pré-determinada pelo mesmo voltímetro, pode-se escrever a equação 2.11, 2.12 e 2.13. ( ) IRXU V ∗+= (Equação 2.11) Mas, VR VI = (Equação 2.12) Onde: V é o valor em volts indicado pelo voltímetro na montagem. Assim, da expressão anterior explicita-se: V VURX V −∗= (Equação 2.13) 2.7 - Capacitores e dielétricos A tecnologia de capacitores cerâmicos compreende uma variedade de produtos baseados em materiais dielétricos e configurações físicas, porém, todos são destinados ao armazenamento de energia elétrica, utilizados em diversas aplicações na indústria eletrônica, incluindo as que se seguem: _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 54 • Descarga de energia armazenada: está é uma das aplicações mais relevantes para um capacitor, envolve a generalização de um pulso de corrente por descarga em um capacitor no circuito. • Bloqueio de corrente direta: uma vez os capacitores carregados, estes possuem elementos de elevada impedância, devido a um bloqueio na corrente direta em algumas posições de um circuito. • Ligação dos componentes do circuito: em um circuito c.a (circuito de corrente alternada), um capacitor carregado e descarregado com polaridade oposta do sinal de absorção, permite a atuação da corrente alternada em cada lado do componente, onde as seções de um circuito podem ser “ligadas”. • Passagem - via um sinal de corrente alternada (c.a.): em razão dos capacitores permitirem a passagem e alternância em barreiras diretas na corrente, o modelo pode ser utilizado em paralelo com o elemento do circuito adicional, permitindo a passagem - via dos elementos fora da porção do sinal c.c (sinal de corrente contínua). • Distinção da freqüência: um sinal de entrada, com uma mistura de freqüências, pode ser separado pelo uso de um capacitor que não responde (devido a seus valores de capacitância) ao sinal de baixa freqüência. Para capacitores em circuitos de c.a., o fluxo de corrente aumenta com a freqüência, isto é, a resistência flui alternando a corrente, que é inversamente proporcional aos valores da capacitância. No modo de menor oposição, a corrente flui para o sinal de freqüência elevada em um espaço de tempo, onde oferece um aumento da oposição na corrente de baixa freqüência. Este modo pode ser usado para discriminar e filtrar a extensão da freqüência desejada. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 55 • Transiente de voltagem e supressão do arco: Os capacitores são utilizados para estabilizar circuitos que mudam, de maneira indesejada, a oscilação do transiente de voltagem e para eliminar curvas de pontos de contatos. O capacitor absorve a energia. 2.7.1 - Características de um capacitor A Constante Dielétrica Relativa, Permissividade relativa ou Constante Dielétrica é uma propriedade física muito importante, pois representa a soma de todos os tipos de polarização atuantes no dielétrico, servindo como uma medida da resposta dos mecanismos de polarização a um campo elétrico (BUCHANAN, 1987). Esta pode ser definida como sendo a relação da quantidade de energia armazenada no dielétrico e a armazenada pelo ar quando este ocupa o mesmo volume, ou seja, a razão da permissividade de um determinado material em relação a permissividade do vácuo, mostrada através da equação 2.14. 0ε ε=K (Equação 2.14) Para esta equação 0ε é a permissividade absoluta do vácuo (constante dielétrica) que vale 8,85x10-12 F/m, ε é a permissividade absoluta do material cerâmico inserido entre duas placas metálicas planas e paralelas e K é a permissividade relativa ou constante dielétrica. A constante dielétrica pode variar com a temperatura, com o tipo de ligação, estrutura do cristal, constituição de fase e defeitos estruturais dos dielétricos (BUCHANAN, 1987)..A _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 56 variação da temperatura afeta os dielétricos cerâmicos que vão desde altos valores positivos do coeficiente de temperatura de capacitância (porcelana), passando por baixos TCC (estealita), até elevados coeficientes negativos do TCC (rutilo). (Singer, 1976). Para o cálculo de K (Constante Dielétrica), bastaria apenas medir o valor da permissividade dielétrica do material (ε), porém na prática é mais fácil determinar a capacitância, que varia proporcionalmente com a permissividade, segundo a fórmula 2.15 para o capacitor de placas planas e paralelas: A LC.=ε (Equação 2.15) Onde C é a capacitância (F), L é a espessura do dielétrico (m), A é a área do material ou a área de contato (m2) e ε é a permissividade do material (pF/m). Por intermédio da equação 2.15, calculamos o valor da constante dielétrica. A constante dielétrica pode ser utilizada para classificar os materiais dielétricos (Singer, 1976). Para a maioria dos dielétricos o valor da permissividade decresce com o aumento da temperatura, porém esta redução é mais significativa para a resistividade (BUCHANAN, 1987). O valor da constante dielétrica depende da natureza da ligação eletrônica e do arranjo atômico do material isolante (KAHN, 1988). K é alto para as cerâmicas. Na Tabela 2.11 são apresentados valores de K para uma lista de dielétricos comuns. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 57 . Tabela 2.11 – Constante dielétrica (K) na temperatura ambiente 250C de alguns materiais. Material K Água,Vácuo 1,000 Ar 1,004 Madeira 1,5 - 4 Teflon 2,1 Âmbar 2,7 Borracha 2,5 - 3 Vidro Sílica (Quartzo Fundido) 3,8 Nylon 4,0 PVC 4,6 Papel 4 - 6 Cloreto de Sódio (NaCl) 5,9 Porcelana 6,5 Mica 4 - 8 Vidro 3,7 - 19 Alumina (Al2O3) 9 Água Destilada 78 - 80 Cerâmica de Baixo K 30 - 95 Dióxido de Titânio (TiO2) 85 - 170 Titanato de Bário (BaTiO3) 1000 - 2000 Cerâmica de Alto K 500 – 12.000 Cerâmicas Formuladas com Características Distintas 20 – 18.000 Fonte: (BUCHANAN, 1987; HALLIDAY, 2009, HAYT, 1983). O modelo básico de um capacitor consiste em uma única placa plana com dois condutores, ou eletrodos, separados por um material dielétrico, como ilustrado na Figura 2.15. O dielétrico deve ser um material puro, sendo esta a propriedade básica que determina o comportamento elétrico do componente. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 58 Figura 2.15 - Placa de um capacitor simples 2.7.2 – Capacitância Uma das principais características que um capacitor possui é a sua habilidade em armazenar carga elétrica (Q), a qual é diretamente proporcional aos valores da capacitância (C) e da voltagem aplicada (V) (Equação 2.16). CVQ = (Equação 2.16) A corrente elétrica I é definida como mostrado na Equação 2.17: _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 59 dT CdV dT dQI == (Equação 2.17) Os valores da capacitância são medidos no Sistema Internacional como Farad, sendo a voltagem que atravessa o capacitor medida em Volt e a corrente em Ampère (Ver a equação 2.18). Farad Volt Coulomb V QC === (Equação 2.18) O Farad é uma importante unidade de medida, não possuindo aplicações práticas. Os Múltiplos do Farad que são comumente usados: • Picofarad (pF) = 10-12 • Nanofarad (nF) = 10-9 • Microfarad (µF) = 10-6 2.7.3- Fatores que afetam a capacitância Na Figura 2.16 está ilustrada a polarização da carga de um capacitor de placas simples quando submetido a uma fonte de tensão de corrente contínua. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 60 Figura 2.16 – Representação da polarização de um capacitor de placas simples Para algumas voltagens características, os valores da capacitância em uma placa simples mostrado na figura anterior, são diretamente proporcionais à geometria e a constante dielétrica do material determinado pela Equação 2.19. )(tf KAC = (Equação 2.19) Onde, k é a constante dielétrica, A é a área do eletrodo, t é a densidade do dielétrico e f é um fator de conversão. No sistema Inglês de unidades, f é igual a 4,452, e usando dimensões em polegadas para A e t, os valores da capacitância é expresso em pico farad. Utilizando o Sistema Métrico, o fator de conversão f é igual a 11,31 e as dimensões estão em centímetros. Como mostra a relação acima, capacitância em função da geometria, um maior valor de capacitância pode ser alcançada através do aumento da área dos eletrodos e uma diminuição da espessura do dielétrico. Como é fisicamente impraticável aumentar a área de uma única placa do dispositivo, o conceito de capacitores conectados em paralelo foi utilizado para _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 61 produzir dispositivos com maior capacitância por unidade de volume, como ilustrado na Figura 2.17. Figura 2.17 - Capacitor de “multicamadas Nas configurações de “multicamadas”, a área A aumenta em razão de muitos eletrodos com arranjo em paralelo, possuindo uma construção que permite dielétricos de espessura mais fina entre eletrodos opostos, tal que a capacitância (C) aumenta por um fator N (número de camadas dielétricas) e a espessura dielétrica (t’) seja reduzida, onde A é a área de superposição dos eletrodos opostos. Os valores de capacitância obtidos para uma placa simples da amostra, podem ser produzidos em um mesmo dielétrico em uma unidade de multicamada, isto mostra que a construção de capacitores de multicamadas pode obter dispositivos com valores de capacitâncias maiores e com volumes 700 vezes menores em comparação aos de uma placa simples da amostra. Capacitores do tipo “chip” são, portanto, designados e fabricados para maximizar o efeito volumétrico da capacitância através da otimização da geometria por seleções de formulações dielétricas com alta constante dielétrica _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 62 e propriedades elétricas satisfatórias. Na Tabela 2.12 estão as principais característica de porcelana para capacitores. Tabela 2.12 - Características médias de porcelanas para capacitores Propriedades Grupo I Grupo II Grupo III Características Gerais Elevada constante dielétrica (K) Elevado coeficiente de temperatura negatívo Baixo coeficiente de temperatura de K. Elevado valor de K Área de utilização Microcapacitores, Capacitores de compensação, para circuitos, bloqueio, trimmer, de alta tensão e de divisor de tensão Capacitor de pequena potência Mine e microcapacitores Constante dielétrica (ε) 50 – 160 12 – 25 1000 – 10000 Resistividade Transversal (Ω x cm) A 100°C (1012 – 1013) A 300°C (109 – 1010) A 100°C (1013 – 5x1013) A 300°C (1010 – 1011) A 100°C (1011) A 300°C (5x107) Rigidez dielétrica média Id (kV/cm) em corrente contínua 100 100 – 150 20 – 100 Peso específico (g/cm3) 3,8 – 4,0 2,9 – 4,0 5 Coeficiente linear de dilatação (1/grau) 7,5x10-6 5x10-6 – 6x10-6 - Resistência à flexão (kgf/cm2) 1000 – 1300 900 – 1200 - Higroscópia (absorção percentual de umidade) Nenhuma Nenhuma - Fonte: (SCHIMDT, 1979) _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 63 2.8 - Dielétricos ou isoladores Dielétricos ou materiais isolantes se caracterizam por oferecerem uma considerável resistência à passagem da corrente, quando comparados aos valores intrínsecos correspondentes dos materiais condutores. Tais comportamentos tão diversos têm seus fundamentos em propriedades físicas dessa família de materiais, propriedades essas que passaremos a analisar. 2.8.1 - Polarização do dielétrico Uma propriedade fundamental de todos os dielétricos é a polarização de suas partículas elementares, quando sujeitas à ação de um campo elétrico. Define-se por polarização um deslocamento reversível dos centros das cargas positivas e negativas na direção do campo elétrico externo aplicado. Por ser reversível, essa direção acompanhada, ou pelo menos tende a acompanhar, a própria orientação do campo elétrico aplicado. Baseados na grandeza da constante dielétrica podem antever o comportamento de um material quanto à sua polarização. O mesmo é valido quanto ao fator de perdas dielétricas, ou simplesmente, fator de perdas, no caso em que a polarização existente em um isolante traz consigo uma elevação de temperatura do mesmo, resultante de um consumo de energia. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 64 Sabendo-se que todos os dielétricos de uso industrial apresentam certo volume reduzido de cargas livres, temos de contar sempre com o aparecimento de uma corrente de dada intensidade, através da seção transversal do isolante, quando ao dielétrico aplicamos uma determinada tensão. O mesmo fenômeno pode ser notado sobre a superfície externa do isolante, o que define duas grandezas isolantes das mais importantes que são, respectivamente, a rigidez dielétrica e a resistência superficial de descarga. Todos os dielétricos possuem um valor limite de solicitação elétrica, valor esse que é característico de cada material sob condições normalizadas pré-especificadas. Sendo ultrapassados esses valores, ocorre uma modificação geralmente irreversível no material, modificação estrutural, etc. Freqüentemente, essa modificação afeta fundamentalmente as propriedades isolantes do dielétrico. 2.8.2 - Constante dielétrica A polarização de um dielétrico pode ocorrer das duas maneiras mostradas a seguinte: se o isolante é constituído de átomos, que não apresentam momento dipolar, então o deslocamento dos núcleos das cargas positivas e negativas sob a ação de campos externos é tanto maior, quanto mais elevada à intensidade do campo que é aplicada a ele, a ação da força desse campo. Uma vez eliminado o campo externo, os átomos voltam à sua posição inicial, à polarização desaparece, pois os centros de cargas voltam à situação inicial. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 65 Se, numa segunda hipótese, o dielétrico for constituído de partículas elementares (elétrons, prótons, etc.), que por si só já são dipolos (por exemplo, moléculas) que, devido à sua constituição química já são dotados de cargas positivas e negativas, a ação do campo elétrico externo tendera a orientação do campo elétrico interno. Quanto mais intenso é o campo, mais elevado é o trabalho de orientação das partículas elementares, observando-se de modo mais acentuado a elevação da temperatura, devido à transformação do trabalho de orientação em calor. Dependendo da estrutura do dielétrico, uma polarização pode acontecer perante total ausência de energia externa. Devido ao aparecimento da polarização, aparecem as assim chamadas cargas visíveis sobre a superfície do dielétrico ou, de modo mais geral, na superfície limitadora entre tais dielétricos como mostrado na Figura 2.18 e pode ser calculado pela equação 2.20. Figura 2.18 – cargas visíveis sobre as superfícies do dielétrico kEj = (Equação 2.20) A suscetibilidade dielétrica k e a constante dielétrica ε podem por sua vez, ser relacionadas sob ponto de vista atômico, com o trabalho de polarização realizado sobre os átomos, E é o campo elétrico e J é o grau de polarização. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 66 2.8.3 - Classificação dos dielétricos segundo o tipo de polarização Num dielétrico real, as misturas de estruturas de matérias-primas levam à presença simultânea de diversas formas de polarização analisadas. Por isso, resulta um circuito equivalente de um isolante. Ao contrario, as demais polarizações (iônica, estrutural e dipolar) depende do tipo de dielétricos que estejam analisando. As características polarizantes permitem classificar, nos diversos grupos expostos a seguir. 1º Grupo→ Reúne os dielétricos onde predomina a polarização eletrônica. Incluem-se neste grupo todos os materiais amorfos e cristalinos sólidos, cujas moléculas apresentam ausência ou fraco momento dipolar (parafina, enxofre, polistirol), bem como os líquidos e gases de igual comportamento (benzol e hidrogênio). 2º Grupo→ A este pertencem dielétricos onde se encontram polarização eletrônica e iônica, como o quartzo, o sal, a mica e o oxido de alumínio. 3º Grupo→ Caracteriza-se por uma polarização eletrônica e de estrutura. Parte dos materiais pertencentes a este grupo ainda apresenta polarização iônica. Como exemplos, podemos citar os dielétricos orgânicos (celulose, resinas sintéticas termofixas), bem como vidro e isolantes cristalinos (porcelana, mica). 4º Grupo→ Apresenta uma composição de polarização eletrônica e dipolar. Como exemplos, o askarel, o óleo de rícino e outros produtos geralmente líquidos ou pastosos. 5º Grupo→ É caracterizado por uma polarização eletrônica combinada à espontânea, forma o grupo dos Dielétricos de Seignette. Ex. o sal de seignette e o metatitanato de bário. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 67 2.8.4 - As propriedades de matérias isolantes Os isolantes são caracterizados por uma série de propriedades, cujos valores numéricos os identificam em termos quantitativos e cuja variação for aspectos qualitativos. Essas propriedades variam o seu valor numérico de acordo com as condições físicas de seu uso (como, por exemplo, variações de temperatura e umidade, tensão elétrica aplicada, etc.). Assim, para sabermos se uma dada condição de serviço influi, e ate que grau, sobre as características do material, é imprescindível comentar de que modo, e em função de que grandezas, as características dos isolantes podem variar (TOPALIS, 2001), a Tabela 2.13 apresenta algumas características de materiais isolantes. Tabela 2.13 - Características de materiais isolantes Material Rigidez Dielétrica (kV/mm) Temperatura Limite (0C) Resistividade Transversal (Ωxcm) Constante Dielétrica ε Densidade g/cm3 Óleo mineral 10 – 14 95 25x1012 2 0,8 – 0,9 Askarel 13 – 16 135 1013 - 1014 5 1,3 – 1,7 Óleo silicone 10 – 30 -60 – 200 7,9x1014 2,1 – 2,8 0,5 – 1,0 Parafina 20 – 25 70 >1016 1,9 – 2,2 0,8 – 0,9 PVC 40 – 50 75 1013 - 1016 3,5 1,3 – 1,5 Polietileno 30 85 1016 - 1017 2,3 – 2,4 0,9 Betume 50 – 100 60 1010 2,7 0,9 – 1,1 Papel para capacitores 35 100 1018 3,7 1,5 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 68 Tabela 2.13 - Características de materiais isolantes (Continuação) Material Rigidez Dielétrica (kV/mm) Temperatura Limite (0C) Resistividade Transversal (Ωxcm) Constante Dielétrica ε Densidade g/cm3 Papel para Cabos 8 – 10 100 1016 3,0 – 3,5 0,8 – 0,9 Vidro e Fibra de Vidro 35 – 50 200 – 250 1011 - 1017 5,0 – 8,0 2,0 – 6,0 Amianto 2 – 30 200 – 250 1011 - 1017 5,0 – 8,0 2,0 – 6,0 Mica 5 – 40 500 – 600 1015 - 1016 6,0 – 7,0 3,0 Flogopita 4 – 40 800 – 1000 1013 - 1014 5,0 – 6,0 3,0 Baquelita 20 150 1012 - 1014 2,5 1,05 Fonte: (SCHIMDT, 1979) 2.8.5 - A constante dielétrica de isoladores sólidos A diversidade estrutural e as variações de matérias-primas neste grupo levam a valores bastante diferentes de ε. Assim, os sólidos podem-se caracterizar por polarizações eletrônicas, iônicas, estruturais ou espontâneas bem definidas. A menor constante dielétrica é encontrada em dielétricos sólidos, constituídos de moléculas não-polares, e que assim apresentam uma polarização eletrônica pura. A temperatura influi sobre o valor de ε, devido à variação com a temperatura e do numero de _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 69 moléculas por unidade de volume. Ver tabela 2.14 valores de K de sólidos isolantes não- polares com t = 20º C. Tabela 2.14 - Valores de (K) dos sólidos isolantes não-polares com t = 20ºC Sólido K Parafina 1,9 – 2,2 Polistirol 2,4 – 2,6 Diamante 5,6 – 5,8 Enxofre 3,6 - 40 Porcelana 4,0 – 5,5 Vidro e Fibra de Vidro 5,0 – 8,0 Fonte: (SCHIMDT, 1979). 2.8.6 - Condutividade elétrica de isolantes Os materiais classificados eletricamente como dielétricos não são isolantes perfeitos; ao contrário, pode-se constatar que apresenta uma reduzida condutividade, a qual, entretanto, é tão pequena que pode ser geralmente desprezada, quando o material é usado dentro dos limites a que se destina. Existem, por outro lado, importantes casos de utilização, onde mesmo assim, é necessário conhecer o valor da sua condutividade, a qual é conseqüentemente não apenas do deslocamento de elétrons, mas também de íons. Assim, um material onde se manifesta uma condutividade iônica, não pode ser exposto continuamente a uma corrente continua, pois a condutividade iônica leva à decomposição eletrolítica do material. A corrente que assim circula através do isolante será designada como corrente transversal. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 70 Ao lado da corrente transversal, aparece uma outra corrente, a chamada corrente de polarização, resultante do deslocamento retardado de cargas, devido à ação da tensão aplicada. Essa corrente tem características reversíveis. Esses fatos são muito importantes quando se analisa a condutividade transversal de isolantes, pois, se o corpo de prova é ligado apenas durante um curto intervalo de tempo, estaremos medindo ambas as correntes, pois o processo de polarização ainda esta em andamento. 