Estudo comparativo de filmes finos de ZnO:Al e ZnO:Al:Ti depositados por magnetron sputtering e cátodo oco

Autores Queiroz, José César Augusto de
Orientador

Costa, Thercio Henrique de Carvalho

Editor

Universidade Federal do Rio Grande do Norte

Data

2020-08-24

Palavras-chave

Filmes finos

Magneton Sputtering

Cátodo oco

AZO

TAZO

Cálculo ab initio

Citação
Resumo

Abstract

URI https://repositorio.ufrn.br/handle/123456789/30416
ColeçõesPPGEM - Doutorado em Engenharia Mecânica

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