2.8.7 - A condutividade elétrica superficial de isolantes sólidos O conceito de condutividade aplicado a uma superfície isolante, obviamente apenas pode ser aplicado a isolantes sólidos; condiciona-se, de imediato, à película que esteja recobrindo a superfície do sólido. Dessa forma, a condutividade superficial é acentuadamente uma função das condições do ambiente em que o isolante se encontra. Entre essas condições, aparece com destaque, a influencia da água, seja a de chuva, de orvalho ou de condensação, que reduz a resistência do isolante, reduzindo, assim, a chamada resistência superficial de descarga. Como conseqüência, os corpos isolantes são freqüentemente projetados com perfis que assegurem uma certa proteção contra deposições dessa natureza, e, alem disso, os ensaios para a determinação da capacidade isolante de certos elementos é feita a seco e sob chuva. A umidade relativa começa a ter uma influencia sensível, quando seu valor ultrapassa os 50%. Alem desse aspecto, a própria natureza do material isolante vai influir. A condutividade será tanto menor quanto menos polar for o isolante. Como a condutividade _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 71 depende da estrutura da camada que fica retida sobre o isolante, camada essa que também depende do acabamento superficial do isolante, podemos concluir que essa condutividade é função única das próprias condições superficiais. Daí o menor quanto mais liso é o acabamento superficial e quanto mais limpa a superfície. Quanto a impurezas que influem sobre o seu valor, a condutividade apresenta comportamento diferente: em isolantes hidrófobos (repelentes de água), as impurezas têm uma influencia bem menor do que nos hidrófilos (absorvem água). 2.8.8 - O fator de perda Ocorrem perdas de energia num isolante, chamadas de perdas dielétricas, devido ao trabalho realizado por um campo externo de certa orientação instantânea, sobre a estrutura do material, com orientação provavelmente diferente, esse consumo de energia se apresenta sob a forma de calor, e aparece tanto em corrente continua, quanto em corrente alternada, pois, em ambos os casos, vai circular uma corrente transversal pelo isolante. Quando do uso da corrente continua, onde não se apresenta uma polarização periódica, a qualidade de um isolante é caracterizada pelo valor da resistência transversal e da resistência superficial. Já no caso da corrente alternada, a caracterização deve levar em consideração mais outros fatores que podem levar a perdas. Além das perdas devidas à circulação de correntes transversais e de consumo de energia no trabalho de polarização, outros agentes redutores das características isolantes, _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 72 como a umidade, presença de carbono e de óxidos (particularmente do oxido de ferro) e outros, levam a aumentar as perdas dielétricas. Além disso, o efeito ionizante de intensos campos elétricos, provenientes da aplicação de tensões elevadas, sobretudo em dielétricos gasosos, ou a aplicação de freqüências elevadas, e conseqüentes trabalho de polarização maior, podem elevar as perdas dielétricas ou o valor da tg δ. 2.8.8.1 - Perdas dielétricas em isolantes sólidos As perdas desse tipo nos sólidos são determinadas de um lado pelo tipo de polarização e, do outro, pelo tipo da estrutura do sólido (cristalino ou amorfo) e do tipo de material sob ponto de vista químico (inorgânico ou orgânico). Isolantes sólidos orgânicos e inorgânicos que apresentam exclusivamente polarização eletrônica, notando-se praticamente ausência de perdas. Eventuais perdas medidas nesses casos resultam de impurezas contidas na matéria. Como exemplo desse grupo de matérias, podemos citar a parafina e o polistirol, que os recomenda para uso em altas- freqüências. Se os isolantes forem inorgânicos, como no caso do quartzo e da mica, onde se observa uma ação combinada de polarização eletrônica e iônica, as perdas ainda continuam baixas, resultantes, sobretudo das correntes que circulam devido à condutividade transversal do material, na Tabela 2.15 pode ser observado a classificação de materiais isolantes cerâmicos, de acordo com suas fases cristalinas. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 73 Tabela 2.15 - Classificação de materiais isolantes cerâmicos de acordo com suas fases cristalinas Nomes Componentes Principais Composição Química Principais características Porcelana de soladores Argila Caulim Quartzo Feldspato 3Al2O3 2SiO2 Pequeno coeficiente linear de dilatação 3Al2O3 2SiO2 Porcelana de Alta Freqüência Argila Caulim Bário BaOAl2O3 . 2SiO2 Pequeno coeficiente linear de dilatação e Baixa perda dielétrica Ultraporcelana Argila Caulim 3Al2O3 2SiO2 Elevada resistência mecânica e baixa perda dielétrica Esteatite Talco Argila Magnesita MgO . SiO2 e 2MgO . SiO2 e 2MgO . 3Al2O3 . 5SiO2 Elevada resistência mecânica, baixa perda dielétrica e pequeno coeficiente linear de dilatação Dióxido de Titânio TiO2 Elevada constante dielétrica e coeficiente de temperatura negatívo Dióxido de Titânio e Calcita Ca TiO3 Elevada constante dielétrica e coeficiente de temperatura negatívo Titanato de zircônio TiO2 . ZrO2 Coeficiente de temperatura praticamente igual a zero Titanato de Bário BaO . 4TiO2 e BaO . 5TiO2 Coeficiente de temperatura praticamente igual a zero Titanatos Titanato de Magnésio MgTiO3 Coeficiente de temperatura positívo próximo de zero Fonte: (SCHIMDT, 1979) _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 74 2.8.9 - Descarga interna – analise da rigidez dielétrica Uma das mais importantes características de um material isolante é sua resistência à passagem interna da corrente, quando ao dielétrico é aplicada uma tensão. A característica de não conduzir corrente, entretanto, tem o seu limite pratico, quando um dado valor critica de tensão é ultrapassado; esse valor de tensão por unidade de espessura é conhecido por rigidez dielétrica e por isso, medido em kV/mm ver Equação 2.21. h UE critd = (Equação 2.21) Onde h é a espessura de material no ponto da ruptura. Quando o campo aplicado não é homogêneo, adota-se para Ed o valor médio, ou, caso as condições de segurança o exijam, o valor menor Ucrit é o valor máximo de tensão permitido. Tal como na analise das demais características isolantes, também a rigidez dielétrica de uma matéria-prima depende de como se dá a ruptura dos gases. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 75 2.8.10 - Ruptura dielétrica dos sólidos Os isolantes sólidos estão sempre presentes na baixa, média e alta tensão, seja como suporte mecânico ou mesmo na separação dos condutores, porém, mesmo com o fato de que foram formuladas várias teorias no século passado tentando explicar o rompimento dos isoladores sólidos, essa teoria ainda se encontra bastante crua e não conclusiva. Isso porque, esses isoladores sofrem a ação de correntes que, ao contrário dos gases, vêm de várias fontes de polarização, iônica, eletrônica e por movimento de dipolos, que é muito lenta, e, essas correntes não apresentam diferenças do ponto de vista de medição, dificultando o estudo de cada tipo separadamente. Nas baixas temperaturas, se aceita que na maioria dos sólidos, a condução se dá de acordo com a Equação 2.22. kT u AS −=σ (Equação 2.22) Onde “A” e “u” são constantes empíricas. A temperatura é um fator relevante, quando nos referimos à isolação nas cerâmicas, principalmente nos vidros, que provavelmente são de origem eletrônica ou iônica. Acredita-se que a condução dá-se pelo fato que há injeção de elétrons na banda proibida dos átomos do isolante, através dos portadores nos eletrodos ou do próprio acúmulo de elétrons proveniente _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 76 da polarização, sendo ejetados pelo “efeito de emissão Schottky”, permitindo assim, a condução através do isolador sólido. Se o material for homogêneo e as condições de temperatura forem rigorosamente controladas, são observadas tensões elétricas muito elevadas que surgem com tensões abaixo do limite de isolamento do isolante e têm duração na ordem de 10 - 8 segundos, só são dependente da tensão aplicada e da temperatura e são conhecidas como forças elétricas intrínsecas. Isso é explicado, supondo que o stress que uma região determinada do dielétrico é muito maior que nas outras, de acordo com a Figura 2.19. Figura 2.19 – Mecanismos de falhas nos sólidos Essas tensões causam descargas e danificam o isolamento, sendo conhecidas como rompimento intrínseco. As descargas por avalanche seguem um processo similar as descargas por avalanche nos gases, isto é, um elétron ou íon livre ganha energia através da ação do campo elétrico e perde energia na colisão com elétrons dos demais átomos, se a energia absorvida for maior que a perdida nas colisões, e a energia das colisões for suficiente para _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 77 retirar elétrons das bandas adjacentes de seus átomos, este processo pode desencadear uma avalanche. O rompimento mecânico é característico daqueles sólidos que podem se deformar significantemente, de forma a alterar sua configuração mecânica, sem que haja uma fratura. Isso acontece provavelmente à pressão mecânica exercida sobre o isolante pode ser muito alta, devido a atração dos eletrodos. Segundo (STARK et al, 2004), a espessura inicial, chamada módulo de Young “Y”, decresce para um valor igual a “d” (m) quando uma tensão de módulo igual a “V” é aplicada, de acordo com a Equação 2.23. ][ln2 20 0 22 V d dYdV rεε= (Equação 2.23) Onde o primeiro quociente representa as permissividades do ar e relativa respectivamente, “d0” é a espessura inicial de um espécime de material Young, que decresce a uma espessura “d” depois da descarga. Quando um isolante é percorrido por correntes de fuga, devido à polarização, o calor está sendo gerado continuamente no isolante, a condutividade (Sσ) normalmente aumenta com o aumento de temperatura, podendo ocasionar descargas térmicas (STARK et al, 1995). Estas descargas são representadas por uma certa instabilidade, ou seja, há uma tendência de desencadear cada vez mais elétrons, pois a condução de um elétron aumenta um pouco mais a temperatura formando uma reação em cadeia. A teoria das descargas elétricas é explicada sob a teoria de condutividade calorífica dos materiais, a capacidade de dissipação e o sistema de refrigeração de tais sistemas. Quando um dielétrico sólido tem uma falha, como, por exemplo, uma bolha de ar em sua construção, há uma tendência de que sobre essa bolha a intensidade de campo seja ainda maior que no _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 78 dielétrico em si, sendo uma fonte bastante grande de descargas, conhecidas por descargas por erosão. 2.8.10.1 - Ruptura elétrica A teoria mais atual sobre o assunto baseia-se na física quântica e no mecanismo eletrônico da ruptura, partindo da condutividade elétrica de um isolante perante elevadas intensidade de campo. Com o auxilio dessa moderna física, é possível prever, com boa aproximação, a intensidade de campo que vai motivar a ruptura. Entretanto, diversos detalhes e comportamentos paralelos, durante a ruptura, permanecem sem uma explicação aceitável. A analise experimental da ruptura elétrica de corpos sólidos permitia concluir, que a grandeza da intensidade de campo na ruptura depende acentuadamente da estrutura molecular do corpo de prova, da configuração do campo aplicado e do tipo de tensão de ensaio. A tensão de ruptura é influenciada acentuadamente por estruturas porosas e fibrosas de matérias, como se observa nos mármores, papeis e outros, aproximando-se bastante seu valor de rigidez dielétrica do valor do ar. Por essa razão, tais materiais porosos e fibrosos, são geralmente empregados dieletricamente com uma adequada impregnação, usando-se para tanto, óleos e vernizes isolantes, ver Tabela 2.16, a seguir. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 79 Tabela 2.16 - Rigidez dielétrica de alguns materiais Material Rigides dielétrica em campo homogêneo f = 60 Hz, Ed(kv/cm) Particularidades Vidro 1000 – 3000 Sal 1000 - 1500 Papel impregnado 1000 - 3000 Mica 2000 - 3000 Polistirol, triacetato de celulose (em filme) 900 – 1200 Material isolante de elevado peso específico e homogêneo, bem como laminado, quando o campo é dirigido perpendicularmente às camadas laminadas. Cerâmica 100 – 300 Resina sintética (fenólica, etc.) 100 - 150 Composto de mica. 100 - 150 Isolantes de estrutura heterogênea, poros fechados ou canais capilares interligados Mármore 40 – 50 Madeira 40 - 60 Papel sem impregnação 70 - 100 Cerâmica térmica 15 - 25 Isolantes porosos, com poros abertos. Fonte: (GOMES, 1993; BUCHANAN, 1987; SINGER, 1976, HAYT, 1983) 2.8.10.2 - Ruptura térmica dos isolantes sólidos Um dielétrico sob a ação de um campo elétrico orientado absorve certa energia tendente a orientar as partes estruturais com determinada polaridade própria. Essa energia se transforma em calor, podendo elevar acentuadamente a temperatura do dielétrico. Tende-se, _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 80 assim, a uma destruição térmica do isolante, dando origem a fissuras, amolecimento, carbonização e outras modificações da matéria-prima, que por representarem modificações estruturais, têm como conseqüência a perda de certas propriedades, entre as quais o seu poder de isolação. Ocorre, assim, a chamada ruptura térmica. Simultaneamente, durante o processo de destruição térmica, elevam-se sua condutividade e seu fator de perdas, ambos os fatores que vão levar à nova elevação de temperatura e à ampliação da destruição já em andamento (SUNDARARAJAN ET AL, 1995). 2.8.11 - O Comportamento higroscópico Apesar de numerosos dielétricos pouco ou aparentemente, nada sofrerem com a presença da água ou da umidade, não é exagerado dizer que todos os isolantes apresentam certo grau de higroscopia. O conhecimento exato do grau de absorção de água é de extrema importância, uma vez que daí resultará uma sensível perda das propriedades isolantes do material, a menos que sejam tomadas certas precauções visando sua eliminação e a proteção posterior do isolante através de impregnação ou cobertura apropriada. Essa é a razão também, porque um dos ensaios de isolantes mais importantes se ocupa com esse problema. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 81 2.8.11.1 Absorção de água do isolador em uso Em numerosos casos práticos, um isolante não é apenas exposto à umidade do ar ou a vapores de água, mas é instalado diretamente na água. Esse é o caso da maioria dos isolantes sem abrigo ou em baixo da água. Identicamente ao caso anterior, a absorção de umidade é determinada pesando-se o corpo, quando este está seco (G1), pesando-o novamente, após uma suficiente exposição à água (G2), estando à água a 20ºC, resultando, ver Equação 2.24. 100×−= Ps PsPuAA (Equação 2.24) 2.8.12. - Porcelana eletrotécnica Como a porcelana eletrotécnica é destinada à fabricação de isoladores de baixa, média e alta-tensão para redes elétricas, dispositivos de comando, bucha de isolamento de transformador, capacitores de potência, vela de ignição, receptáculos de lâmpadas incandescentes e fluorescentes e etc., deve-se apresentar comportamento elétrico e mecânico adequado (RESENDE, 1977). Talvez um dos grandes concorrentes da porcelana de isoladores utilizada em subestações e sistemas de transmissão e distribuição aérea, é os isoladores com borracha de silicone. Os isoladores de silicone levam vantagem porque são de fácil instalação, pesam até 75% menos do que os de porcelana, o que faz da instalação mais fácil, _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 82 especialmente em aplicações aéreas, onde a redução de peso é importante. Também pode ser usada como cerâmica de capacitores onde se distingue pela elevada constante dielétrica, aplicando-se em capacitores de baixa e alta-tensão. Não são solicitados por esforços mecânicos elevados. Pode ser utilizada também como cerâmica porosa, onde desempenha o papel de materiais próprios para receber fios resistivos destinados à fabricação de resistores de fornos elétricos e de câmaras de extinção. Outra utilização muito comum da porcelana é em soquetes para lâmpadas. Ela leva vantagem sobre o soquete de polímero, pois tem uma estabilidade térmica maior e é mais resistente à ação do tempo, na Tabela 2.17 a seguir, pode ser visto as mais relevantes características de porcelanas eletrotécnicas. Um isolador elétrico é caracterizado por possuir elevada resistividade elétrica, elevada rigidez dielétrica e baixa constante dielétrica. A elevada resistividade elétrica previne a passagem de corrente elétrica através do isolador; a rigidez dielétrica, definida como a máxima diferença de potencial que o dielétrico suporta sem que ocorra uma descarga elétrica, deve ser elevada para evitar o colapso catastrófico do isolador em alta voltagem; a baixa constante dielétrica evita polarização de modo a não ocorrer armazenamento localizado de cargas no isolante. Valores típicos das propriedades dielétricas para que um material possa ser considerado um bom isolador elétrico é apresentado na tabela 2.18. Na tabela 2.19 está apresentado os números do setor de Isoladores Elétricos de Porcelana no Brasil referente a 2003. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 83 Tabela 2.17 - Características de porcelanas eletrotécnicas Propriedades Porcelana para isoladores Porcelana de alta freqüência Óxido de alumínio Ultra- porcelana Esteatita Esteatita de alta freqüência Características Gerais Elevada resistência mecânica Baixa perda dielétrica Pequeno Tg δ, eleveda resistência mecânica Pequeno Tg δ, eleveda resistência mecânica Eleveda resistência mecânica Pequeno Tg δ, eleveda resistência mecânica Ângulo de perdas (δ) A 200C (30 – 35) A 1000C (90 – 110) A 200C (10 – 12) A 1000C (15 – 20) A 200C (0,5 – 1,5) A 1000C (1 – 2) A 200C (2 – 3) A 1000C (3 – 5) A 200C (7 – 8) A 1000C (10 – 12) A 200C (1,5 – 2) A 1000C (2 – 3) Constante Dielétrica (ε) 4,0 – 5,5 6,0 – 6,5 10 – 11 7 -8 6 – 6,5 6 – 6,5 Resistividade Transversal (Ω x cm) A 1000C (1011) A 3000C (5x106) A 1000C (5x1013) A 3000C (5x109) A 1000C (1015) A 3000C (1012) A 1000C (5x1013) A 3000C (5x1011) A 1000C (5x1013) A 3000C (5x109) A 1000C (5x1014) A 3000C (5x1012) Rigidez dielétrica média a 60 Hz (kV/cm) 100 – 200 150 – 200 150 – 200 150 – 200 200 – 250 200 – 250 Peso expecífico (g/cm3) 2,4 2,6 3,8 3,0 2,7 2,8 Característica mecânica (kg/cm2) Flexão (450–650) Flexão (500–700) Flexão (2000– 3000) Flexão (1500–2000) Flexão (900–1200) Flexão (1200–1600) Hidroscópia (absorção %) Nenhuma 0 Nenhuma 0 Nenhuma 0 Nenhuma 0 Nenhuma 0 Nenhuma 0 Coeficiente linear de dilatação (l/grau) 4,5 x 10-6 3,8 x 10-6 6,0 x 10-6 4,5 x 10-6 7,0 x 10-6 8,0 x 10-6 Condutividade térmica (W/cm x oC) 0,0015 0,0015 0,015 0,005 0,002 0,002 Fonte: (SCHIMDT, 1979) _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Revisão Bibliográfica_____________________________________________________________________ 84 Tabela 2.18 – Valores típicos para um bom isolador elétrico Constante dielétrica (k) ≤ 30 Resistência elétrica (Ω) ≥ 1014 (Ωm) Rigidez dielétrica ≥ 5,0 kV/mm Fonte: (Janssen, 2005) Tabela 2.19 - Números do setor de Isoladores Elétricos de Porcelana no Brasil referente a 2003. ISOLADORES ELÉTRICOS DE PORCELANA Número de Empresas 6 Número de Fábricas 9 Capacidade Instalada (t/ano) 44.000 Produção (t/ano) 28.000 Faturamento (US$ milhões) 39 Exportação (US$ milhões) 13 Importação (US$ milhões) 1,2 Empregos Diretos 1.700 Fonte: Dados levantados pela Associação Brasileira de Cerâmica referente a 2003 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Capítulo 3 Metodologia Experimental Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 85 3.0. - MATERIAIS E MÉTODOS 3.1 - Metodologia Neste capítulo são apresentados a metodologia, os equipamentos e os materiais utilizados para o desenvolvimento deste trabalho. O estudo foi realizado de acordo com o descrito na Figura 3.1. Obtenção da matéria Prima: Argila, Caulim, Feldspato e Quartzo. Processamento da Matéria Prima: Secagem, Moagem e Peneiramento. Caracterização: Granulométrica, DRX, TG, DTA, Fluorescência de raios X e MEV. Mistura e Homogeneização Preparação dos Corpos de prova: Compactação (50MPa) e Secagem 0 Sinterização: Forno Resistivo (1150, 1200, 1250, 1300, 1350 0C) Caracterização Física: Fluorescência de raios X, Difração de raios X, Análise Microestrutural. Caracterização Mecânica: Absorção de Água, Porosidade Aparente, Densidade Aparente, Variação de Massa, Contração Linear, Curva de Greisificação, Ensaio de Flexão em Três Pontos, TMA. Caracterização elétrica: Resistividade Transversal, Constante Dielétrica e Rigidez Dielétrica. Figura 3.1- Fluxograma da metodologia experimental usada. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 86 3.2 - Matérias-primas Para formulação das massas a serem estudadas neste trabalho foram utilizadas as seguintes matérias-primas: argila plástica, caulim, feldspato e quartzo, todas provenientes de indústrias ou jazidas localizadas no Estado do Rio Grande do Norte. Como ilustrado no mapa da Figura 3.2 a seguir. Figura 3.2 – Mapa do rio Grande do Norte com as indicações das localização das materiais primas. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 87 3.2.1 - Moagem a seco As matérias-primas secas e trituradas foram moídas em moinho de bola de laboratório com capacidade de 5 litros durante 3 horas. A carga utilizada foi de esfera de alumina e consistia de 10% de bolas grandes (38mm), 30% de bolas médias (29mm) e 60% de bolas pequenas (19mm) 3.2.2 - Argila Foi coletada uma argila proveniente da indústria cerâmica do município de São Gonçalo do Amarante/RN, usada para fabricação de tijolos para alvenaria associada. Esta argila é originária de material intemperizado, transportado pelo Rio Potengi e sedimentado em bacias de inundação nos períodos de enchentes do rio. A argila foi coletada em forma de torrões e submetida a um processo de secagem ao ar livre, seguido de desagregação mecânica em um moinho de bolas, submetido ao processo de secagem em estufa a uma temperatura de 110ºC por 24 horas e em seguida submetido a peneiramento até a fração passante de 200 mesh. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 88 3.2.3 - Pegmatitos (caulim, feldspato e quartzo) Os pegmatitos foram selecionados na região do seridó e Alto-Oeste do estado do Rio Grande do Norte. Estes foram selecionados tendo como enfoque a utilização de corpos pegmatíticos do tipo homogêneos. Para todos os pegmatitos foram realizados ensaios de fluorescência de raios X, difratometria de raios X, análise granulométrica e Microscopia eletrônica de varredura. Os materiais coletados apresentavam-se em forma de rochas, os quais foram primeiramente secados em estufa à 110ºC durante duas horas e logo após o resfriamento em um recipiente hermeticamente fechado, foram triturados em moinho de bolas e em seguida, submetidos à secagem em estufa a uma temperatura de 110º C durante 24 horas. Após a secagem, o material foi novamente colocado em um recipiente hermeticamente fechado à temperatura ambiente e submetido a peneiramento até a fração passante de 200 mesh. 3.3 - Caracterização das matérias-primas As matérias-primas utilizadas neste trabalho foram submetidas à caracterização por análise química (EDX), difração de raios X (DRX), análise granulométrica (AG), análise térmica diferencial (DTA), análise termogravimétrica (TG) e Análise Micro-eletrônica de Varredura (MEV). _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 89 3.3.1 - Análise química Em função da fluorescência de raios X ser uma técnica instrumental muito reproduzível, rápida e precisa, esta análise passou a ser o método mais usual para a determinação química da composição de materiais cerâmicos (BARBA, 1997). A composição química das matérias-primas estudadas neste trabalho foi obtida por fluorescência de raios por energia dispersiva de raios X (EDX), utilizando-se um espectrômetro modelo EDX-700 da SHIMADZU do laboratório de materiais do centro de tecnologia do gás da petrobrás (CTGÁS) no Estado do Rio Grande do Norte. As matérias- primas foram peneiradas a 200 mesh e prensadas sob forma de pastilhas a 20 MPa e ensaiadas sob atmosfera de hélio. Os resultados foram obtidos em forma de percentuais de óxidos mais estáveis dos elementos químicos presentes. A perda ao fogo foi obtida através da medida da perda de massa entre 110 °C e 1000 °C durante o ensaio de termogravimetria. 3.3.2 - Difração de raios X Segundo Abreu (2000), a composição mineralógica é de grande importância no entendimento das propriedades tecnológicas de produtos cerâmicos, bem como na otimização do ciclo de queima para a produção de materiais de qualidade e com processamento adequado. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 90 Para a identificação da estrutura cristalina, as amostras moídas, passadas em peneira nº 200 ABTN, foram submetidas ao método do pó, utilizando um Difratômetro XRD-6000 da SHIMADZU. Os experimentos de difração de raios X foram realizados utilizando-se radiação Cu-Kα, com tensão acelerada 40 KV e corrente de 40 mA, com varredura de 3º a 80º para 2θ, com velocidade de varredura de 2°/min. 3.3.3 - Microscopia eletrônica de varredura Para análise da morfologia dos cristais presentes nas matérias-primas iniciais, foi utilizada a Microscopia eletrônica de varredura modelo SSX550 Superscan da marca Shimadzu, através do Microscópio existente no Laboratório de Ensaios de Materiais do CTGÁS. Para isso, as pequenas frações do pó das amostras foram impregnadas em um porta- amostra de alumínio através de uma fita de carbono e em seguida metalizada em ouro, a fim de torná-las condutoras. Foram analisadas através de elétrons secundários com tensão de 28,9 kV e corrente de 2,6 mA. A composição elementar dos cristais individuais foi obtida através da microssonda EDS acoplada ao MEV. 3.3.4 - Análise térmica das matérias-primas O comportamento térmico das matérias-primas foi estudado através das técnicas de análise termodiferencial (DTA) e análise termogravimétrica (TG). _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 91 3.3.4.1 - Análise termogravimétrica e termodiferencial Análise termogravimétrica (TG) e térmica diferencial (DTA) foram realizadas nas composições estudadas. As análises foram efetuadas simultaneamente em um equipamento modelo 60H da Shimadzu em atmosfera de ar sintético no laboratório de materiais do Centro de Tecnologia do Gás. Ambas as análises foram realizadas até a temperatura de 1350ºC com uma taxa de aquecimento de 10ºC/min. Estas análises têm o objetivo de investigar o comportamento de variação de massa deste material em função do aumento da temperatura, como também identificar a natureza das reações que podem acontecer no processo de sinterização. Os ensaios termo gravimétricos foram realizados com aproximadamente 30 mg de amostra em um cadinho de Platina de 0,30mL de capacidade. As amostras foram aquecidas de 27oC e 1350oC, à taxa de 10oC/min., e resfriado naturalmente. Já os ensaios termodiferenciais foram realizados com aproximadamente 25 mg de amostra em um cadinho de Al2O3 de 0,30mL de capacidade, com uma quantidade de platina calcinado aproximadamente igual ao de referência. As amostras foram aquecidas de 27oC e 1350oC, à taxa de 10oC/min., e resfriado naturalmente. 3.3.4.2 - Análise dilatométrica (TMA) A análise dilatométrica fundamenta-se nas variações dimensionais sofridas por um corpo de prova quando aquecido progressivamente. É muito importante para estudos de materiais cerâmicos argilosos ou matérias-primas. As curvas dilatométricas evidenciam _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 92 variações dimensionais em uma amostra e constituem uma base fundamental para a definição das temperaturas de queima dos materiais cerâmicos. As curvas dilatométricas evidenciam variações dimensionais numa amostra que deve ser representativa, variações relacionadas com o coeficiente de dilatação ou com alguns dos fenômenos seguintes: eliminação de alguns constituintes podendo originar produtos gasosos; reações e transformações cristaloquímicas; sinterização; formação de uma fase vítrea ou líquida; Creep (escoamento). O estudo dilatométrico permite obter informações sobre as dimensões convenientes que o corpo cerâmico deve possuir inicialmente para proporcionar um produto final com as dimensões desejáveis. Permite ainda determinar a ocorrência provável de fissuras, deformações ou tensões residuais. Permite também efetuar estudos cinéticos de certas transformações se a temperatura for mantida constante e o registro dilatométrico funcionar em função do tempo (GOMES, 1988). A análise dilatométrica foi realizada em corpos de prova cilíndricos crus de 10 x 10 mm, compactados em prensa de laboratório, com massa de pó de 2,0 gramas, na pressão de 50 MPa e umidade de 10%. Os ensaios foram realizados em um analisador termomecânico (TMA-50) fabricado pela SHIMADZU. As amostras foram aquecidas a uma taxa de aquecimento de 10oC/min até a temperatura de 1250ºC, utilizando uma atmosfera de Ar Sintético a uma vazão de 50ml/min. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 93 3.3.5 - Análise granulométrica (AG) Para realização da análise da distribuição granulométrica, as matérias-primas moídas em moinho de porcelana e bolas de alumina, peneiradas em peneira ABNT 200 mesh e em seguida analisadas utilizando-se um Granulômetro a Laser modelo 920L do fabricante CILAS, existente no Laboratório de Cerâmica e Metais Especiais da Universidade Federal do Rio Grande do Norte. O resultado da análise foi fornecido pelo software The Particle Expert. O equipamento fornece os diâmetros correspondentes das partículas do fluxo retido nas frações de interesse (por exemplo, 10 %, 30 %, 50 %, 70 % e 90 %), como também o diâmetro médio (DM) e as curvas de distribuição granulométrica das partículas. 3.4 - Preparação das massas cerâmicas Esta etapa do processo foi realizada tomando como base alguns parâmetros como, por exemplo: quantidade de cada matéria prima após o peneiramento, quantidades que seriam usadas nas caracterizações e quanto de material seria usado na obtenção dos corpos de provas. Depois que foram determinados estes quantitativos, foi definido quanto de cada constituinte seria colocado para compor a massa cerâmica de acordo com a Tabela 3.1. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 94 Tabela 3.1 – Composições de massa cerâmica para obtenção de porcelana técnica. Componentes Feldspato Quartzo Caulim Argila Composição A (%) 32 20 28 20 Composição A (g) 640 400 560 400 Composição B (%) 33 21 31 15 Composição B (g) 660 420 620 300 Fonte: (SANTOS, 1989; CHINALETTO et al, 2004; SOUZA et al, 2004; SCHIMDT, 1979). 3.4.1 – Misturas e homogeneização Mistura é uma operação na qual se procura misturar pós de diferentes espécies químicas para formação de ligas, e homogeneização é a operação de uniformização da mistura (GOMES, 1993), Na preparação das misturas, depois de definido as quantidades das matérias primas, este material foi colocado em um moinho de paredes e bolas de alumina, diâmetro de 19 mm, por três horas. 3.5 - Preparação dos corpos de prova Na escolha do corpo de prova, os seguintes fatores são considerados: forma, maneira de moldar, dimensões, reprodutibilidade, perfeição das arestas e manuseabilidade (SANTOS, 1989). Para definir qual a forma e quanto de material seria usado para a produção dos corpos de prova, foram feitos alguns experimentos, onde variei a forma da matriz (todas de aço), a _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 95 pressão aplicada e o teor de água. Obtendo um compactado do pó com boa resistência mecânica para o manuseio e com forma adequada às caracterizações para a análise de rigidez dielétricas, o número de amostras e codificação foi definido a partir das varias temperaturas de sinterização, tempo de isoterma e composição da mistura. Foram definidos cinco patamares de temperatura, a partir de dados obtidos na revisão bibliográfica observei que a faixa de temperatura normalmente usada nos trabalhos publicados é entre 1150 e 1350ºC, a partir de então resolvi que para o processo de sinterização usar as seguintes temperaturas (1150, 1200, 1250, 1300 e 1350oC), que foram representados respectivamente por (T1, T2, T3, T4 e T5), quatro isotermas (0,5; 1,0; 1,5 e 2,0 horas) representados respectivamente por (P1, P2, P3 e P4), e as composições (A e B). Para cada variação foram feitas duas amostras, por exemplo: A1, A2, B1 e B2. As composições estão apresentadas na Tabela 3.1, e na Tabela 3.2 está definido os corpos de provas que foram produzidos e a codificação de cada um eles. Tabela 3.2 – Definição e codificação dos corpos de prova Amostras Nomenclatura Pesagem para compactação (gramas) Pesagem após compactação (gramas) 1 A1T1P1 12,0655 10,9050 2 A2T1P1 12,0223 10,8583 3 A1T1P2 12,0228 11,0364 4 A2T1P2 12,0218 11,0193 5 A1T1P3 12,0067 10,8477 6 A2T1P3 12,0871 11,3014 7 A1T1P4 12,0144 11,3648 8 A2T1P4 12,0201 11,3704 9 A1T2P1 12,0027 11,4415 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 96 Tabela 3.2 – Definição e codificação dos corpos de prova (Continuação) Amostras Nomenclatura Pesagem para compactação (gramas) Pesagem após compactação (gramas) 10 A2T2P1 12,0376 11,4021 11 A1T2P2 12,0230 10,7835 12 A2T2P2 12,0833 11,1035 13 A1T2P3 12,0024 10,8820 14 A2T2P3 12,0118 10,7263 15 A1T2P4 12,0159 11,4195 16 A2T2P4 12,0865 11,1074 17 A1T3P1 12,0849 10,7260 18 A2T3P1 12,0072 11,0146 19 A1T3P2 12,0346 11,0780 20 A2T3P2 112,0087 10,8862 21 A1T3P3 12,0105 10,8881 22 A2T3P3 12,0421 10,8758 23 A1T3P4 12,0011 10,7953 24 A2T3P4 12,0962 10,9655 25 A1T4P1 12,0148 10,8965 26 A2T4P1 12,0693 11,1232 27 A1T4P2 12,0487 10,9237 28 A2T4P2 12,0520 10,9301 29 A1T4P3 12,0040 10,8677 30 A2T4P3 12,0062 10,8650 31 A1T4P4 12,0360 10,8657 32 A2T4P4 12,0537 10,9288 33 A1T5P1 12,0712 10,8955 34 A2T5P1 12,0131 10,8842 35 A1T5P2 12,0277 10,8802 36 A2T5P2 12,0318 10,8840 37 A1T5P3 12,0774 10,9867 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 97 Tabela 3.2 – Definição e codificação dos corpos de prova (Continuação) Amostras Nomenclatura Pesagem para compactação (gramas) Pesagem após compactação (gramas) 38 A2T5P3 12,0444 10,9325 39 A1T5P4 12,0113 10,4166 40 A2T5P4 12,0051 10,8946 41 BB1T1P1 12,0040 11,0503 42 BB2T1P1 12,0390 11,0993 43 BB1T1P2 12,0229 11,1036 44 BB2T1P2 12,0761 11,1313 45 BB1T1P3 12,0464 11,0727 46 BB2T1P3 12,0549 11,1269 47 BB1T1P4 12,0166 11,0740 48 BB2T1P4 12,0006 11,1124 49 BB1T2P1 12,0381 11,2255 50 BB2T2P1 12,0035 11,0340 51 BB1T2P2 12,0657 11,1743 52 BB2T2P2 12,0588 11,2072 53 BB1T2P3 12,0573 11,2307 54 BB2T2P3 12,0667 11,1684 55 BB1T2P4 12,0827 11,1298 56 BB2T2P4 12,0908 11,1822 57 BB1T3P1 12,0906 11,4777 58 BB2T3P1 12,0495 11,1983 59 BB1T3P2 12,0946 11,2515 60 BB2T3P2 12,0886 11,1855 61 BB1T3P3 12,0035 11,2206 62 BB2T3P3 12,0232 11,0564 63 BB1T3P4 12,0804 11,1330 64 BB2T3P4 12,0653 11,2566 65 BB1T4P1 12,0101 11,0130 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 98 Tabela 3.2 – Definição e codificação dos corpos de prova (Continuação) Amostras Nomenclatura Pesagem para compactação (gramas) Pesagem após compactação (gramas) 66 BB2T4P1 12,0802 11,1303 67 BB1T4P2 12,0153 11,0457 68 BB2T4P2 12,0656 11,0641 69 BB1T4P3 12,0123 11,1650 70 BB2T4P3 12,0888 11,1195 71 BB1T4P4 12,0701 11,1793 72 BB2T4P4 12,0441 11,2044 73 BB1T5P1 12,0013 11,3115 74 BB2T5P1 12,0603 11,4034 75 BB1T5P2 12,0159 11,0918 76 BB2T5P2 12,0888 11,1998 77 BB1T5P3 12,0394 11,2288 78 BB2T5P3 12,0600 11,4358 79 BB1T5P4 12,0256 11,2080 80 BB2T5P4 12,0573 11,1867 3.5.1 - Compactação As amostras foram moldadas pelo método de prensagem de massas semi-secas ou semi-plásticas, em uma matriz uniaxial de aço, numa prensa mecânica com capacidade para 15 toneladas, sob pressão de 50N/mm2, obtendo-se corpos de prova no formato retangular, com as dimensões de (60 mm x 20 mm x 5 mm). Na Figura 3.3 está apresentada a forma e as _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 99 dimensões do corpo de prova padrão. Essa forma mantém uma das dimensões da barra padrão da Sociedade Americana de Cerâmica (ACS), assemelhando-se as placas retangulares usadas para medida de retração e permitindo a medida da tensão de ruptura a flexão (SANTOS, 1989). Figura 3.3 – Ilustração do corpo de prova padrão A0 = Espessura da amostra; BB0 = Largura da amostra; L0 = Complimento da amostra. 3.5.2 - Secagem dos Corpos de prova Alguns defeitos dos produtos têm início nessa etapa do processo e se agrava na sinterização. O processo de secagem pode ser explicado em quatro etapas principais. Inicialmente, o líquido é evaporado da superfície externa do corpo. O líquido evaporado é, então, reposto pelo líquido existente entre as partículas do interior do corpo durante a secagem. Nestas duas primeiras etapas, a taxa de evaporação do líquido é menor que a taxa de _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 100 transporte de líquido proveniente do interior do corpo. A terceira etapa inicia-se quando a taxa de evaporação supera a taxa de transporte de líquido e a umidade existente no interior dos poros começa a evaporar. Na última etapa, o líquido capilar persistente no corpo ocupa os poros maiores e mais acessíveis. A retirada desta umidade residual requer maiores quantidades de energia (VIEIRA, 2004). A secagem dos corpos-de-prova utilizados neste trabalho foi feita em duas etapas. A princípio os corpos de provas foram colocados ao ar livre por três horas e depois foram secados em estufa à temperatura de 110oC até a obtenção da massa constante. Após a secagem, os mesmos foram medidos com um micrômetro analógico da marca Starret com resolução de 0,01 mm. Estas medidas foram utilizadas como dimensões iniciais (A0, B0, L0) para a obtenção posterior da retração linear de queima. 3.5.3 - Sinterização dos corpos de prova A queima realizada no forno dos produtos cerâmicos é uma das etapas mais importantes do processo de fabricação, já que dela depende grande parte das características do produto cerâmico: resistência mecânica, estabilidade dimensional, resistência ao fogo, etc (SPAINTILES, 2002). Nesse mesmo contexto, segundo Gomes (1993) sinterização é um processo termicamente ativado pelo qual um agregado de partículas, ou um pó compactado, adquire estrutura sólida coerente através da formação de contornos de grão, bem como pelo crescimento de pescoços interpartículas. As propriedades como absorção de água, porosidade e massa específica aparente estão relacionadas com sinterização (ZANDONADI, 1972). Experimentalmente, o fenômeno de _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 101 sinterização pode ser acompanhado avaliando-se os seguintes parâmetros das amostras sinterizadas: retração linear ou volumétrica, massa específica, topologia espacial da porosidade, análise quantitativa da microestrutura, bem como medidas indiretas baseadas nas mudanças das propriedades fisico-mecânicas do corpo sinterizado. A etapa foi realizada em um forno de resistência elétrica, da marca JUNG, MODELO 3P- S, em atmosfera natural sob patamar de 30, 60, 90 e 120 minutos e taxa de aquecimento de 10°C/min. Foram empregadas as seguintes temperaturas de patamares: 1150, 1200, 1250, 1300 e 1350°C. O resfriamento ocorreu naturalmente com o forno desligado e fechado até o alcance da temperatura ambiente. A Figura 3.4 ilustra as condições de sinterização acima descrita. 0 50 100 150 200 250 300 350 0 200 400 600 800 1000 1200 1400 T5 T4 T3 TE M PE RA TU RA (0 C) TEMPO (minutos) T2 T1 Figura 3.4- Curvas teóricas de queima utilizadas para a sinterização das amostras 3.6 - Determinação das propriedades dos corpos de prova Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 102 Para levantamento das propriedades físicas cerâmicas dos corpos de prova foram feitos ensaios de retração linear de queima (RL), absorção de água (AA), massa específica aparente (MEA), perda ao fogo (PF), porosidade aparente (PA), determinação da curva de greisificação, análise microestrutural, difração de raios X (DRX) e tensão de ruptura à flexão (TRF) em três pontos; para levantamento das propriedades elétricas foi realizado ensaio de resistividade, determinação da constante dielétrica e rigidez dielétrica. 3.6.1 - Variação de massa (VM) A perda de massa durante o processo de sinterização foi avaliada pelo cálculo da porcentagem de massa perdida (FRANCO, 2004), calculado pela a Equação 2.2. 3.6.2 - Retração linear (RL) São variações das dimensões lineares do corpo de prova, depois de submetidos às condições específicas de temperatura, as quais serão positivas quando houver retração e negativas se houver expansão. A retração linear de queima (RL) dos corpos de prova foi determinada segundo Santos (1989), através da Equação 2.3. Onde Lq é o comprimento final da amostra obtida após a sinterização, através da média de três medidas transversais e Ls e o comprimento inicial do corpo de prova após secagem, _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 103 obtida através da média do mesmo número de medições transversais. As medidas foram obtidas com um micrômetro com resolução de 0,01mm. 3.6.3 - Absorção de água (AA) A absorção de água (AA) dos corpos-de-prova após queima foi obtida de acordo com a norma NBR 6480 (ABNT). O procedimento consistiu em: secagem dos corpos de prova em estufa a 110oC até obtenção da massa constante, resfriamento em dessecador, pesagem para obtenção da massa a seco e imersão durante 24 horas em um recipiente com água destilada. Após esse tempo, os corpos foram removidos e o excesso de água superficial foi retirado com um pano umedecido, em seguida pesados em uma balança eletrônica, modelo AW220 da SHIMADZU com resolução de 0,1mg. Os valores da absorção de água foram calculados através da média de três determinações, utilizando-se a Equação 2.4. 3.6.4 - Porosidade aparente (PA) É a percentagem do volume de poros aberto do corpo de prova em relação ao seu volume total. A porosidade aparente dos corpos de prova sinterizados foi determinada de acordo com a norma C373-88 (ASTM), calculada através da média de três determinações e utilizando-se a Equação 2.5. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 104 3.6.5 - Massa específica aparente (MEA) Mede a massa por unidade de volume, apresentada pelos corpos de prova. A massa específica aparente dos corpos de prova foi determinada de acordo com a norma C373-88 (ASTM), utilizando a média de cinco determinações e calculada através da equação 2.6. Os procedimentos de medida são semelhantes àqueles descritos no item anterior. 3.6.6 - Tensão de ruptura à flexão (TRF) É a tensão necessária para causar a ruptura de um corpo de prova, segundo o método proposto por VICAT através da Equação 2.7. A tensão de ruptura à flexão refere-se à resistência do material à flexão simples pelo método dos três pontos. As amostras sinterizadas foram submetidas a ensaios de flexão em 3 pontos, utilizando um equipamento de ensaios mecânicos modelo ZWICK/ROELL BZ 2.5/TS1T, acoplado a um computador. Esta análise foi realizada tomando como base a norma ISO 10545-4/95 com velocidade de aplicação da carga de 0,5 mm/min, com uma distância entre os apoios de 50 mm, tendo como objetivo verificar as variações da resistência mecânica em função das composições e condições de sinterização utilizadas. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 105 3.6.7 - Fluorescência de raios X A composição química das amostras obtidas após a sinterização neste trabalho foi obtida por fluorescência de raios por energia dispersiva de raios X (EDX), utilizando-se um espectrômetro modelo EDX-700 da SHIMADZU. As amostras foram trituradas e processadas no almofariz até passarem pela peneiradas a 200 mesh e prensadas sob forma de pastilhas a 20 MPa e ensaiadas sob atmosfera de hélio. Os resultados foram obtidos em forma de percentuais de óxidos mais estáveis dos elementos químicos presentes. 3.6.8 - Análise por difração de raios X Para identificação das fases presentes remanescentes e as novas fases formadas durante o processo de sinterização, foi utilizada a técnica de difração de raios X. Para isso, os corpos de prova após sinterizados foram triturados e moídos em um almofariz e utilizada à fração passante em peneira de 200 mesh. Os experimentos foram realizados utilizando-se radiação Cu-Kα, com tensão acelerada 40 KV e corrente de 40 mA, com varredura de 3º a 80º para 2θ, com velocidade de varredura de 2o/min. A análise qualitativa das fases presentes foi efetuada através da comparação do ângulo de Bragg, da distância interplanar e da intensidade relativa dos principais picos do difratograma com cartas padrões existentes no software JCPDF para identificação cristalográfica. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 106 3.6.9 - Análise microestrutural A microestrutura dos corpos de prova após sinterizados foi examinada com um microscópio eletrônico de varredura, marca SHIMADZU, modelo SSX-550 do Laboratório de Ensaios de Materiais do CTGÁS, utilizando-se voltagem de aceleração de elétrons entre 20 a 26 kV. O objetivo desta análise constitui no acompanhamento das mudanças microestruturais ocorridas durante o processo de sinterização. Para isso, foram analisados dois tipos de superfícies: a superfície de fratura e a superfície polida. As amostras foram colocadas em um porta-amostra, aderidas por uma fita de carbono dupla face. Tinta condutora à base de prata foi utilizada para auxiliar na condução eletrônica entre a superfície da amostra e a base do porta-amostra. Estas foram submetidas à metalização com uma fina camada condutora de ouro. Tanto as amostras polidas quanto as fraturadas foram analisadas empregando-se um detector de elétrons retro-espalhados, bem como microanálise por espectroscopia de raios X por energia dispersiva (EDX), no sentido de se analisar a composição química elementar pontual das amostras. 3.6.10 – Resistividade Para a realização desta caracterização foi usada uma ponte RLC da marca HP, do Laboratório de Materiais Cerâmicos e Metais Especiais da UFRN, não sendo possível medir a resistividade do material com este instrumento, e sim a resistência à passagem de corrente _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 107 elétrica. Por isso foi coletado os valores de resistência elétrica das amostras, três medições para cada uma. Então a resistividade foi determinada a partir da equação 3.1. L AR×=ρ (Equação 3.1) Onde: ρ = Resistividade do material R = Resistência à passagem de corrente elétrica A = Área da amostra L = Espessura da amostra Para possibilitar a coleta de dados nesta análise foi confeccionado um porta-amostras para conectar aos terminais da ponte de medição. Como o instrumento tem uma escala de medição na ordem de Mega-Ohm, foi necessário partir as amostras, pois estas tinham espessura média de 4,5 mm. Após o corte, as amostras ficaram com espessuras média de aproximadamente 2,0 mm, possibilitando as medições de resistência elétrica do material e aumentando a quantidade de amostras a serem ensaiadas. A quantidade de amostras ensaiadas nas caracterizações das propriedades elétricas estão na tabela 3.3. Depois de cortadas, estas foram lixadas com o objetivo de planificar a superfície e melhorar o contato com as placas condutoras. As placas condutoras retangulares foram fabricadas de prata com área igual a das amostras e com espessura de 1,5 mm, o que possibilitou uma boa resistência mecânica das placas. Para melhorar o contato elétrico entre as superfícies das placas do porta-amostras e das amostras, foi colocado um filme de fita de carbono. Os valores apresentados correspondem à _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 108 média entre três medidas realizadas em cada amostra. A conexão do porta-amostras (confeccionado no laboratório de materiais cerâmicos e metais espaciais) e o instrumento de medição pode ser visto na Figura 3.5. Tabela 3.3 – Relação das amostras selecionadas para ensaio das propriedades elétricas e suas respectivas espessuras ORDEM CÓDIGO AMOSTRA ESPESSURA ORDEM CÓDIGO AMOSTRA ESPESSURA 1 A1T1P1 1A 2,23 81 B1T1P1 41A 2,22 2 A1T1P1 1B 1,78 82 B1T1P1 41B 1,76 3 A2T1P1 2A 2,15 83 B2T1P1 42A 2,20 4 A2T1P1 2B 1,97 84 B2T1P1 42B 1,98 5 A1T1P2 3A 1,88 85 B1T1P2 43A 1,78 6 A1T1P2 3B 1,95 86 B1T1P2 43B 2,23 7 A2T1P2 4A 2.10 87 B2T1P2 44A 1,87 8 A2T1P2 4b 2,00 88 B2T1P2 44B 1,95 9 A1T1P3 5A 1,97 89 B1T1P3 45A 2,44 10 A1T1P3 5B 1,83 90 B1T1P3 45B 1,43 11 A2T1P3 6A 1,87 91 B2T1P3 46A 1,60 12 A2T1P3 6B 1,96 92 B2T1P3 46B 2,34 13 A1T1P4 7A 2,08 93 B1T1P4 47A 1,43 14 A1T1P4 7B 1,79 94 B1T1P4 47B 2,56 15 A2T1P4 8A 1,83 95 B2T1P4 48A 1,41 16 A2T1P4 8B 2.12 96 B2T1P4 48B 2,67 17 A1T2P1 9A 1,85 97 B1T2P1 49A 1,44 18 A1T2P1 9B 1,98 98 B1T2P1 49B 2,42 19 A2T2P1 10A 1,86 99 B2T2P1 50A 1,33 20 A2T2P1 10B 1,80 100 B2T2P1 50B 2,46 21 A1T2P2 11A 2,01 101 B1T2P2 51A 1,01 22 A1T2P2 11B 1,72 102 B1T2P2 51B 2,75 23 A2T2P2 12A 2,38 103 B2T2P2 52A 1,92 24 A2T2P2 12B 1,40 104 B2T2P2 52B 2,13 25 A1T2P3 13A 1,85 105 B1T2P3 53A 1,46 26 A1T2P3 13B 1,80 106 B1T2P3 53B 2,39 27 A2T2P3 14A 1,70 107 B2T2P3 54A 1,55 28 A2T2P3 14B 1,90 108 B2T2P3 54B 1,91 29 A1T2P4 15A 2,90 109 B1T2P4 55A 2,07 30 A1T2P4 15B 1,30 110 B1T2P4 55B 1,67 31 A2T2P4 16A 2,34 111 B2T2P4 56A 1,58 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 109 Tabela 3.3 – Relação das amostras selecionadas para ensaio das propriedades elétricas e suas respectivas espessuras (Continuação) ORDEM CÓDIGO AMOSTRA ESPESSURA ORDEM CÓDIGO AMOSTRA ESPESSURA 32 A2T2P4 16B 1,39 112 B2T2P4 56B 2,17 33 A1T3P1 17A 1,68 113 B1T3P1 57A 1,89 34 A1T3P1 17B 2,07 114 B1T3P1 57B 2,00 35 A2T3P1 18A 2,74 115 B2T3P1 58A 1,61 36 A2T3P1 18B 1,30 116 B2T3P1 58B 2,29 37 A1T3P2 19A 1,95 117 B1T3P2 59A 1,98 38 A1T3P2 19B 2,08 118 B1T3P2 59B 2,05 39 A2T3P2 20A 2,00 119 B2T3P2 60A 1,72 40 A2T3P2 20B 1,78 120 B2T3P2 60B 2,00 41 A1T3P3 21A 1,90 121 B1T3P3 61A 1,70 42 A1T3P3 21B 1,92 122 B1T3P3 61B 2,33 43 A2T3P3 22A 1,63 123 B2T3P3 62A 1,80 44 A2T3P3 22B 2,03 124 B2T3P3 62B 1,66 45 A1T3P4 23A 1,62 125 B1T3P4 63A 2,37 46 A1T3P4 23B 1,75 126 B1T3P4 63B 1,44 47 A2T3P4 24A 1,50 127 B2T3P4 64A 1,45 48 A2T3P4 24B 2,48 128 B2T3P4 64B 2,53 49 A1T4P1 25A 2,22 129 B1T4P1 65A 1,79 50 A1T4P1 25B 1,76 130 B1T4P1 65B 2,24 51 A2T4P1 26A 1,75 131 B2T4P1 66A 1,55 52 A2T4P1 26B 2,37 132 B2T4P1 66B 2,70 53 A1T4P2 27A 1,63 133 B1T4P2 67A 1,71 54 A1T4P2 27B 2,55 134 B1T4P2 67B 2,27 55 A2T4P2 28A 1,46 135 B2T4P2 68A 1,72 56 A2T4P2 28B 2,71 136 B2T4P2 68B 2,41 57 A1T4P3 29A 2,29 137 B1T4P3 69A 1,31 58 A1T4P3 29B 1,96 138 B1T4P3 69B 2,93 59 A2T4P3 30A 1,60 139 B2T4P3 70A 1,58 60 A2T4P3 30B 2,30 140 B2T4P3 70B 2,52 61 A1T4P4 31A 2,23 141 B1T4P4 71A 2,58 62 A1T4P4 31B 1,84 142 B1T4P4 71B 1,30 63 A2T4P4 32A 2,18 143 B2T4P4 72A 2,54 64 A2T4P4 32B 1,75 144 B2T4P4 72B 1,45 65 A1T5P1 33A 2,54 145 B1T5P1 73A 1,81 66 A1T5P1 33B 1,91 146 B1T5P1 73B 2,36 67 A2T5P1 34A 2,06 147 B2T5P1 74A 1,74 68 A2T5P1 34B 2,32 148 B2T5P1 74B 2,14 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 110 Tabela 3.3 – Relação das amostras selecionadas para ensaio das propriedades elétricas e suas respectivas espessuras (Continuação) ORDEM CÓDIGO AMOSTRA ESPESSURA ORDEM CÓDIGO AMOSTRA ESPESSURA 69 A1T5P2 35A 2,10 149 B1T5P2 75A 2,13 70 A1T5P2 35B 2,36 150 B1T5P2 75B 2,16 71 A2T5P2 36A 2,68 151 B2T5P2 76A 2,33 72 A2T5P2 36B 1,99 152 B2T5P2 76B 1,63 73 A1T5P3 37A 2,80 153 B1T5P3 77A 2,06 74 A1T5P3 37B 1,67 154 B1T5P3 77B 1,99 75 A2T5P3 38A 1,46 155 B2T5P3 78A 2,48 76 A2T5P3 38B 2,69 156 B2T5P3 78B 2,01 77 A1T5P4 39A 1,47 157 B1T5P4 79A 2,26 78 A1T5P4 39B 2,86 158 B1T5P4 79B 1,99 79 A2T5P4 40A 1,73 159 B2T5P4 80A 2,00 80 A2T5P4 40B 2,39 160 B2T5P4 80B 2,08 Figura 3.5 - Conexão do porta-amostras e o instrumento de medição de resistência elétrica, ponte RLC da marca HP _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 111 3.6.11 – Constante Dielétrica Determinar o valor da constante dielétrica do material é de suma importância para sua classificação quanto ao seu emprego no campo eletroeletrônico (KIM, 1999). Este ensaio foi realizado com o mesmo instrumento e porta-amostras da Figura 3.3. Neste ensaio é adquirido o valor da capacitância do material. A partir deste calcula-se o valor da constante dielétrica através da Equação 2.15. 3.6.12 – Rigidez dielétrica Esta análise é comumente usada para a caracterização de materiais isolantes, como isoladores elétricos de baixa, média e alta tensão, usados em linhas de distribuição e de transmissão de energia elétrica, mas está presente em dados de caracterização de componentes eletrônicos, como cerâmica de alto K. Este ensaio foi realizado na máquina de análise de rigidez dielétrica da marca SIEMENS, modelo SG1 CONTROL DEVICE do Laboratório de Eletrotécnica da UFRN. Ver detalhe do porta-amostras (que tem dimenções de: 85cm de altura, 35cm de largura e de profundidade) usado para o ensaio de rigidez dielétrica na Figura 3.6. Os corpos de provas foram ensaiados em tensão contínua e alternada, à níveis de fim de escala na ordem de 69 kV para configuração em tensão contínua e de 50 kV para a configuração de tensão alternada na freqüência de 60 Hertz. Os corpos de provas foram colocados no porta-amostra, em seguida a tensão nos terminais, em contato com a superfície _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Materiais e Métodos______________________________________________________________________ 112 da amostra, foi elevada até o rompimento da isolação elétrica da amostra. O passo a passo para realização do ensaio de rigidez dielétrica está descrito no Apêndice A. Figura 3.6 - Porta-amostras para o ensaio de rigidez dielétrica _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Capítulo 4 Resultados e Discussão Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 113 4.0. - RESULTADOS E DISCUSSÃO Neste capítulo é discutido as propriedades físico-química das matérias-primas, mecânica, cristalográfica, morfológica e elétrica dos corpos de provas obtidos a partir de composições adequadas de argila, caulim, feldspato e quartzo, para aplicação em produtos de porcelana técnica como: capacitores, resistores, tiristores, isoladores elétricos e outros, cuja composição das matérias primas encontra-se na Tabela 3.1. As características químico-mineralógica das matérias primas, físico-mecânicas e elétricas dos corpos de provas processados a partir dos materiais retirados dos pegmatitos envolvendo desde as caracterizações das matérias primas com a distribuição granulométrica a úmido, DRX, EDX, MEV e análise térmica. No sinterizado, a retração linear, absorção de água, porosidade aparente, densidade aparente, curva de gresificação, resistência mecânica por flexão, análise micro-estrutural, e para a caracterização elétrica foi realizada a análise de resistividade transversal, constante dielétrica e rigidez dielétrica. Todas as caracterizações dos corpos de prova sinterizados foram realizadas em função da temperatura de sinterização e do tempo de isoterma. 4.1 - Caracterização das matérias primas Foram realizadas as seguintes caracterizações das matérias-primas: Análise granulométrica, análises térmicas, difração de raios X, Fluorescência de raios X e análise microestrutural. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 114 4.1.1 - Análise granulométrica As Figuras 4.1, 4.2, 4.3, 4.4, mostram a distribuição de tamanho de partículas da argila e dos materiais estudados. Na figura 4.1 nota-se que a argila apresentou uma distribuição granulométrica do tipo bimodal (dois pontos de máximo), com tamanho das partículas variando na faixa entre 0,30µm e 38µm, dos quais 10% em volume têm diâmetro inferior a 0,82µm, 50% inferior a 3,87µm, 90% inferior a 14,56µm, com diâmetro médio de 6,08µm, 30% tem diâmetro (< 2µm) e 70% tem diâmetro na faixa de (2 – 38) µm. Na Figura 4.2, nota-se que o caulim apresentou distribuição granulométrica do tipo bimodal, com os diâmetros de partículas variando na faixa de 0,32µm a 97µm, dos quais 10% em volume têm diâmetro inferior a 0,98µm, 50% inferior a 5,37 µm, 90% inferior a 28,74, com diâmetro médio de 10,83µm, 25% têm diâmetro (<2µm) e 75% tem diâmetro na faixa de (2 – 97) µm. Na Figura 4.3, nota-se que o feldspato apresentou distribuição praticamente do tipo unimodal, com diâmetro de partículas variando na faixa de 0,30µm a 157µm, dos quais 10% em volume têm diâmetro inferior a 2,44µm, 50% inferior a 22,08µm, 90% inferior a 66,91µm, com diâmetro médio de 29,13µm, 8% têm diâmetro (<2µm) e 92% tem diâmetro na faixa de (2 – 157) µm. Na Figura 4.4, nota-se que o quartzo apresentou distribuição bimodal, com diâmetro de partículas variando na faixa de 0,30µm a 180µm, dos quais 10% em volume têm diâmetro inferior a 1,97µm, 50% inferior a 18,95µm, 90% inferior a 72,03µm, com diâmetro médio de 28,80µm, 11% têm diâmetro (<2µm) e 89% tem diâmetro na faixa de (2 – 180) µm. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 115 Figura 4.1- Distribuição Granulométrica da argila Figura 4.2 - Distribuição Granulométrica do caulim _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 116 Figura 4.3 - Distribuição Granulométrica do feldspato Figura 4.4 - Distribuição Granulométrica do Quartzo _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 117 Comparando-se essas matérias-primas, observa-se que a argila e caulim, apresentam tamanho de partículas menor que os pegmatitos, feldspato e quartzo, o que justifica-se pela razão dos últimos terem maior resistência a fragmentação, o que já era esperado, uma vez que todos foram submetidos ao processo de moagem, utilizando as mesmas condições operacionais. Segundo Dutra (2007), a matéria prima pode ser classificada de acordo com a distribuição granulométrica em matéria prima fina (Dm < 15µm) e matéria prima grossa (Dm > 15µm). Em posse dessa classificação, a argila e o caulim são matérias primas finas, e o feldspato e o quartzo são matérias primas grossas. Esta distribuição granulométrica facilita o empacotamento quando misturados os materiais, tendo em vista os argilominerais, onde são formados por uma granulometria mais fina, o que favorece a densificação do material durante o processo de sinterização. 4.1.2 - Análise térmica As Figuras 4.5 e 4.6 apresentam o comportamento termogravimétrico e termodiferencial, respectivamente, da argila estudada. Verifica-se que as mesmas são compatíveis com o comportamento térmico de uma argila comum. Observando-se a curva ATG, nota-se perda de massa de 0,69% entre as temperaturas de 30oC a 280 oC , correspondente à perda de água livre e adsorvida. Em seguida redução contínua e acentuada da massa correspondente à volatilização da matéria orgânic e desidroxilação da ilita/caulinita de (4,75%) entre as temperatura de 480oC e 1350 oC. Na curva DTA, nota-se pequeno pico endotérmico a 53,14oC, correspondente á liberação da água livre, _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 118 seguida por um pico exotérmico a 122,43oC associado à perda da matéria orgânica e pico endotérmico na faixa de 480 à 620oC, correspondente à perda da hidroxila da ilita/caulinita. Na temperatura de 912,47oC ocorre a formação de um pico exotérmico provocado pela formação da mulita e ou tridimita a partir do quartzo livre. Estudos realizados por Grim e Rowland (1944) mostram que a formação da mulita (3Al2O3.2SiO2) tem início a partir de 1000 oC. Figura 4.5 - Curva termogravimétrica (TG) com sua respectiva derivada (DrTG) da argila _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 119 Figura 4.6 - Curva termodiferencial (DTA) da argila As Figuras 4.7 e 4.8 apresentam o comportamento termogravimétrico (ATG) e termodiferencial (DTA), respectivamente, do caulim. Na Figura 4.7, nota-se uma perda de massa de contínua e acentuada de 16,43% entre as temperaturas de 200 a 1350oC, correspondente a volatilização de matéria orgânica, à perda da OH (Santos, 1989). Na Figura 4.8, nota-se pico endotérmico a 61oC, correspondente à liberação de água de umidade e de água absorvida. Na temperatura de 529,410C ocorre um pico endotérmico, que está associado à transformação da Caulinita (Al2O3.2SiO2.2H2O) em Metacaulinita (Al2O3.2SiO2 + 2H2O). Surge mais um pico endotérmico na temperatura de 1030,180C revelando transformação da Metacaulinita (2[Al2O3.2SiO2]) em Espinélio (2Al2O3.32SiO2 + SiO2). Segundo Brindley e _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 120 Nakahira (1959), à 9500C deve ter ocorrido uma transformação exotérmica que pode ser atribuída a uma alteração brusca da Metacaulinita formando um tipo especial de Espinélio (Si8Al10 2/3O32). A 1234,32ºC ocorre mais um pico exotérmico que é atribuído a transição da mulita primária, que proveio da evolução do espinélio, em mulita segundária ou mulita de agulha, que será visto na análise micrografica posteriormente. Figura 4.7 - Curva termogravimétrica (TG) com sua respectiva derivada (DrTG) do caulim _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 121 Figura 4.8 - Curva termodiferencial (DTA) do caulim A Figura 4.9 e 4.10 apresentam o comportamento termogravimétrico (TG) e termodiferencial (DTA), respectivamente do feldspato. Nota-se na Figura 4.9 que o feldspato apresenta-se como um material com baixa capacidade higroscópica, evidenciado pelo aparente ganho de massa 0,2693%, na faixa de temperatura de 40 a 100oC. Pequena e gradativa perda de massa (3,23%) é notada a partir de 150oC até 1350oC, provavelmente devido à perda de voláteis orgânicos, indicando que o feldspato apresenta uma alta estabilidade térmica. Na Figura 4.10 não são evidenciadas transições. Segundo Albuquerque et al (2007), em torno de 11500C inicia-se o processo de fusão. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 122 Figura 4.9 - Curva termogravimétrica (TG) com sua respectiva derivada (DrTG) do feldspato Figura 4.10 - Curva termodiferencial (DTA) do feldspato _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 123 A Figura 4.11 e 4.12 apresentam o comportamento termogravimétrico (TG) e termodiferencial (DTA), respectivamente do quartzo. Nota-se na Figura 4.11 que o quartzo também apresenta-se como um material com baixa capacidade higroscópica, evidenciado pelo aparente ganho de massa 0,56%, na faixa de temperatura de 30 a 400oC. Um gradativa perda de massa (2,71%) é notada a partir de 430oC até 1350oC, provavelmente devido à perda de voláteis orgânicos, indicando que o quartzo, assim como o feldspato apresenta uma alta estabilidade térmica. Na Figura 4.12 não são evidenciadas transições, na temperatura de 574,83°C ocorre um pico endotérmico que é atribuído à transição reversível do quartzo alfa (α) no quartzo beta (β) e a 1247,74ºC ocorre um outro pico endotérmico, devido a uma transição de alta energia do quartzo, provavelmente o inicio da fusão do material. Figura 4.11 - Curva termogravimétrica (TG) com sua respectiva derivada (DrTG) do quartzo _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 124 Figura 4.12 - Curva termodiferencial (DTA) do quartzo 4.1.3 - Caracterização mineralógica As Figuras 4.13, 4.14, 4.15 e 4.16 são os difratogramas de raios X das amostras de argila, caulim, feldspato e quartzo, respectivamente. De acordo com o difratograma da argila é possível constatar que é constituída principalmente das fases cristalina Quartzo (SiO2), Muscovita [(K,Ca,Na)(Al,Fe,Mg)2(Si,Al)4O10(OH)2] e Caulinita [(Al2Si2O6)(OH)4]. O argilomineral caulinita aparece em pequenas concentrações, indicados pela presença de picos de baixas intensidades. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 125 O difratograma do caulim indica que este é formado pelas fases cristalinas Caulinita [(Al2Si2O6)(OH)4] e Haloysita [(Al2Si2O6)(OH)4.H2O]. A Haloysita aparece em pequenas concentrações, indicados pela presença de picos de baixas intensidades. O difratograma do feldspato indica que este é formado pela fase cristalina predominante Anortoclásio (Na,K)(Si3Al)O8. O difratograma do quartzo indica que este é formado por fase cristalina de quartzo SiO2. Figura 4.13 - Difratograma de raios X da argila _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 126 Figura 14 - Difratograma de raios X do caulim Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 127 Figura 4.15 - Difratograma de raios X do feldspato Figura 4.16 - Difratograma de raios X do quartzo 4.1.4 - Caracterização química Os resultados das análises químicas realizadas nas amostras: argila, caulim, feldspato e quartzo, estão representadas na tabela 4.1, a seguir. O percentual de sílica (SiO2), e de alumínio (Al2O3) na amostra de argila, estão um pouco abaixo do percentual teórico da sílica da caulinita (46,5%) e de alumínio da caulinita (39,5%). O teor de Fe2O3 (13,001 %) está acima dos valores considerados normais para a argila, _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 128 o que durante a sinterização sofre redução. O ferro reduzido (Fe3O4 e FeO) apresenta coloração mais escura e é mais fundente do que no seu estado oxidado. Por isso pode ocorrer a presença de (coração negro) em função da fusibilidade da massa na região em que o ferro está reduzido, isso dificulta a saída dos gases liberados pelas reações apresentadas acima (Damiani et al, 2001). Verifica-se que o feldspato apresenta uma relação em massa em torno de 6:1 de K2O para Na2O, com baixo teor de ferro. Os teores de K2O + Na2O, contribuem para a formação de fase líquida, que se constitui o principal agente de sinterização de cerâmicas argilosas. O caulim tem os teor de SiO2 próximo do valor teórico, que é de 46,55% m/m de SiO2 e teor de Al2O3 acima do valor teórico que é de 39,50% m/m de Al2O3, corroborando o resultado de DRX. O teor de potássio, com 0,807% m/m de K2O, indica a presença de material feldspático ou esse elemento está presente como impureza. O quartzo apresenta teores de SiO2 e de Al2O3 , na ordem respectivamente de 96% e 3%. O que influenciará nas propriedades dielétricas do material. Os resultados da perda ao fogo foram determinados para as massas cerâmicas de composição indicada na tabela 3.1 e estão apresentados na análise de variação de massa mais a diante. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 129 Tabela 4.1- Fluorescência de raios X das matérias primas utilizadas EDX DAS MATÉRIAS PRIMAS ELEMENTOS ARGILA (%) CAULIM (%) FELDSPATO (%) QUARTZO (%) SiO2 44,374 45,396 54,019 96,645 Al2O3 29,408 53,258 25,800 2,883 Fe2O3 13,001 0,341 0,162 0,09 K2O 4,791 0,807 17,044 - MgO 3,455 - - - CaO 2,272 - - 0,26 TiO2 1,152 - - - V2O5 0,282 - - - SO3 0,194 0,097 - - MnO 0,181 - - - ZrO2 0,107 0,014 - 0,02 CuO 0,076 0,029 0,025 0,05 Cr2O3 0,070 - 0,056 - SrO 0,037 0,017 - - Rb2O - 0,015 0,177 - Y2O3 - 0,014 - - NbO - 0,010 - - Na2O - - 2,717 - ZnO - - - 0,05 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 130 4.1.5 - Morfologia das partículas A Figura 4.17 apresenta a morfologia dos grãos da Argila utilizada. Nota-se que a mesma é formada por distribuição de tamanhos não uniformes com grãos arredondados, quando inferiores a 4 μm e mais alongados quando superiores a 4 μm. As figuras 4.18, 4.19 e 4.20 apresentam espectrogramas que revelam as microanálise por EDX dos pontos A, B e C, respectivamente, onde indicam que os grãos da argila investigados são formados pelos elementos químicos Si, Al, Fe, Ca, Na, Mg e Cu (ponto A), indicando ser um grão do argilomineral muscovita, Si, Al, Fe, K, Mg, Ti (ponto B e C), indicando ser grão de composição idêntica ao do ponto A, com o ferro e titânio nos interstícios dos cristais, também detectado na análise por difração de raios X (Figura 4.13). _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 131 Figura 4.17. Micrografia MEV (700X) da morfologia dos grãos da amostra de Argila, com pontos de microanálise por EDX Figura 4.18. Espectrograma EDX do ponto A da Figura 4.17 Figura 4.19. Espectrograma EDX do ponto B da Figura 4.17 Figura 4.20. Espectrograma EDX do ponto C da Figura 4.17 A Figura 4.21 apresenta a morfologia dos grãos do Caulim. Nota-se que o mesmo é formado grãos com diâmetros, na sua maioria inferiores a 5 μm, e grãos com diâmetros superiores a 5 μm mais alongados. As Figuras 4.22, 4.23 e 4.24 apresentam espectrogramas que revelam as microanálise por EDX dos pontos A, B e C, respectivamente, onde (ponto A) indicam que os grãos do caulim investigado é formado pelos elementos químicos Si, Al e Na, _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 132 (ponto B) Si e Al, indicando ser grão do argilomineral Caulinita, e o (ponto C) Si, Al, K e Mg a porcentagem de K e Mg são na ordem de 1%, o que não terá grande influencia na fusibilidade da cerâmica. Figura 4.21. Micrografia MEV (800X) da morfologia dos grãos da amostra de Caulim, com pontos de microanálise por EDX Figura 4.22. Espectrograma EDX do ponto A da Figura 4.21 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 133 Figura 4.23. Espectrograma EDX do ponto B da Figura 4.21 Figura 4.24. Espectrograma EDX do ponto C da Figura 4.21 A Figura 4.25 apresenta a morfologia dos grãos da amostra feldspato com pontos de microanálise por EDX acoplado ao MEV. Este apresenta em sua maioria grãos alongados com diâmetro superior à 15 μm rodeado de grãos em forma de prisma com diâmetro inferior à 5 μm, conforme já detectado na análise granulométrica (Figura 4.3) que apresenta um diâmetro médio de 29,13µm. Nos espectrogramas das Figuras 4.26, 4.27 e 4.28, nota-se que em todos os grãos microanalisados (pontos A e C) é detectado a presença dos elementos químicos Si, K, Al e Na, indicando a presença de Anortoclásio de acordo com a detecção do difratograma de raios X (Figura 4.15) e Si, Al, K, Na, Fe e Mg (ponto B), sendo Fe e Mg em baixa porcentagem. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 134 Figura 4.25. Micrografia MEV (600X) da morfologia dos grãos da amostra de Feldspato, com pontos de microanálise por EDX Figura 4.26. Espectrograma EDX do ponto A da Figura 4.25 Figura 4.27. Espectrograma EDX do ponto B da Figura 4.25 Figura 4.28. Espectrograma EDX do ponto C da Figura 4.25 A Figura 4.29 apresenta a morfologia dos grãos da amostra Quartzo com pontos de microanálise por EDX acoplado ao MEV. É possível constatar que essa matéria prima é formada por partículas de dimensões variadas e forma de prismática, com dimensões, na sua _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 135 maioria superiores a 15 μm, conforme já detectado na análise granulométrica (Figura 4.4). Pequenas concentrações de grãos com dimensões inferiores a 2 μm também são detectadas. Nos espectrogramas das Figuras 4.30, 4.31 e 4.32, nota-se que em todos os grãos microanalisados (pontas A, B e C) é detectado a presença basicamente do elemento químico Si, com pequena porcentagem de Al nos ponto B e C. De acordo com o detectado por difração de raios X (Figura 4.16) e análise química por EDX (Tabela 4.1). Figura 4.29. Micrografia MEV (700X) da morfologia dos grãos da amostra de Quartzo, com pontos de microanálise por EDX Figura 4.30. Espectrograma EDX do ponto A da Figura 4.29 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 136 Figura 4.31. Espectrograma EDX do ponto B da Figura 4.29 Figura 4.32. Espectrograma EDX do ponto C da Figura 4.29 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 136 4.2. Caracterização das massas cerâmicas A caracterização das massas cerâmicas foram realizadas através das análises: dilatométrica, difração de raios X e microestrutural. 4.2.1. Comportamento dilatométrico das massas cerâmicas A Figura 4.33 apresenta o comportamento dilatométrico dos corpos de prova sinterizados da composição A e B. Obtido através da análise dilatométrica. _______________________________________________________________________________________ Durante a sinterização da porcelana, ocorrem diversas reações químicas que são afetadas pela temperatura e atmosfera do forno e pela duração do processo. Essas reações muitas vezes não atingem o equilíbrio, devido ao tempo excessivamente longo necessário para que isso ocorra (Chinelatto, 2004). A variação dimensional com a temperatura das composições A e B são equivalentes até a temperatura de 840 0C. A dilatação ocorrida até a temperatura em torno de 550oC, é atribuída a transformação da caulinita em metacaulinita, que corresponde a reorganização dos átomos de alumínio coordenados octaedricamente na caulinita, para tetraedricamente ordenados na metacaulinita. Esta reação é endotérmica e libera água (Chen et al, 2004). Na faixa de temperatura de 500 – 620 0C ocorre uma pequena variação no comportamento das curva, esta variação está associada à transição reversível do quartzo alfa (α) ou alta para o quartzo beta (β) ou baixa, que ocorre à aproximadamente 5700C. Segundo Chinelatto (2004), o aumento de tamanho do cristal associado a esta transformação não é problema nessa fase, pois a massa ainda é relativamente plástica e suporta bem essa deformação. A partir da temperatura de 840 0C é observado o surgimento de Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 137 dois picos, o primeiro próximo a 900 0C que é atribuído à combinação dos grupos SiO4 e AlO6 para formar uma fase espinélio (Al.Si). Essa fase espinélio começa a aparecer em 920 ºC e persiste até 1150 ºC (Chen et al, 2004). E a cerca de 990 °C o segundo, próximo a esta temperatura a mulita começa a se formar, a partir da fase espinélio e da metacaulinita restante, formando agregados de grãos arredondados de 20 a 70 nm de diâmetro, denominados mulita primária (Iqbaly, 2000). Acima desta temperatura inicia-se uma elevada contração linear do material, o que é atribuído formação de fase liquida em função da fundição do feldspato (Chinelatto, 2004). Também próximo a essa temperatura, o quartzo começa a dissolver-se na fase líquida, aumentando a quantidade de silício na mesma. Quando a fase líquida satura-se de silício, o quartzo começa a transformar-se em cristobalita na superfície dos grãos (Chinelatto, 2004). A 1.000 ºC com o colapso da estrutura da metacaulinita e o aumento da temperatura, o crescimento dos grãos de mulita é acelerado pelo processo de nucleação instantânea e pela difusão de curta distância, dando origem a grãos de formato alongado, denominados mulita secundária ou agulhas de mulita (Chinelatto, 2004) e durante o resfriamento, o quartzo transforma-se da forma alta para a forma baixa, resultando em uma diminuição de 2% no tamanho dos grãos, que causa tensões e fissuras no grão e na matriz (Chinelatto, 2004). _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 138 0 200 400 600 800 1000 1200 0 1 2 3 4 5 6 7 8 V A R IA Ç Ã O D IM E N C IO N A L LI N E A R ( % ) TEMPERATURA (ºC) Comp. A Comp. B Figura 4.33 - Comportamento dilatométrico das amostras das composições A e B. 4.2.2. Caracterização mineralógica das massas cerâmicas As Figuras 4.34, 4.35, 4.36, 4.37, 4.38 e 4.39 apresentam os resultados da análise por difração de raios-x dos corpos de prova sinterizados da composição A e B, nas temperaturas T1, T2 e T3 na isoterma P4, obtido através da análise por difração de raios X. Os resultados das análises confirmaram que as porcelanas produzidas apresentam difratogramas muito semelhantes com estreita variação na estrutura cristalográfica. A bibliografia estudada revela que esta composição de porcelana contém em sua estrutura quartzo, mulita e material vítreo como principais fases, o que pode ser constatado nos resultados obtidos pelas análises realizadas. Os isomorfos do quartzo; corundum (Al2O3) e cristobalita (SiO2), assim como impurezas das matérias primas e aditivos, podem estar _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 139 presentes em pequenas quantidades. Isso foi confirmado por comparação com o banco de dados cristalográficos no software JCPDF para identificação cristalográfica. Figura 4.34 - Difratogramas de raios X da amostra da composição A, sinterizada a temperatura de 11500C na isoterma de 2 horas (amostra 07) Figura 4.35 - Difratogramas de raios X da amostra da composição A, sinterizada a temperatura de 12500C na isoterma de 2 horas (amostra 23) _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 140 _______________________________________________________________________________________ Figura 4.36 - Difratogramas de raios X da amostra da composição A, sinterizada a temperatura de 13500C na isoterma de 2 horas (amostra 39) Figura 4.37 - Difratogramas de raios X da amostra da composição B, sinterizada a temperatura de 11500C na isoterma de 2 horas (amostra 47) Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 141 Figura 4.38 - Difratogramas de raios X da amostra da composição B, sinterizada a temperatura de 12500C na isoterma de 2 horas (amostra 63) Figura 4.39 - Difratogramas de raios X da amostra da composição B, sinterizada a temperatura de 13500C na isoterma de 2 horas (amostra 79) _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 142 4.2.3 - Caracterização Microestrutural dos Corpos-de-Prova Sinterizados As Figuras 4.40 e 4.44 apresentam as microestruturas dos corpos de prova da composição A e B respectivamente, sinterizados a 1150oC, 1250oC e 1350oC, analisadas sob microscopia eletrônica de varredura. Na Figura 4.40 está a micrografia MEV, das amostras da composição A sinterizadas nas temperaturas acima descritas. A partir delas, pode-se comprovar a influência da temperatura na microestrutura do material usado. Na Figura 4.40 (A), a amostra foi sinterizada a 1150 oC, onde observa-se uma textura ainda irregular. Embora a vitrificação já seja expressiva, possivelmente, não foi suficiente para envolver todas as partículas de característica mais refratárias da amostra, observando-se a presença de poros abertos alongados e comunicantes com espessura na ordem de 15 μm. Na amostra da Figura 4.40 (B), a queima foi realizada até o patamar de 1250 oC. Constatou-se que a amostra apresenta uma porosidade menor do que as amostras queimadas na temperaturas anterior, provavelmente pela maior reação entre o líquido formado e a fase cristalina. A superfície da amostra apresenta-se livre de porosidade aberta, o que influencia nos valores de absorção de água e porosidade aparente, permanecendo apenas a porosidade residual de geometria esférica, comum nos estágios finais de sinterização. Na Figura 4.40 (C), o processo de sinterização foi realizado a 1350 oC. A esta temperatura, provavelmente ocorreu a expansão dos gases (bloating), representada por bolhas, aprisionadas na fase vítrea, de maior diâmetro. Nesta temperatura a ocorrência de expansão de gases explica a deterioração da qualidade das amostras no que se refere as suas propriedades físico-mecânicas. A expansão dos gases nos poros leva a presença de poros maiores do que os observados em temperaturas inferiores, aumentando a porosidade fechada como também a porosidade total, portanto devido a esta _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 143 expansão provavelmente ocorre uma menor retração da amostra como um todo. Esta porosidade pode também ter ocorrido na superfície da amostra, o que contribuiu para o aumento do valor de absorção de água. Nas Figuras 4.41 a 4.43, são apresentadas as micrografias MEV das amostras da composição A, com os pontos de analise por EDX e os espectrômetros de microanálise EDX dos pontos referenciados da Figura 4.45. Na micrografia da Figura 4.41 (A), observa-se que os pontos A, B, C, D e E apresentaram picos representativos basicamente para os elementos químicos Si e Al e picos de magnitudes bem menores de Mg, Na, Fe, Ti e O, indicando a presença de quartzo e de mulita respectivamente. Na Figura 4.42 tem-se a micrografia e o espectrograma dos pontos A, B, C e D da amostra sinterizada à T3. Este apresenta praticamente os mesmos elementos da análise anterior, o que associa-se ao espalhamento da fase liquida do quartzo durante o processo de sinterização. A Figura 4.43 ilustra a micrografia e o espectrograma dos pontos A e B da amostra à T5, segundo (Iqbal et al, 2000; Schüller, 1979 e Prasad, 2002). A essa temperatura, espera-se encontrar mulita primária na região da argila e a mulita secundária na região do feldspato. A mulita primária (3Al2O3.2SiO2) surgi em forma de um agregado de cristais de pequenas dimensões (< 500µm) formada na região da argila, e a mulita secundária (agulha de mulita), em forma característica de uma agulha prismática (>100 µm) formada na região do feldspato. O que é constatado na análise visual da micrografia e no espectrograma, através da detecção dos elementos Al, Si e O. Comparando-se as micrografias da Figura 4.44 com as da Figura 4.40, pode-se perceber que estas microestruturas apresentam características parecidas quando comparadas na equivalência de temperatura de sinterização das cerâmicas. A micrografia da Figura 4.44 (A) difere da 4.40 (A) por apresentar uma quantidade maior de poros, atribuído a uma maior quantidade de quartzo da composição B, que em função da transformação do quartzo (α) em quartzo (β) durante o resfriamento, causa tensões e fissuras no grão e na matriz. Quando _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 144 comparamos a Figura 4.44 (B) com a 4.40 (B), observamos uma redução de poros, o que atribui-se a uma maior dissolução do quartzo na fase líquida, deixando uma superfície mais vitrificada. Já na comparação da Figura 4.44 (C) com a 4.40 (C) observamos a princípio uma disparidade, pois não visualiza-se o surgimento da mulita (primária nem secundária) na Figura 4.49 (C), mas a presença de mulita pode ser comprovado observando-se a micrografia da Figura 4.52 (A). Nas Figuras 4.45 a 4.47 são apresentadas as micrografias MEV com os pontos de analise por EDX e os espectrômetros de microanálise EDX dos pontos referenciados da Figura 4.49. Estes espectrogramas apresentam elementos químicos constituintes equivalentes aos analisados nas Figuras 4.41, 4.42 e 4.43 respectivamente. Segundo Janssen (2005), a microestrutura da porcelana silicosa, consiste principalmente de grãos de quartzo, cristais de mulita, fase vítrea e poros ou inclusões de ar. O tamanho e o formato dos grãos e dos poros, assim como a composição e a quantidade de fase vítrea são sensivelmente afetados pela variação na composição das matérias primas e no processo de fabricação, mas mantidos dentro de limites estreitos pelas normas técnicas (International Electrotechnical Commission, 1996). _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 145 _______________________________________________________________________________________ A C (C) (B) (A) Figura 4.40 – Micrografia MEV dos corpos de prova da composição A. (A) Amostra sinterizada a temperatura de 11500C (Amostra 08). (B) Amostra sinterizada a temperatura de 12500C (Amostra 24) e (C) Amostra sinterizada a temperatura de 13500C (Amostra 40) Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 146 (A) (C) (D) (E) (F) (E) (F) (D)(C) (B) (A) Figura 4.41 - Micrografia MEV da amostra 08. (A) Micrografia MEV (400X) da composição A, sinterizada a temperatura de 11500C em isoterma de 2 horas, com pontos de microanálise por EDX; (B) Espectrogramas EDX do ponto A de (A); (C) Espectrogramas EDX do ponto B de (A), (D) Espectrogramas EDX do ponto C de (A); (E) Espectrogramas EDX do ponto D de (A); (F) Espectrogramas EDX do ponto E de (A) _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 147 (A) (B) (C) (D) (E) (E) (D)(C) (B) (A) Figura 4.42 - Micrografia MEV da amostra 24. (A) Micrografia MEV (400X) da composição A, sinterizada a temperatura de 12500C em isoterma de 2 horas, com pontos de microanálise por EDX; (B) Espectrogramas EDX do ponto A de (A); (C) Espectrogramas EDX do ponto B de (A), (D) Espectrogramas EDX do ponto C de (A); (E) Espectrogramas EDX do ponto D de (A) _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 148 (A) (C) (B) (A) Figura 4.43 - Micrografia MEV da amostra 40. (A) Micrografia MEV (400X) da composição A, sinterizada a temperatura de 13500C em isoterma de 2 horas, com pontos de microanálise por EDX; (B) Espectrogramas EDX do ponto A de (A); (C) Espectrogramas EDX do ponto B de (A) C _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 149 (B) (A) (B) (A) (C) (B)(A) Figura 4.44 – Micrografia MEV dos corpos de prova da composição B. (A) Amostra sinterizada a temperatura de 11500C (Amostra 48). (B) Amostra sinterizada a temperatura de 12500C (Amostra 64) e (C) Amostra sinterizada a temperatura de 13500C (Amostra 80). _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 150 (A) (C) (E) (E) (D)(C) (B) (A) Figura 4.45 - Micrografia MEV da amostra 48. (A) Micrografia MEV (400X) da composição B, sinterizada a temperatura de 11500C em isoterma de 2 horas, com pontos de microanálise por EDX; (B) Espectrogramas EDX do ponto A de (A); (C) Espectrogramas EDX do ponto B de (A); (D) Espectrogramas EDX do ponto C de (A); (E) Espectrogramas EDX do ponto D de (A). _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 151 (A) (B) (C) ( ) Figura 4.46 - Micrografia MEV da amostra 64. (A) Micrografia MEV (400X) da composição B, sinterizada a temperatura de 12500C em isoterma de 2 horas, com pontos de microanálise por EDX; (B) Espectrogramas EDX do ponto A de (A); (C) Espectrogramas EDX do ponto B de (A) _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 152 (A) (D) (C) (B) (A) Figura 4.47 - Micrografia MEV da amostra 80. (A) Micrografia MEV (400X) da composição B, sinterizada a temperatura de 13500C em isoterma de 2 horas, com pontos de microanálise por EDX; (B) Espectrogramas EDX do ponto A de (A); (C) Espectrogramas EDX do ponto B de (A), (D) Espectrogramas EDX do ponto C de (A). _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 153 4.2.4 - Caracterização física das massas cerâmicas sinterizadas Neste subitem serão apresentados e discutidos os resultados dos ensaios para caracterização tecnológica dos corpos cerâmicos estudados, tais como: retração linear (RL), absorção de água (AA), porosidade aparente (PA), massa específica aparente (MEA) , tensão de ruptura à flexão (TRF) e temperatura de gresificação, em função das composições, temperatura de sinterização e tempo de isoterma. 4.2.4.1 - Retração linear de queima As Figuras (4.48 – 4.51) apresentam o comportamento da retração linear dos corpos de prova cerâmicos, em função das composições e da temperatura de sinterização nos tempos de isotermas (P1 – P4) e na Tabela 4.2 e mostrado os valores de máximo, de mínimo e o valor padrão (valor encontrado em outros trabalhos realizados com as mesmas matérias primas) da retração linear em função do tempo de isoterma e da composição. Em todas as amostras estudas, a retração linear de queima ficou na faixa de 0,50 a 8,10 %, estando dentro dos valores encontrados por Bragança e Bergmann (2004) e por Souza et al (2006) aplicados em produtos obtidos a partir das matérias primas caulim, quartzo e feldspato. O aumento da temperatura de sinterização influenciou proporcionalmente na retração linear até 12500C, a partir desse ponto, para as composições e isotermas. Esta relação foi decrescente, em função da liberação de gases no processo de sinterização, como já discutido na análise _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 154 microestrutural. O maior valor da retração da composição A, foi à 1200ºC na isoterma de 2 horas e da composição B, foi à 1250°C na isoterma de meia hora, a composição B apresentou maior retração linear à temperatura de ponto de máximo das curvas. Isto pode ser explicado pelo fato da massa cerâmica ter uma maior quantidade de fases cristalinas na argila e no feldspato, cuja temperatura de fusão é inferior a do quartzo. 1150 1200 1250 1300 1350 1 2 3 4 5 6 7 8 RE TR AÇ ÃO L IN EA R (% ) TEMPERATURA (0C) COMP A COMP B Figura 4.48 - Retração linear dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P1 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 155 1150 1200 1250 1300 1350 0 1 2 3 4 5 6 7 8 RE TR AÇ Ã O L IN EA R (% ) TEMPERATURA (0C) COMP A COMP B Figura 4.49 - Retração linear dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P2 1150 1200 1250 1300 1350 1 2 3 4 5 6 7 8 9 R ET R AÇ ÃO L IN EA R (% ) TEMPERATURA (0C) COMP A COMP B Figura 4.50 - Retração linear dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P3 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 156 1150 1200 1250 1300 1350 1 2 3 4 5 6 7 8 9 R ET R AÇ ÃO L IN EA R (% ) TEMPERATURA (0C) COMP A COMP B Figura 4.51 - Retração linear dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P4 Tabela 4.2 – Valores da retração linear encontrados e valor padrão em função da isoterma e da composição em (%). Isoterma Composição Valor máximo Valor mínimo Valor padrão A 6,79 1,12 (-5 à 12) P1 B 7,49 1,74 (-5 à 12) A 7,28 0,54 (-5 à 12) P2 B 7,56 1,80 (-5 à 12) A 7,44 0,75 (-5 à 12) P3 B 8,02 2,12 (-5 à 12) A 7,67 0,76 (-5 à 12) P4 B 7,92 1,93 (-5 à 12) _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 157 4.2.4.2 - Absorção de água dos corpos sinterizados As Figuras 4.52 – 4.55 apresentam o comportamento da absorção de água dos corpos de prova cerâmicos, em função das composições e da temperatura de sinterização e na Tabela 4.3 é mostrado os valores de máximo, de mínimo e o valor padrão (valor encontrado em outros trabalhos realizados com as mesmas matérias primas) da absorção de água em função do tempo de isoterma e da composição. Em todas as isotermas estudadas, os valores encontrados ficaram na faixa de 0,12 a 12,24%. Os valores encontrados por Bragança e Bergman (2004) para porosidade da porcelana usando as mesmas matérias primas e proporções parecidas, com as desse trabalho, foram na faixa de 0,22 a 5,50%, com patamares de sinterização variando entre 1200 – 14200C e obteve o menor valor de absorção para o material sinterizado à 13800C As Tabelas 2.12 e 2.17 apresentam valores de absorção de água de porcelanas para capacitores e de porcelana eletrotécnica, nulos. Já Motta (2001), afirma que uma classificação usual da cerâmica branca baseia-se no teor em peso da água absorvida pelo corpo cerâmico: denomina-se porcelana quando a absorção é zero (pode-se admitir até 0,5%). A menor absorção de água conseguida nesse trabalho foi de 0,12% para a amostra da composição A, sinterizada à 12500C e na isoterma de 2 horas. Os materias sinterizados a esta temperatura apresentaram os menores valores de absorção de água, independentemente das composições e dos tempos de isotermas. Analogamente ao que aconteceu na análise de contração linear, houve um aumento na absorção de água, com um comportamento inverso ao que vinha ocorrendo até a temperatura de 12500C, que está relacionado ao aumento de poros na estrutura do material. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 158 1150 1200 1250 1300 1350 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 A BS O R Ç Ã O D E Á G U A (% ) TEMPERATURA (ºC) COMP A COMP B Figura 4.52 – Absorção de água dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P1 1150 1200 1250 1300 1350 0 2 4 6 8 10 12 14 A B S O R Ç Ã O D E Á G U A (% ) TEMPERATURA (ºC) COMP A COMP B Figura 4.53 – Absorção de água dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P2 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 159 1150 1200 1250 1300 1350 0 2 4 6 8 10 12 14 A B S O R Ç Ã O D E Á G U A (% ) TEMPERATURA (ºC) COMP A COMP B Figura 4.54 – Absorção de água dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P3 1150 1200 1250 1300 1350 0 2 4 6 8 10 12 14 A B S O R Ç Ã O D E Á G U A (% ) TEMPERATURA (ºC) COMP A COMP B Figura 4.55 – Absorção de água dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P4 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 160 Tabela 4.3 – Valores de absorção de água encontrados e valor padrão em função da isoterma e da composição em (%). Isoterma Composição Valor máximo Valor mínimo Valor padrão A 7,32 0,79 (0,22 à 5) P1 B 8,55 1,62 (0,22 à 5) A 11,90 0,38 (0,22 à 5) P2 B 11,62 0,87 (0,22 à 5) A 11,89 0,19 (0,22 à 5) P3 B 10,62 0,50 (0,22 à 5) A 12,24 0,12 (0,22 à 5) P4 B 10,53 0,25 (0,22 à 5) 4.2.4.3 - Porosidade aparente Os resultados da porosidade aparente dos corpos cerâmicos são apresentados nas Figuras 4.56 – 4.59 e na Tabela 4.4 é mostrado os valores de máximo, de mínimo e o valor padrão (valor encontrado em outros trabalhos realizados com as mesmas matérias primas) da porosidade aparente em função do tempo de isoterma e da composição. Os resultados estão na faixa de 0,27 a 21,80%, portanto dentro dos limites estabelecidos nas bibliografias estudadas. Segundo Motta (2001), as porcelanas são fabricadas com massas constituídas a partir de _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 161 argilominerais (argila plástica e caulim), quartzo e feldspato bastante puros, que são queimados a temperaturas superiores a 1250 ºC. Os produtos apresentam porosidade próxima a zero e compreendem a porcelana doméstica e de hotelaria (pratos, xícaras, jogos de chá etc.); porcelana elétrica (isoladores e peças para componentes eletroeletrônicos); e porcelana técnica. Já Portella et al (1997) afirma que, uma característica essencial de uma porcelana elétrica é a ausência de poros abertos e tão baixa quanto possível a quantidade de poros fechados, sendo que estes devem estar preferencialmente ausentes. Medidas de porosidade pelo método de absorção de água não deveriam ser maiores que 0,1% em porcelanas elétricas usadas em alta tensão. Para baixa tensão, uma porosidade (poros abertos ou comunicantes) inferior a 2% seria desejável. Os menores valores obtidos da porosidade aparente foram para a temperatura de sinterização de 12500C, as amostras da composição A apresentaram melhores valores de porosidade aparente, quando comparadas com as amostras da composição B, em todas as demais variáveis do processo. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 162 1150 1200 1250 1300 1350 0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 P O R O S ID A D E A P A R E N TE (% ) TEMPERATURA (ºC) COMP A COMP B Figura 4.56 - Porosidade aparente dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P1 1150 1200 1250 1300 1350 0 5 10 15 20 25 P O R O S ID A D E A P A R E N TE (% ) TEMPERATURA (ºC) COMP (A) COMP (B) Figura 4.57 - Porosidade aparente dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P2 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 163 1150 1200 1250 1300 1350 0 5 10 15 20 25 P O R O S ID A D E A P A R E N TE (% ) TEMPERATURA (ºC) COMP (A) COMP (B) Figura 4.58 - Porosidade aparente dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P3 1150 1200 1250 1300 1350 0 5 10 15 20 25 P O R O S ID A D E A P A R E N TE (% ) TEMPERATURA (ºC) COMP (A) COMP (B) Figura 4.59 - Porosidade aparente dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P4 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 164 Tabela 4.4 – Valores da porosidade aparente encontrados e valor padrão em função da isoterma e da composição em (%). Isoterma Composição Valor máximo Valor mínimo Valor padrão A 15,71 1,78 (< 2) P1 B 17,99 3,68 (< 2) A 21,04 0,85 (< 2) P2 B 21,51 2,02 (< 2) A 21,27 0,43 (< 2) P3 B 19,87 1,17 (< 2) A 21,79 0,27 (< 2) P4 B 19,56 0,56 (< 2) 4.2.4.4 - Massa específica aparente As Figuras 4.60 - 4.63 apresentam o comportamento da massa específica aparente dos corpos de prova em função da temperatura de sinterização, da composição das matérias primas e do tempo de isoterma e na Tabela 4.5 é mostrado os valores de máximo, de mínimo e o valor padrão (valor encontrado em outros trabalhos realizados com as mesmas matérias primas) da massa específicae aparente em função do tempo de isoterma e da composição. Em todas as amostras estudadas, os valores obtidos para esta propriedade ficaram na faixa de _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 165 1,76 a 2,34 g/cm3. São esperados valores de densidade aparente inverso aos valores de porosidade, pois estas propriedades são de característica inversiva, o que resultará em gráficos com concavidades invertidas. Os valores encontrados estão dentro do estabelecido por Schimdt (1979) mostrado na tabela 2.17 e por Portella (1997). Segundo Bonetti et al (2009), o aumento da densidade pós queima do material tem relação com a granulometria. Possivelmente isto ocorre em função do menor tamanho de partícula do feldspato que, quando reduzida aumenta a área superficial específica, implica em uma sinterização mais rápida, ou ainda pela obtenção de uma maior densificação a verde, em função da granulometria mais fina dos materiais não plásticos. De acordo com Portella et al (1997), é essencial que a porcelana elétrica tenha ausência de porosidade, o que implica em ter massa específica aparente elevada, então os melhores resultados de densidade foram obtidos nas amostras sinterizadas a temperatura de 12500C, o que era esperado, pois as micrografias à 12500C já indicavam estes resultados, em função de apresentarem maior vitrificação nas superfícies das amostras. As amostras sinterizadas à temperaturas maiores que 12500C apresentaram redução da densidade. Esta redução é atribuída à emissão de gases durante a sinterização. A composição B apresentou melhores valores de densidade que a composição A, o que está associado a maior quantidade de cristais de feldspato, o que permite maior formação de fase líquida, para preenchimento dos poros e retenção dos defeitos. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 166 1150 1200 1250 1300 1350 1,95 2,00 2,05 2,10 2,15 2,20 2,25 2,30 M A SS A E SP E C ÍF IC A AP A R E N TE (g /c m 3 ) TEMPERATURA (ºC) COMP (A) COMP (B) Figura 4.60 - Massa específica aparente dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P1. 1150 1200 1250 1300 1350 1,7 1,8 1,9 2,0 2,1 2,2 2,3 2,4 M A SS A E SP E C ÍF IC A AP A R E N TE (g /c m 3 ) TEMPERATURA (ºC) COMP (A) COMP (B) Figura 4.61 - Massa específica aparente dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P2 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 167 1150 1200 1250 1300 1350 1,8 1,9 2,0 2,1 2,2 2,3 2,4 M A SS A E SP E C ÍF IC A AP A R E N TE (g /c m 3 ) TEMPERATURA (ºC) COMP A COMP B Figura 4.62 - Massa específica aparente dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P3 1150 1200 1250 1300 1350 1,7 1,8 1,9 2,0 2,1 2,2 2,3 2,4 M A SS A E SP E C ÍF IC A AP A R E N TE (g /c m 3 ) TEMPERATURA (ºC) COMP A COMP B Figura 4.63 - Massa específica aparente dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P4 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 168 Tabela 4.5 – Valores da massa espacífica aparente encontrados e valor padrão em função da isoterma e da composição em (g/cm3). Isoterma Composição Valor máximo Valor mínimo Valor padrão A 2,28 2,00 (2,3 à 2,5) P1 B 2,27 1,97 (2,3 à 2,5) A 2,27 1,76 (2,3 à 2,5) P2 B 2,30 1,85 (2,3 à 2,5) A 2,31 1,80 (2,3 à 2,5) P3 B 2,34 1,87 (2,3 à 2,5) A 2,33 1,78 (2,3 à 2,5) P4 B 2,33 1,86 (2,3 à 2,5) 4.2.4.5 - Variação de massa no processo de sinterização ou perda ao fogo As Figuras 4.64 - 4.67 apresentam o comportamento da variação de massa dos corpos de prova em função da temperatura de sinterização, da composição das matérias primas e do tempo de isoterma e na Tabela 4.6 é mostrado os valores de máximo, de mínimo e o valor padrão (valor encontrado em outros trabalhos realizados com as mesmas matérias primas) da variação de massa em função do tempo de isoterma e da composição. Em todas as amostras estudadas, os valores obtidos para esta propriedade ficaram na faixa de 4.03 a 9,34 %. _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 169 Considerando que a perda de massa de materiais cerâmicos deve-se as transformações químicas e físicas que ocorre no material quando submetidas a elevadas temperaturas, nota-se que o comportamento das matérias-primas para uma mesma temperatura é diferente. Tomando como exemplo a temperatura de 1150 ºC, dentre as matérias-primas em estudo, a maior perda de massa é da composição B, diferenciando somente na isoterma de 1,5 horas. Para temperatura de 12000C a composição B apresentou maiores perdas diferenciando deste comportamento apenas no tempo de meia hora, nas temperaturas seguintes a perda de massa da composição A foi menor que B. Os valores encontrados estão em consonância com os encontrados por Bragança (2004). A menor perda de massa foi de 4,03% para a composição A sinterizada à 13500C na isoterma de 2 horas, e o maior foi 9,34 encontrado para a mesma composição à 12000C durante 30 minutos. 1150 1200 1250 1300 1350 4 5 6 7 8 9 10 VA RI AÇ ÃO D E M AS SA (% ) TEMPERATURA (0C) COMP A COMP B Figura 4.64 – Variação de massa corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P1 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 170 1150 1200 1250 1300 1350 5 6 7 8 9 VA R IA ÇÃ O D E M AS SA (% ) TEMPERATURA (0C) COMP A COMP B Figura 4.65 – Variação de massa dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P2. 1150 1200 1250 1300 1350 4 5 6 7 8 9 10 VA R IA ÇÃ O D E M AS SA (% ) TEMPERATURA (0C) COMP A COMP B Figura 4.66 – Variação de massa dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P3 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 171 1150 1200 1250 1300 1350 3 4 5 6 7 8 9 VA RI AÇ ÃO D E M AS SA (% ) TEMPERATURA (0C) COMP A COMP B Figura 4.67 – Variação de massa dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P4 Tabela 4.6 – Valores da perda ao fogo encontrados e valor padrão em função da isoterma e da composição em (%). Isoterma Composição Valor máximo Valor mínimo Valor padrão A 9,32 4,79 (7,3 à 7,6) P1 B 8,77 7,34 (7,3 à 7,6) A 6,78 5,35 (7,3 à 7,6) P2 B 8,27 7,37 (7,3 à 7,6) A 7,51 4,36 (7,3 à 7,6) P3 B 8,93 6.90 (7,3 à 7,6) A 8,97 4,03 (7,3 à 7,6) P4 B 8,75 7,56 (7,3 à 7,6) _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 172 4.2.4.6 - Resistência à flexão Na Figura 4.68 é apresentado o comportamento característico da resistência mecânica sob flexão, dos corpos de prova, em função das composições dos materiais estudados. Observa-se um comportamento típico de matérias frágeis. 0,0 0,2 0,4 0,6 0,8 1,0 1,2 0 10 20 30 40 Flexão em Três Pontos Composição A Composição B Te ns ão ( M Pa ) Deformação(%) Figura 4.68 - Curva característica do ensaio de flexão em três pontos das composições A e B Nas Figuras 4.69 – 4.72, são apresentados os resultados da resistência mecânica sob flexão, dos corpos de prova, em função das composições dos materiais, da temperatura de sinterização e do tempo de isoterma e na Tabela 4.7 é mostrado os valores de máximo, de mínimo e o valor padrão (valor encontrado em outros trabalhos realizados com as mesmas matérias primas) da tensão de ruptura em função do tempo de isoterma e da composição. Em _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 173 todas as amostras estudadas os valores obtidos ficaram na faixa de 16,23 a 37,93 MPa ou 165,50 a 386,77 kgf/cm2, portanto, dentro dos valores estabelecidos por Portella (1997) para aplicação em cerâmica elétrica para isoladores. Nos corpos-de-prova sinterizados nas temperaturas de 1150 a 1250oC, nota-se que o aumento da temperatura e do tempo de isoterma contribuirão para o aumento da resistência mecânica do material. Este comportamento seguiu a mesma tendência observada para a densificação do material, o que indica relação direta, conforme já esperado, da resistência mecânica do sinterizado com a densificação do material. Por outro lado, nas temperaturas acima de 1250oC, a tensão de ruptura do material diminuiu seguindo a mesma tendência do comportamento anterior. 1150 1200 1250 1300 1350 12 16 20 24 28 32 36 40 TR F (M Pa ) TEMPERATURA 0C COMP A COMP B Figura 4.69 - Tensão de ruptura à flexão dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P1 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 174 1150 1200 1250 1300 1350 12 16 20 24 28 32 36 40 TR F (M Pa ) TEMPERATURA 0C COMP A COMP B Figura 4.70 - Tensão de ruptura à flexão dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P2 1150 1200 1250 1300 1350 12 16 20 24 28 32 36 40 TR F (M Pa ) TEMPERATURA 0C COMP A COMP B Figura 4.71 - Tensão de ruptura à flexão dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P3 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 175 1150 1200 1250 1300 1350 12 16 20 24 28 32 36 40 TR F (M Pa ) TEMPERATURA 0C COMP A COMP B Figura 4.72 - Tensão de ruptura à flexão dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P4 Tabela 4.7 – Valores de tensão de ruptura encontrados e valor padrão em função da isoterma e da composição em (MPa). Isoterma Composição Valor máximo Valor mínimo Valor padrão A 36,15 19,97 (24 à 46) P1 B 28,92 16,23 (24 à 46) A 31,88 17,89 (24 à 46) P2 B 33,99 20,77 (24 à 46) A 37,22 22,13 (24 à 46) P3 B 27,35 19,32 (24 à 46) A 35,93 21,45 (24 à 46) P4 B 37,93 20,18 (24 à 46) _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 176 4.2.4.7 - Temperaturas de gresificação As Figuras 4.73 a 4.76 apresentam as curvas de gresificação das massas cerâmicas obtidas em função do tempo de isoterma e das composições, a interseção entre a curva de retração linear e absorção de água indica o ponto ótimo de queima do material. Nota-se que a composição B tem uma maior temperatura de gresificação, apresentando menor valor que a composição A apenas na isoterma P2. Na isoterma P1 tem-se uma temperatura de 1287oC, uma retração linear de 3,19% e absorção de água de 3,81% para a composição A, e uma temperatura de 1294oC, uma retração linear de 3,95% e absorção de água de 3,64% para a composição B. Na isoterma P2 observa-se uma temperatura de 1296oC, uma retração linear de 2,72% e absorção de água de 4,02% para a composição A, e uma temperatura de 1291oC, uma retração linear de 4,05% e absorção de água de 6,12% para a composição B. Na isoterma com tempo de 1,5 horas tem-se uma temperatura de 1280oC, uma retração linear de 4,32% e absorção de água de 5,21% para a composição A e uma temperatura de 1299oC, uma retração linear de 3,39% e absorção de água de 3,91% para a composição B. Na isoterma com tempo de 2 horas observa-se uma temperatura de 1281oC, uma retração linear de 3,80% e absorção de água de 4,92% para a composição A e uma temperatura de 1290oC, uma retração linear de 3,56% e absorção de água de 4,54% para a composição B. A Tabela 4.8 resume estes valores. Este comportamento está associado à redução acentuada do material que é provocada inicialmente pela perda das hidroxilas dos argilominerais presentes na argila e mais adiante, pela formação de fase líquida ocorridas nos elementos com característica fundente. Os valores elevados de absorção de água podem está associados à granulometria dos materiais usados, cuja quantidade de partículas grossas (tamanho médio variando entre 10,83 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 177 a 29,13 μm) pode reduzir a densificação do material e, conseqüentemente, aumentar a sua temperatura de gresificação, e a eliminação de gases, que por sua vez produzem aumento de porosidade. A temperatura de queima mais indicada para composição A é de 12870C e para composição B é de 12990C, devido aos melhores índices de absorção de água e retração linear. 1150 1200 1250 1300 1350 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 0 2 4 6 8 ABSORÇÃO A ABSORÇÃO B AB SO RÇ ÃO D E ÁG UA (% ) TEMPERATURA 0 RETRAÇÃO A C RETRAÇÃO B R ET RA ÇÃ O L IN EA R (% ) Figura 4.73 – Curva de gresificação das composições A e B na isoterma P1 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 178 1150 1200 1250 1300 1350 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 0 2 4 6 8 ABSORÇÃO A ABSORÇÃO B AB SO RÇ ÃO D E Á G UA (% ) TEMPERATURA 0C RETRAÇÃO A RETRAÇÃO B R ET R AÇ ÃO L IN EA R (% ) Figura 4.74 – Curva de gresificação das composições A e B na isoterma P2 1150 1200 1250 1300 1350 -1 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 0 2 4 6 8 ABSORÇÃO A ABSORÇÃO B AB SO RÇ ÃO D E ÁG UA (% ) TEMPERATURA 0C RETRAÇÃO A RETRAÇÃO B R ET RA ÇÃ O L IN EA R (% ) Figura 4.75 – Curva de gresificação das composições A e B na isoterma P3 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ 179 1150 1200 1250 1300 1350 -1 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 0 2 4 6 8 ABSORÇÃO A ABSORÇÃO B AB SO RÇ ÃO D E ÁG UA (% ) TEMPERATURA 0C RETRAÇÃO A RETRAÇÃO B R ET RA ÇÃ O L IN EA R (% ) Figura 4.76 – Curva de gresificação das composições A e B na isoterma P4 Tabela 4.8 - Temperaturas de gresificação das massas cerâmicas em função da retração linear e da absorção de água Isoterma Composição Temperatura (0C) RL (%) AA(%) A 1287 3,19 3,81 P1 B 1294 3,95 4,64 A 1296 2,72 4,02 P2 B 1291 4,05 6,12 A 1280 4,32 5,21 P3 B 1299 3,39 3,91 A 1281 3,80 4,92 P4 B 1290 3,56 4,54 _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 180 4.2.5 - Caracterização elétrica das massas cerâmicas sinterizadas Neste subitem as amostras foram caracterizadas através da resistividade, da constante dielétrica e da rigidez dielétrica em função das composições, das temperaturas de sinterização e do tempo de isoterma. 4.2.5.1 - Resistividade elétrica As Figuras (4.77 – 4.80) apresentam o comportamento da resistividade elétrica dos corpos de prova cerâmicos, em função das composições, da temperatura de sinterização e dos tempos de isotermas (P1 – P4). Em todas as amostras estudas, a resistividade elétrica apresentou valores entre 1,47x108 a 3,69x108 Ω.cm, estando dentro dos valores encontrados por Janssen (2005) e por Pesente (2004), para porcelana em aplicação em eletrotécnica. Já a Tabela 2.17, indica valor na ordem de 1011 para porcelana empregada em isoladores e a tabela 2.12 indica valores na faixa de 1011 a 1013 para porcelana empregada em capacitores. O aumento da temperatura de sinterização influenciou proporcionalmente na resistividade elétrica até 12500C. A partir desse ponto, para as composições e isotermas, esta relação foi decrescente. O maior valor obtido da resistividade elétrica da composição A, foi de 3,69x108Ω.cm à 12500C na isoterma de 2 horas e da composição B, foi de 3,65x108Ω.cm à 12500C na isoterma de 1,5 horas. Este comportamento esta associado à porosidade. Neste trabalho foi obtido valor de resistividade com comportamento inversamente proporcional à porosidade, pois quanto maior a porosidade, menor a resistividade. Este comportamento Resultados e Discussão____________________________________________________________________ _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 181 também foi observado por Chaudhuri et. al. (1999), com o surgimento de mulita, pois segundo ele o aumento na quantidade ou no tamanho dos cristais mulita, diminui a resistividade elétrica da porcelana, e que o aumento da quantidade de quartzo, cristobalita ou fase vítrea aumenta a resistividade. A resistividade é o parâmetro físico que possui o maior intervalo de variação na natureza, indo desde 10-8 Ω m para os metais mais condutivos até 1016 Ω m para os isolantes (ou dielétricos) mais resistivos. O valor da resistividade (Ω) é uma medida da indisponibilidade de cargas livres por unidade de volume, acrescida ao grau de dificuldade para sua movimentação no meio material, sob a ação de um campo elétrico aplicado. A variação da resistividade elétrica da porcelana com a temperatura é exponencialmente proporcional à razão entre a quantidade de K2O e de Na2O na fase vítrea (KOLPASHCHIKOVA et al, 2003). Os elementos químicos presentes nestes compostos foram encontrados na analise de EDX (Figuras 4,49 a 4.50). Na caracterização química foi encontrada uma relação de 6:1, mas este estudo (comportamento da variação da resistividade em função da razão entre a quantidade de K2O e de Na2O) não foi foco deste trabalho. Resultados e Discussão____________________________________________________________________ _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 182 1150 1200 1250 1300 1350 1,5 1,8 2,1 2,4 2,7 3,0 3,3 3,6 RE SI ST IV ID AD E (1 08 O hm . cm ) TEMPERATURA (0C) COMP A COMP B Figura 4.77 – Resistividade elétrica dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P1. 1150 1200 1250 1300 1350 1,6 1,8 2,0 2,2 2,4 2,6 2,8 3,0 3,2 RE SI ST IV ID AD E (1 08 O hm . cm ) TEMPERATURA (0C) COMP A COMP B Figura 4.78 – Resistividade elétrica dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P2 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 183 1150 1200 1250 1300 1350 1,6 2,0 2,4 2,8 3,2 3,6 4,0 RE SI ST IV ID AD E (1 08 O hm . cm ) TEMPERATURA (0C) COMP A COMP B Figura 4.79 – Resistividade elétrica dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P3 1150 1200 1250 1300 1350 1,6 2,0 2,4 2,8 3,2 3,6 RE SI ST IV ID AD E (1 08 O hm . cm ) TEMPERATURA (0C) COMP A COMP B Figura 4.80 – Resistividade elétrica dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P4. Resultados e Discussão____________________________________________________________________ _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 184 4.2.5.2 - Constante dielétrica O comportamento da constante dielétrica dos corpos de prova cerâmicos, em função das composições, da temperatura de sinterização e dos tempos de isotermas (P1 a P4) estão nas Figuras (4.81 – 4.84). Em todas as amostras estudas, o valor da constante dielétrica ficou na faixa de 46,70 a 71,25. Mussoi e Villaça (2000) encontraram para cerâmicas, valores na faixa de 4 a 8, na Tabela 2.18, onde está indicado o valor de k para um bom isolador elétrico maior igual a 30. Já a Tabela 2.17 apresenta valores dessa constante em porcelana para capacitores na faixa de 12 a 10.000. O maior valor obtido da constante dielétrica da composição A foi de 58,38 à 13500C, na isoterma de 1 hora, e da composição B foi de 71,25 à 13500C, na isoterma de 1 hora. Este comportamento está associado e é proporcional a porosidade. Quanto maior o valor da porosidade, maior o da constante dielétrica e também vem associado ao grau de assimetria na distribuição espacial das cargas elétricas presas, constituintes da unidade celular do comportamento elétrico do meio material, quando excitado por um campo elétrico aplicado. Quanto maior a constante dielétrica, mais polarizável é o dielétrico e portanto, mais carga será possível armazenar nas placas até que se estabeleça o equilíbrio de tensões entre as placas. Segundo Chinellato et al (2004), o valor da constante dielétrica aumenta até um valor máximo, depois cai com o aumento da quantidade de mulita e quartzo. Este comportamento pode ser comprovado com os resultados obtidos na análise por difração de raios-x. Neste observa-se que a intensidade do pico de quartzo diminui com o aumento da temperatura de sinterização. Resultados e Discussão____________________________________________________________________ _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 185 1150 1200 1250 1300 1350 51 54 57 60 63 CO NS TA NT E DI EL ÉT RI CA TEMPERATURA (0C) COMP A COMP B Figura 4.81 – Constante dielétrica dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P1. 1150 1200 1250 1300 1350 51 54 57 60 63 66 69 72 CO NS TA N TE D IE LÉ TR IC A TEMPERATURA (0C) COMP A COMP B Figura 4.82 – Constante dielétrica dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P2. Resultados e Discussão____________________________________________________________________ _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 186 1150 1200 1250 1300 1350 45 48 51 54 57 60 63 66 CO NS TA NT E DI EL ÉT RI CA TEMPERATURA (0C) COMP A COMP B Figura 4.83 – Constante dielétrica dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P3. 1150 1200 1250 1300 1350 48 51 54 57 60 63 66 CO NS TA NT E DI EL ÉT RI CA TEMPERATURA (0C) COMP A COMP B Figura 4.84 – Constante dielétrica dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P4. Resultados e Discussão____________________________________________________________________ _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 187 4.2.5.3 - Rigidéz dielétrica em fonte DC É apresentado nas Figuras (4.85 – 4.88), o comportamento da rigidez dielétrica em fonte de corrente contínua dos corpos de prova cerâmicos, em função das composições, da temperatura de sinterização e dos tempos de isotermas (P1 – P4). Em todas as amostras estudas, a rigidez dielétrica ficou na faixa de 65,85 a 174,63 kV/cm, estando dentro dos valores encontrados estabelecidos nas Tabelas 2.12 e 2.17, que apresentam respectivamente valor de intensidade do campo de perfuração para porcelana usada, capacitores e porcelana eletrotécnica. Janssen (2005) encontrou valor de rigidez em porcelana de quartzo na ordem de 180 kV/cm. O aumento da temperatura de sinterização influenciou proporcionalmente na intensidade do compo de perfuração até 12500C. A partir desse ponto, para as composições e isotermas, esta relação foi decrescente. O maior valor obtido da rigidez dielétrica da composição A, foi de 166,07kV/cm à 12500C na isoterma de 2 horas e da composição B, foi de 174,63kV/cm à 12500C na isoterma de 1,5 horas. Este comportamento é justificado pela seguinte explicação: quando temos uma determinada tensão aplicada aos terminais de um dielétrico (ar, óleo, gás, fenolite, resinas, etc.) podem ocorrer descargas em partes deste dielétrico nos pontos onde houver maior intensidade de campo elétrico ou onde a constante dielétrica “k” for menor, como no caso de pequenas bolhas de ar no interior de um isolante sólido. No caso de dielétricos sólidos, estas descargas são produzidas pela ionização de pequenas cavidades de ar no interior do dielétrico; no caso dos líquidos, pela ionização de bolhas de gás no seu interior; no caso do ar, pela ionização das moléculas de ar que se encontram nos pontos de maior gradiente de potencial. Resultados e Discussão____________________________________________________________________ _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 188 1150 1200 1250 1300 1350 60 80 100 120 140 160 180 RI G ID EZ D IE LÉ TR IC A (k V/ cm ) TEMPERATURA (0C) COMP A COMP B Figura 4.85 – Rigidez dielétrica em fonte DC dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P1. 1150 1200 1250 1300 1350 60 80 100 120 140 160 180 RI RI DE Z DI EL ÉT RI CA (k V/ cm ) TEMPERATURA (0C) COMP A COMP B Figura 4.86 – Rigidez dielétrica em fonte DC dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P2. Resultados e Discussão____________________________________________________________________ _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 189 1150 1200 1250 1300 1350 60 80 100 120 140 160 180 RI G ID EZ D IE LÉ TR IC A (k V/ cm ) TEMPERATURA (0C) COMP A COMP B Figura 4.87 – Rigidez dielétrica em fonte DC dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P3. 1150 1200 1250 1300 1350 60 80 100 120 140 160 180 R IG ID EZ D IE LÉ TR IC A (k V/ cm ) TEMPERATURA (0C) COMP A COMP B Figura 4.88 – Rigidez dielétrica em fonte DC dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P4 Resultados e Discussão____________________________________________________________________ _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 190 4.2.5.4 - Rigidez dielétrica em fonte AC As Figuras (4.89 – 4.92) apresentam o comportamento da rigidez dielétrica em fonte de corrente contínua dos corpos de prova cerâmicos, em função das composições, da temperatura de sinterização e dos tempos de isotermas (P1 – P4). Em todas as amostras estudadas, a rigidez dielétrica ficou na faixa de 7,37 a 69,82 kV/cm, estando dentro dos valores encontrados por Souza et al (2004), Chinellato et al (2004) e Portella et al (1997), quando usadas as mesmas matérias primas. O aumento da temperatura de sinterização só não influenciou proporcionalmente na intensidade do campo de perfuração até 12500C para as amostras na isoterma de 30 minutos. A partir desse ponto, para as composições e isotermas, esta relação foi decrescente. O maior valor obtido da rigidez dielétrica da composição A, foi de 69,82kV/cm à 12000C na isoterma de 0,5 horas e da composição B, foi de 62,98kV/cm à 12500C na isoterma de 2 horas. Este comportamento é associado à inversão sucessiva de polarização da tensão aplicada ocasionando descargas reversivas, proporcionando um rompimento da rigidez dielétrica do material em tempo e valores menores de tensão em função do acúmulo de uma avalanche de elétrons semelhante aos gases. Resultados e Discussão____________________________________________________________________ _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 191 1150 1200 1250 1300 1350 30 40 50 60 70 R IG ID EZ D IE ÉT RI CA (k V/ cm ) TEMPERATURA (0C) COMP A COMP B Figura 4.89 – Rigidez Dielétrica em fonte AC dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P1. 1150 1200 1250 1300 1350 25 30 35 40 45 50 55 60 65 RI G ID EZ D IE LÉ TR IC A (k V/ cm ) TEMPERATURA (0C) COMP A COMP B Figura 4.90 – Rigidez Dielétrica em fonte AC dos corpos-de-prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P2. Resultados e Discussão____________________________________________________________________ _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 192 1150 1200 1250 1300 1350 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 RI G ID EZ D IE LÉ TR IC A (k V/ cm ) TEMPERATURA (0C) COMP A COMP B Figura 4.91 – Rigidez Dielétrica em fonte AC dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P3. 1150 1200 1250 1300 1350 20 30 40 50 60 70 RI G ID EZ D IE LÉ TR IC A (k V/ cm ) TEMPERATURA (0C) COMP A COMP B Figura 4.92 – Rigidez Dielétrica em fonte AC dos corpos de prova sinterizados, em função da temperatura e da composição na isoterma P4. Resultados e Discussão____________________________________________________________________ _______________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 193 Na Tabela 4.9 será apresentado um resumo dos valores obtidos das propeiedades elétricas e valores padrões para cada propriedade elétrica estudada neste trabalho. Tabela 4.9 – Propriedades elétricas das massas cerâmicas. Isoterma Composição Resistividade x108 (Ω.cm) Constante dielétrica k Rigidez dielétrica DC (kV/cm) Rigidez dielétrica AC (kV/cm) A 2,68 - 3,47 49,72-57,83 30,12 - 69,82 10,04 - 46,69 P1 B 1,61 - 3,12 54,10-63,79 40,98 - 41,69 10,12 - 36,92 A 2,71 - 3,09 51,58-58,38 28,02 - 64,38 11,21 - 41,43 P2 B 1,62 - 3,02 53,85-71,25 31,34 - 45,19 9,32 - 42,52 A 2,66 - 2,96 51,33-58,08 24,10 - 61,69 9,18 - 54,09 P3 B 1,47 - 3,65 46,70-67,34 28,23 - 51,53 7,37 - 60,12 A 3,02 - 3,69 47,13-55,54 27,91 - 67,06 11,17 - 53,65 P4 B 1,72 - 3,14 51,67-67,01 30,11 - 62,98 12,27 - 61,66 Valor Padrão 108 à 1014 ≥ 30 ≥ 50 ≥ 25 CAPÍTULO 5 CONCLUSÕES Conclusões_________________________________________________________________________________ 194 5. CONCLUSÕES Baseado nos resultados apresentados neste trabalho pode-se concluir que: • A composição que apresentou melhores resultados de modo geral foi a A (20% de argila, 28% de caulim, 32% feldspato e 20% quartzo); • Na temperatura de 12500C, observou-se os melhores resultados das propriedades estudadas para ambas as composições A (20% de argila, 28% de caulim, 32% feldspato e 20% quartzo) e B (15% de argila, 31% de caulim, 21% feldspato e 33% quartzo); • O tempo de isoterma influenciou timidamente nas propriedades, contudo o patamar com isoterma de 30 minutos não apresentou resultados satisfatórios quanto à propriedade de rigidez dielétricas; • De acordo com a curva da greisificação o ponto ótimo da composição A é a temperatura de 12800C na isoterma de 1,5 horas. Para a composição B a análise das curvas de greisificação indica que as melhores condições de sinterização seriam o patamar de 120 minutos a uma temperatura de 12900C; • Na temperatura de 1250 0C foram obtidos os melhores valores de porosidade para ambas composições independente do tempo de queima, com o aumento da temperatura de queima, a partir dessa temperatura, observou-se um aumento da porosidade devido a evaporação dos gases que surgem durante o processo de sinterização em elevadas temperaturas e esta propriedade física foi a que mais influenciou nas propriedades elétricas estudadas; _________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Conclusões_________________________________________________________________________________ 195 • Em todas as condições estudadas foram obtidos valores de resistência mecânica acima do mínimo requerido para a utilização como cerâmica elétrica para isoladores elétricos. • Na análise de rigidez dielétrica observou-se que os melhores resultados foram obtidos para o ensaio em tensão contínua; • As fases cristalinas que surgem durante o processo de queima influenciou nas propriedades elétricas dos materiais estudados; • Os resultados das propriedades elétricas apontam para aplicação do material estudado em produtos de porcelana eletrotécnica como por exemplo: isoladores de baixa, média e alta- tensão para redes elétricas, dispositivos de comando, bucha de isolamento de transformador, capacitores de potência, vela de ignição, receptáculos de lâmpadas incandescentes e fluorescentes e outros. _________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Sugestões para trabalho futuros____________________________________________ 196 SUGESTÃO PARA TRABALHOS FUTUROS • Estudar a influência das variáveis físicas das matérias primas e/ou formulações dando destaque ao tamanho de partículas, nas propriedades elétricas dos corpos de provas; • Estudar a adição de outras matérias primas na composição da massa cerâmica, visando melhorar as propriedades finais; • Estudar o emprego de esmalte na superfície das massas cerâmicas submetidas ao processo de queima. ______________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Referências_________________________________________________________________ 197 REFERÊNCIAS ABREU, Y. V. de. Estudo comparativo da eficiência energética da indústria da cerâmica de revestimento via úmida no Brasil e na Espanha. Tese ( Doutorado em Planejamento de sistema energético), Universidade Estadual de Campinas, Facudade de Engenharia Mecânica, Comissão de Pós-graduação em Engenharia Mecânica, Campinas - SP, 2001. ASSOCIAÇÃO BRASILEIRA DE CERÂMICA. Anuário Brasileiro de Cerâmica -2002. São Paulo, 2002. ASSOCIAÇÃO BRASILEIRA DE CERÂMICA. Anuário Brasileiro de Cerâmica -2006. São Paulo, 2006. ALBUQUERQUE, F. R.; Santos, I. M. G.; Lima, S. J. G.; Cássia-Santos, M. R. Planejamento experimental aplicado à otimização de massas cerâmicascontendo matérias-primas naturais Cerâmica 53 (2007) 300-308. AMBONI, N. O. Caso CECRISA S.A.: uma aprendizagem que deu certo. Tese (Doutorado em Engenharia de Produção) – Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico, Florianópolis, 1997. ASSOCIAÇÃO BRASILEIRA DE NORMAS TÉCNICAS. NBR 6480: Determinação da absorção de água.. Rio de Janeiro, 1995. BARBA, A.; BELTRAN, V.; FELIU, C.; GARCIA, J.; GINÉS, F.; SÁNCHEZ, E.; SANZ, V. Matérias primas para fabricación de suportes de baldosas cerámicas, Instituto de Tecnología Cerámica , Espanha (1997). BONETTI, A. N.; TOMELIN, J. C.; ALARCON, O. E.; OLIVEIRA, O. P. N.; HOTZA, D.; Desenvolvimento de uma porcelana quartzosa isoladores elétricos de alta tensão, exacta, São Paulo, v. 7, n. 2, pp. 187 – 194, 2009 BOYLESTAD, R. L. – Introdução a Análise de Circuitos, Ed. Prentice Hall, SãoPaulo, 2004. BRAGANÇA S. R.; BERGMANN, C. P. Microestrutura e propriedades de porcelanas, scielo Brasil, Cerâmica vol.50 no.316 São Paulo Oct./Dec. 2004 ___________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Referências_________________________________________________________________ 198 BUCHANAN, R. C. "Ceramic Materials for Electronics: Processing, Properties and Applications", Marcel Dekker Inc., New York, (1987). CERÂMICA, Revista; 33 (204) – Jan –87; 38 (254) – Março/abril – 1992 34 (222) – Julho / 1998; 28 (145) – Jan / 1982. CHAUDHURI, S. P.; SARKAR, P.; CHAKRABORTY, A. K. Ceramica. Intustrial. 25 (1999) 91-99. CHINELATTO, A. L.; SOUZA, D. P. F. porcelanas elétricas aluminosas: parte I – Revisão da literatura. Jounal scientific Electronic Library on-line, Cerâmica 50, pp. 62-68, 2004. CHEN, Y. F.; WANG, M. C.; HON, M. H. Phase Transformation and Growth of Mullite in Kaolin Ceramics. Journal of the European Ceramic Society, v.24, p.2389-2397, 2004. CORDÍ, L. “Estudo da Biodegradação dos Ffilmes de Poli (e- Caprolactona), da Blenda Poli (e- caproctona)/ Amido e do composito Poli (e-caproctona)/ Amido pó de fibra de coco por fungos e bactérias. Universidade Federal de Campinas, Unicamp – SP, Fevereiro 2008. CREDER, H. Instalações Elétricas, Editora. LTC Editora, Ed. 150 , 2007. DAMIANI, J. C. PEREZ, F.; MELCHIADES, F. G.; BOSCHI, A. O.. Coração Negro em Revestimentos Cerâmicos: Principais Causas e Possíveis Soluções. Cerâmica Industrial, 6 (2) pp. 12-16. Março/Abril, 2001. Departamento Nacional de Produção Mineral (DNPM). Anuário Mineral Brasileiro, Parte I – Estatística Brasil, 2006. DUTRA, R. P. S. Efeito da velocidade de aquecimento nas propriedades de produtos da cerâmica estrutural. Tese (Doutorado em Engenharia de Materiais) – Universidade federal do Rio Grande do Norte, Natal/RN, 2007. ESLINGER, E.; PEAVER, D., Clay minerals for petroleum geologists and engineers. Society of Economic Paleontologists and Mineralogists, Short Course Notes, USA, n.22, 351p., 1988. ___________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Referências_________________________________________________________________ 199 FERREIRA, H. C. - Caracterização e Aplicação industriais de argilas, caulins e feldspato do nordeste brasileiro (estados da Paraíba e Rio Grande do Norte), Tese de Doutoramento, Depto. de Engenharia Química EPUSP, São Paulo, 1972. FRANCO, C. R. et al. Degradation of policaprlactone/starch blends and composites with sisal fibre. Polymer Degradation and Stability, v.86, p.95-103, 2004. GABAS, N.; HIQUILY, N.; LAGUERIE, C. - Response of laser diffraction particle sizer to anisometicles/1993. GALDINO, J. N., MELO, M. A. F., e MELO, D. M. A., Estudo de Gresificação de algumas argilas do Rio Grande do Norte para uso em cerâmica branca, trabalho apresentado na CIENTEC, UFRN, Natal, 1999. GOMES, C. F., Argilas – O que são e para que servem. Lisboa: Fundação Caloustre Igulbenkian, 1986. GOMES, U. U. Tecnologia dos Pós Fundamentos e Aplicações. 1 ED. NATAL: UFRN. Editora Universitária, 1993, 160p. GUSSOW, M. Eletricidade Básica, Editora McGraw-Hilll, São Paulo. 1985. GOULART, E. P., KWASSHIMA, T. – Curso internacional em grupo em tecnologia IPT/JICA ``Matérias-primas. Caracterização mineralógica``-1995. HAYT, W. H. Jr.; BUCK, J. A. Engineering Eletromagnetics. Editora: McGraw-Hil, 4a edição, 1983. HALLIDAY, D.; RESNICK, R.; WALKER, J. Fundamentos de física - vol. 3 – eletromagnetismo. Editora LTC, 8ª ed. 2009. HEMMING, J. Os índios do Brasil em 1500. In: Bethell, L. (org). História da América Latina: A América Latina Colonial I, volume 1. 2. ed. São Paulo: Editora da Universidade de São Paulo; Brasília/DF: Fundação Alexandre Gusmão, 1998. http://www.inf.pucrs.br/~calazans/undergrad/laborg/cod_cores_res.html. Acessado em abril 2007. INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION. Ceramic and glassinsulating materials: IEC 60672. Geneva, 1996. 141p. ___________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Referências_________________________________________________________________ 200 IQBAL Y.; LEE W.E. Microstructural Evolution in Triaxial Porcelain. Journal of the American Ceramic Society, v.83, p. 3121-3127, 2000. IRWIN, D. J. Análise de Circuitos em Engenharia, Ed. Makron Books, São Paulo, 2005. JANSSEN, F. Influencia dos parâmetros de envelhecimento nas propriedades elétricas de isoladores cerâmicos para sistema de potencia. Dissertação de mestrado (Mestre em Física) – Universidade Federal do Sergipe, São Cristóvão, Sergipe, 2005. KIM, H. AND CHAR, K. Dielectric Changes During the Curing of Epoxy Resin Based on the Diglycidyl Ether of Bisphenol A (DGEBA) with Diamine, Bull. Korean Chem. Soc. 1999, Vol. 20, No. 11 1329 KOLPASHCHIKOVA, Z. V.; SHCHERBAKOVA, E. V.; KOSTYUKOV, N. S. Polarization Processes in Electrotechnical Porcelain Within a Wide Frequency Range. Glass and Ceramics, v.60, p.370-373, 2003. MELO, M. A. de F., Caracterização de algumas Matérias Primas Cerâmicas do RN, para uso em Cerâmica Branca, Relatório final, FIERN/SENAI/ UFRN/FUNPEC, Natal, 1998. MOREIRA, M. D. Aplicações dos minerais e rochas industriais. Associação Brasileira de Geólogos, Salvador-BA, 1994. MOTTA, J. F. M.; ZANARDO, A.; CABRAL JUNIOR, M. As matérias-primas cerâmicas. Parte I: O perfil das principais indústrias cerâmicas e seus produtos. Cerâmica Industrial, 6, 2 (2001) 28. MUSSOI, F. L. R.; VILLAÇA, M. V. M. Capacitores. Centro Federal de Educação e Tecnologia de santa Catarina. 3a edição, outubro de 2000. NEVES, J. H. Exposição do curso de cantaria da FAOP, caso dos contos/OP/MG, 2001. PESENTE, J. R. Fundamentos de técnicas de alta tensão, Universidade Estadual Do Oeste Do Paraná – Unioeste Centro de Engenharias e Ciências Exatas – Cee Curso De Engenharia Elétrica Foz do Iguaçu, 2004. ___________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Referências_________________________________________________________________ 201 PORTELLA, K. F.; GARCIA, C. M.; SOUZA, G. P. de; CANTÃO, M. P.; CARON, L. E.; BARON, O.; REIFUR, N. Caracterização de materiais empregados em isoladores de porcelana, tipo pedestal, utilizados na copel desde 1980, EM – Eletricidade Moderna, ANO XXV, 277, Abril 1997 322 a 332. PRASAD, C.;MAITI, K. N.;VENUGOPAL, R. Cerâmica industrial 15 2002. RESENDE, M. A. P. de. A indústria cerâmica: estudo de caso no Município de Tambaú-SP. Dissertação (Mestrado em Geociências), Unicamp, Instituto de Geociências, Campinas, 1998. REZENDE, E. Materiais usados em eletrotécnica. Rio de Janeiro: Interciência, 1977. SANTOS, P. S. – Ciência e Tecnologia de Argilas, vol, 1 e 2. São Paulo, editora Edgard blucher Ltda, 1989. SCHMIDT, W. Materiais elétricos: condutores e semicondutores. 2ª ed. São Paulo: Edgard Blücher, 1979. SCHMIDT, W. Materiais elétricos: isolantes e magnéticos. 2ª ed São Paulo: Edgard Blücher, 1979. SCHÜLLER, K. H. Ceramics Monographs - A Handbook of Ceramics, Verlag Schmidt GmbH Freiburg Brg. (1979). SEGANTINI, E.; DANTAS, S. T. Aplicação de microscopia eletrônica da varredura para aplicação em embalagens. Instituto Tecnológico de Alimentos (ITAL), V. 8, n. 2, abril 2006. BUCHANAN, R. C. "Ceramic Materials for Electronics: Processing, Properties and Applications", Marcel Dekker Inc., New York, (1987). SILVA, M. R. R.; DANTAS, J. R. A. Província pegmatítica da Borborema-Seridó, Paraíba e Rio Grandedo Norte, Principais Depósitos Minerais do Brasil, Brasília:DNPM/CPRM, Vol. 4b, P. 131-137/139-145/441-467, 1997. SINGER, F.; and SINGER, S. S., "Enciclopedia de la Quimica Industrial", Ediciones Urmo, Barcelona, (1976). ___________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Referências_________________________________________________________________ 202 SOUSA, M. R.; FREITAS, J. J. M.; MELO M. A. F.; D. M. A. MELO. Propriedades das matérias-primas do estado do rio grande do norte para a produção de grês porcelanato, 17º CBECIMat - Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciência dos Materiais, 15 a 19 de Novembro de 2006, Foz do Iguaçu, PR, Brasil. SOUZA, J. F. P.; NEVES, W. F. das; ALARGON, O. E.; Estudo da viabilidade de obtenção de isoladores elétricos a partir de resíduos de esmaltação, cerâmica 50, pp. 217 – 224, 2004. Spaintiles, “Processo de fabricación de baldosas cerámicas”. Disponível em: http://spaintiles.info/documentos/proceso.pdf (2002). STARK, T. D.; “Alkali-Silic Reaction and its Effects on Concrete”. In: Proceedings of the Second International Conference on Alkali-Agregate Reactions in Hidroelectric Plants and Dems, uscold, pp. 9-18, Chatanooga, Tennessee, EUA, oct. 1995. STRAK, T. D.; Arellano, D.; Horvath, J. S.; Lshchinsky D.; Geofoam applications in the design and construction of highway embarkgments. NCHRP Web Document 65 (Project 24-11). TRB of the National Academies, 2004. SUNDARARAJAN, R.; SADHUREDDY, N. R.; and GORUR, R. S. “Computer-aided design of porcelain isulator under polluted conditions. IEE trans. Electric isulator, v.2 (1), pp121-127, 1995. TOPALIS, F. V.; GONOS, I. F. and STATHPULOS, I. A. Dielectric behaviour of polluded porcelain isolators. IEE proceedings on-line n0 2001.0258. july 2008. VLACK, L. van. “Propriedades dos materiais cerâmicos”, Ed. Edgar Blücher, S. Paulo (1973). VOGEL, A. I. Análise inorgânica quantitativa: análise térmica. 4a edição, editora Guanabara Dois, Rio de janairo, pp. 631-643. 1981 ZANDONADI, A. R. – Estudo tecnológico de argilas nontroníticas brasileiras, tese de doutoramento do Instituto de Química da USP, São Paulo, 1972. ___________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva/Março 2010 Apêndice_________________________________________________________________________________ 203 APÊNDICE A – Passo a passo para execução do ensaio de rigidez dielétrica UNIVERSIDADE FEDERAL DO RIO GRANDE DO NORTE CENTRO DE TECNOLOGIA DEPARTAMENTO DE ENGENHARIA ELÉTRICA LABORATÓRIO DE ELETROTÉCNICA MANUAL DE OPERAÇÃO DA MÁQUINA DE ANÁLISE DE RIGIDEZ DIELÉTRICA Idealizado por: Eng. Eletricista Elialdo Chibério da Silva (Aluno de Doutorado) Apoio: Uílame Umbelino Gomes (Orientador) Marcos A. D. de Almeida (Coordenador do curso de Eng. Elétrica) José Reniêr Rocha de Oliveira (Aluno de Engenharia Elétrica) _________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Apêndice_________________________________________________________________________________ 204 PASSO A PASSO PARA OPERAR A MÁQUINA DE ANÁLISE DE RIGIDEZ DIELÉTRICA 1º PASSO Dirija-se à porta corrediça da gaiola de Faraday, ver na Figura 01. _________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Figura 01 - Porta corrediça da gaiola de Faraday. 2º PASSO Destrave a porta corrediça da gaiola de Faraday como ilustrado na Figura 02 abra a porta e entre. Apêndice_________________________________________________________________________________ 205 _________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Figura 02 - Trava da Porta corrediça da gaiola de Faraday. 3º PASSO Pegue a haste de aterramento e descarregue os capacitores da fonte de alta tensão como ilustram as Figuras 03, 04, 05. Apêndice_________________________________________________________________________________ 206 Figura 03 - Vista panorâmica da Máquina Ensaio de rigidez dielétrica. Figura 04 - Acumulador de tensão; Figura 05 - Descarga das tensões de Máquina de Ensaio de Rigidez Dielétrica (tensão de flutuação) 4º PASSO: Coloque a amostra destinada ao ensaio no porta amostras, como ilustrado na Figura 06. _________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Apêndice_________________________________________________________________________________ 207 Figura 06 - Porta amostras com amostra pronta para o ensaio 5º PASSO: Sair da gaiola de Faraday e travar a porta corrediça ver Figura 07. Figura 07 - Porta corrediça devidamente travada. 6º PASSO: Comute a chave liga-desliga, ilustrado na Figura 08, da posição “0” para posição “1”. _________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Apêndice_________________________________________________________________________________ 208 Figura 08 - Chave liga – desliga ( Comutadora ). 7º PASSO Ligue a estação de controle de tensão, comutando, da posição “0” para a posição “1”, a chave liga – desliga localizada logo abaixo da botoeira de emergência (Botoeira de cor Vermelha). Como ilustrado na figura 09. Figura 09 - Estação de controle de tensão _________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Apêndice_________________________________________________________________________________ 209 8º PASSO Ajuste o multímetro para realizar a medição e memorização adequada da leitura, colocando-o em AC ou DC, de acordo com a configuração da máquina, apertando na tecla MODE (Tecla de Cor Azul), ajuste a escala de medição para 400V, apertando a tecla RH e por fim ajuste o instrumento para memorização da tensão de Black-Out, apertando a tecla Min/Max. Deixando no display do instrumento HOLD MIN. Ver Figura 10. Figura 10 - Instrumento de medição 9º PASSO Ligue as bobinas 1 e 2, apertando os botões com indicação 1, que estão localizados abaixo do nome SAFETY LOOP (abaixo da lâmpada de sinalização da a estação de controle de tensão), ver Figura 11. _________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Apêndice_________________________________________________________________________________ 210 Figura 11- Controlador de tensão da fonte de rigidez dielétrica 10º PASSO Dê início ao ensaio girando o seletor de tensão do controlador de tensão (O maior seletor, o que tem o caractere U escrito logo acima dele), ver Figura 12. _________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Apêndice_________________________________________________________________________________ 211 Figura 12 - Estação de Controle de tensão da fonte de rigidez dielétrica 11º PASSO Após abrir um arco elétrico através da amostras, anote o valor da leitura indicado no display do instrumento de medição (Tensão de Brack-Dow) visto na Figura 13; desligue as bobinas 1 e 2, localizadas abaixo do nome SAFETY LOOP da estação de controle de tensão, Figura 14; retorne o seletor de tenção da estação de controle de tensão para a posição MIN, figura 14; desligue a estação de controle de tensão, comutando, da posição “1” para a posição “0”, a chave liga – desliga localizada logo abaixo da botoeira de emergência (Botoeira de cor Vermelha), Figura 14. Figura 13 - Instrumento de medição _________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Apêndice_________________________________________________________________________________ 212 Figura 14 - Estação de Controle de tensão da fonte de rigidez dielétrica 12º PASSO Proceda como nos passos 1, 2 e 3, retire a amostra do porta amostras, caso deseje fazer um novo ensaio, coloque uma outra amostra no porta amostras e retorne ao passo 5. OBSERVAÇÃO 01: O valor da tensão que foi anotado no passo 11 tem que ser usado para a obtenção do valor real de tensão de Black-Out, indicados nos gráficos e tabelas de calibração que estão fixados no painel de acrílico, como ilustrados nas tabelas 01 e 02 e nas figuras 15 e 16. OBSERVAÇÃO 02: Para detectar o tipo de configuração da Máquina de Análise de Rigidez Dielétrica, basta observar se está acoplado à fonte de alta tensão o elemento diodo, caso esteja, a configuração da Máquina de Análise de Rigidez Dielétrica é DC, caso o elemento diodo não esteja acoplado a configuração é AC. Tabela 01 – Tabela de calibração da configuração AC VALOR DA TENSÃO NOS TERMINAIS DA MÁQUINA ( KV) VALOR LIDO NO VOLTÍMETRO FIXO (VOLT) DESVIO PADRA DAS MEDIDAS REALIZADAS 0,500 3,845 0,346482323 1,000 7,285 0,544472222 1,500 10,745 0,629325035 2,000 14,485 0,261629509 2,500 17,99 0,268700577 3,000 21,65 0,353553391 3,500 25,26 0,650538239 4,000 29,075 0,530330086 4,500 32,635 0,332340187 5,000 36,36 0,367695526 5,500 39,4 0,141421356 6,000 43 0,424264069 6,500 46,4 0 7,000 50,3 0,282842712 7,500 54,05 0,070710678 8,000 57,45 0,070710678 _________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Apêndice_________________________________________________________________________________ 213 Tabela 01 – Tabela de calibração da configuração AC (continuação) 8,500 61 0,424264069 9,000 64,75 0,070710678 9,500 68,25 0,212132034 10,000 71,9 0,141421356 10,500 75,55 0,353553391 11,000 79,05 0,353553391 11,500 82,55 0,212132034 12,000 86 0 12,500 89,75 0,353553391 13,000 93,35 0,212132034 13,500 96,7 0,282842712 14,000 100,4 0,424264069 14,500 103,9 0,424264069 15,000 107,5 0,424264069 15,500 112 1,555634919 16,000 114,3 0,424264069 16,500 117,75 0,919238816 17,000 121,6 0,565685425 17,500 124,8 1,13137085 18,000 128,8 0,424264069 18,500 132,4 0,424264069 19,000 135,7 0,424264069 19,500 139,55 0,636396103 20,000 142,7 0,848528137 20,500 146,2 0,848528137 21,000 149,75 0,777817459 21,500 153,3 0,848528137 22,000 157,05 0,777817459 22,500 160,65 0,777817459 23,000 164,25 0,919238816 23,500 167,7 0,848528137 24,000 171,2 0,989949494 24,500 174,35 0,919238816 25,000 177,9 0,707106781 25,500 181,3 0,707106781 26,000 185,25 0,494974747 26,500 188,5 0,989949494 27,000 192,05 1,060660172 27,500 195,3 0,707106781 _________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Apêndice_________________________________________________________________________________ 214 Tabela 01 – Tabela de calibração da configuração AC (continuação) 28,000 198,8 0,989949494 28,500 202 1,272792206 29,000 205,6 1,13137085 29,500 209,2 0,989949494 30,000 212,25 0,919238816 30,500 215,65 1,202081528 31,000 219,25 1,343502884 31,500 222,25 1,48492424 32,000 226,2 0,989949494 32,500 229,2 1,555634919 33,000 232,65 2,050609665 33,500 235,75 0,919238816 34,000 239,55 1,626345597 34,500 242,75 1,909188309 35,000 246 1,838477631 35,500 249,7 0,424264069 36,000 254,6 1,838477631 36,500 256,65 0,919238816 37,000 260,35 0,070710678 37,500 263,5 0,848528137 38,000 266,85 1,202081528 38,500 270,1 0,989949494 39,000 273,75 0,494974747 Tabela 02 – Tabela de calibração da configuração DC VALOR DA TENSÃO NOS TERMINAIS DA MÁQUINA ( KV) VALOR LIDO NO VOLTÍMETRO FIXO (VOLT) DESVIO PADRA DAS MEDIDAS REALIZADAS 0,500 1,7 0,282842712 1,000 3,25 0,636396103 1,500 3,6 0,424264069 2,000 5,95 0,919238816 _________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Apêndice_________________________________________________________________________________ 215 Tabela 02 – Tabela de calibração da configuração DC (continuação) 2,500 7,7 0,707106781 3,000 9,05 0,777817459 3,500 10,05 0,636396103 4,000 12,25 0,636396103 4,500 13,5 0,848528137 5,000 14,45 0,919238816 5,500 15,65 0,777817459 6,000 16,9 0,141421356 6,500 18,35 0,636396103 7,000 19,8 0,141421356 7,500 20,65 0,070710678 8,000 22,6 0,141421356 8,500 23,7 0,141421356 9,000 25,05 0,919238816 9,500 26,6 0 10,000 28,05 0,777817459 10,500 29,6 0,282842712 11,000 30,75 0,636396103 11,500 31,7 0,989949494 12,000 33,2 0,141421356 12,500 35,05 0,494974747 13,000 36,2 0,282842712 13,500 37,7 0,141421356 14,000 38,95 0,212132034 14,500 39,7 0 15,000 41,05 0,777817459 15,500 42,95 0,070710678 16,000 44,55 0,070710678 16,500 46 0,565685425 17,000 47,25 0,070710678 17,500 48,4 0,141421356 18,000 49,9 0,282842712 18,500 51,25 0,070710678 19,000 52,65 0,353553391 19,500 53,9 0,141421356 20,000 55,3 0 20,500 56,8 0,141421356 21,000 57,85 0,212132034 21,500 59,3 0,141421356 _________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Apêndice_________________________________________________________________________________ 216 Tabela 02 – Tabela de calibração da configuração DC (continuação) 22,000 60,75 0,070710678 22,500 62,05 0,070710678 23,000 63,3 0,282842712 23,500 64,8 0,141421356 24,000 66,2 0,282842712 24,500 67,7 0 25,000 68,95 0,353553391 25,500 70,5 0,282842712 26,000 71,6 0,282842712 26,500 75,95 4,030508653 27,000 74,35 0,070710678 27,500 75,75 0,353553391 28,000 77,1 0,141421356 28,500 78,35 0,070710678 29,000 80,1 0,141421356 29,500 81,2 0 30,000 82,85 0,070710678 30,500 83,95 0,070710678 31,000 85,3 0 31,500 86,7 0,141421356 32,000 88,05 0,212132034 32,500 89,35 0,070710678 33,000 90,65 0,070710678 33,500 92,15 0,070710678 34,000 93,6 0,282842712 34,500 94,55 0,212132034 35,000 96,7 0,141421356 35,500 97,5 0 36,000 98,85 0,212132034 36,500 100,4 0 37,000 101,6 0,282842712 37,500 103,1 0 38,000 104,6 0,141421356 38,500 105,75 0,070710678 39,000 107,1 0,141421356 39,500 108,5 0 40,000 109,7 0,141421356 40,500 111,25 0,212132034 41,000 112,6 0 _________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Apêndice_________________________________________________________________________________ 217 Tabela 02 – Tabela de calibração da configuração DC (continuação) 41,500 113,7 0,424264069 42,000 115,3 0 42,500 116,7 0,141421356 43,000 118,05 0,070710678 43,500 119,4 0,282842712 44,000 120,65 0,212132034 44,500 122,2 0,282842712 45,000 123,25 0,353553391 45,500 124,25 0,777817459 46,000 125,75 1,202081528 46,500 126,65 0,919238816 47,000 128,95 0,070710678 47,500 130,2 0 48,000 131,25 0,212132034 48,500 132,9 0,141421356 49,000 134,25 0,353553391 49,500 135,75 0,070710678 50,000 136,75 0,212132034 50,500 138,55 0,070710678 51,000 139,5 0 51,500 141,2 0 52,000 142,95 0,212132034 52,500 144,05 0,494974747 53,000 145,1 0,282842712 53,500 146,95 0,636396103 54,000 147,8 0,141421356 54,500 148,95 0,070710678 55,000 150,45 0,070710678 _________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Apêndice_________________________________________________________________________________ 218 0 5 10 15 20 25 30 35 40 0 50 100 150 200 250 300 GRÁFICO DE CALIBRAÇÃO PARA CONFIGURAÇÃO AC VA LO R L ID O N O V O LT ÍM ET R O F IX O (V ) VALOR DA TENSÃO NOS TERMINAIS DA MÁQUINA (KV) CURVA DE CALIBRAÇÃO Figura 01 – Curva de calibração da configuração AC _________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010 Apêndice_________________________________________________________________________________ 219 0 10 20 30 40 50 60 0 20 40 60 80 100 120 140 160 GRÁFICO DE CALIBRAÇÃO DA CONFIGURAÇÃO DC VA LO R L ID O N O V O LT ÍM E TR O F IX O (V ) VALOR DA TENSÃO NOS TERMINAIS DA MÁQUINA (KV) CURVA DE CALIBRAÇÃO DC Figura 02 – Curva de calibração da configuração DC _________________________________________________________________________________ Elialdo Chibério da Silva /Março 2010