Caracterização de estruturas planares com substratos Iso/Anisotrópicos truncados através da técnica da ressonância transversa modificada

dc.contributor.advisorD'assunção, Adaildo Gomespt_BR
dc.contributor.advisor-co1Gomes Neto, Alfrêdopt_BR
dc.contributor.advisor-co1IDpor
dc.contributor.advisor-co1Latteshttp://lattes.cnpq.br/1403715441701958por
dc.contributor.advisorIDpor
dc.contributor.authorCarvalho, Joabson Nogueira dept_BR
dc.contributor.authorIDpor
dc.contributor.authorLatteshttp://lattes.cnpq.br/3511078820928127por
dc.contributor.referees1Cavalcante, Gervásio Protásio dos Santospt_BR
dc.contributor.referees1IDpor
dc.contributor.referees1Latteshttp://lattes.cnpq.br/2265948982068382por
dc.contributor.referees2Souza, Rui Fragassipt_BR
dc.contributor.referees2IDpor
dc.contributor.referees2Latteshttp://lattes.cnpq.br/5359107500377040por
dc.contributor.referees3Silva, Sandro Gonçalves dapt_BR
dc.contributor.referees3IDpor
dc.contributor.referees3Latteshttp://lattes.cnpq.br/6122570451445215por
dc.contributor.referees4Albuquerque, Maria Rosa Medeiros Lins dept_BR
dc.contributor.referees4IDpor
dc.contributor.referees4Latteshttp://lattes.cnpq.br/4546157125717070por
dc.date.accessioned2014-12-17T14:55:00Z
dc.date.available2007-08-01pt_BR
dc.date.available2014-12-17T14:55:00Z
dc.date.issued2005-12-19pt_BR
dc.description.abstractThis work presents a theoretical and numerical analysis using the transverse resonance technique (TRT) and a proposed MTRT applied in the analysis of the dispersive characteristics of microstrip lines built on truncated isotropic and anisotropic dielectric substrates. The TRT uses the transmission lines model in the transversal section of the structure, allowing to analyze its dispersive behavior. The difference between TRT and MTRT consists basically of the resonance direction. While in the TRT the resonance is calculated in the same direction of the metallic strip normal axis, the MTRT considers the resonance in the metallic strip parallel plane. Although the application of the MTRT results in a more complex equivalent circuit, its use allows some added characterization, like longitudinal section electric mode (LSE) and longitudinal section magnetic mode (LSM), microstrips with truncated substrate, or structures with different dielectric regions. A computer program using TRT and MTRT proposed in this work is implemented for the characterization of microstrips on truncated isotropic and anisotropic substrates. In this analysis, propagating and evanescent modes are considered. Thus, it is possible to characterize both the dominant and higher order modes of the structure. Numerical results are presented for the effective permittivity, characteristic impedance and relative phase velocity for microstrip lines with different parameters and dimensions of the dielectric substrate. Agreement with the results obtained in the literature are shown, as well as experimental results. In some cases, the convergence analysis is also performed by considering the limiting conditions, like particular cases of isotropic materials or structures with dielectric of infinite size found in the literature. The numerical convergence of the formulation is also analyzed. Finally, conclusions and suggestions for the continuity of this work are presentedeng
dc.description.resumoEste trabalho apresenta os fundamentos teóricos da técnica da ressonância transversa (TRT) e da técnica da ressonância transversa modificada (MTRT) aplicada na análise das características dispersivas de uma microfita considerando substratos dielétricos isotrópicos e anisotrópicos truncados. A TRT utiliza o modelo da linha de transmissão na seção transversal da estrutura, permitindo analisar o seu comportamento dispersivo. A diferença entre a TRT e MTRT consiste basicamente na direção da ressonância. Enquanto na TRT a ressonância é calculada ao longo do eixo normal à fita metálica, a MTRT considera a ressonância no plano paralelo à fita metálica. Embora a aplicação da MTRT resulte num circuito equivalente mais complexo, sua utilização permite a caracterização mais precisa, incluindo modo elétrico de seção longitudinal (LSE) e modo magnético de seção longitudinal (LSM), microfitas com substrato truncado, ou estruturas planares com multiplas regiões dielétricas. Um programa computacional utilizando a TRT e MTRT é discutido e desenvolvido para caracterização de microfitas sobre substratos isotrópicos e anisotrópicos truncados. Na análise, consideram-se modos propagantes e evanescentes. Assim, é possível caracterizar não somente o modo fundamental, mas também os modos de ordem superior da estrutura. São apresentados resultados numéricos para as diversas grandezas, ou seja, permissividade efetiva, impedância característica e velocidade de fase relativa para microfita com diferentes parâmetros e dimensões do substrato. São feitas comparações com outros resultados disponíveis na literatura e, também, com resultados determinados experimentalmente. Em alguns casos, os resultados são comparados como casos particulares de materiais isotrópicos ou de estruturas com dielétricos de tamanho infinito encontradas na literatura, tendo sido observada uma excelente concordância. Apresenta-se, ainda, um estudo de convergência da formulação proposta e, finalmente, conclusões e sugestões para continuidade do trabalhopor
dc.formatapplication/pdfpor
dc.identifier.citationCARVALHO, Joabson Nogueira de. Caracterização de estruturas planares com substratos Iso/Anisotrópicos truncados através da técnica da ressonância transversa modificada. 2005. 241 f. Tese (Doutorado em Automação e Sistemas; Engenharia de Computação; Telecomunicações) - Universidade Federal do Rio Grande do Norte, Natal, 2005.por
dc.identifier.urihttps://repositorio.ufrn.br/jspui/handle/123456789/15161
dc.languageporpor
dc.publisherUniversidade Federal do Rio Grande do Nortepor
dc.publisher.countryBRpor
dc.publisher.departmentAutomação e Sistemas; Engenharia de Computação; Telecomunicaçõespor
dc.publisher.initialsUFRNpor
dc.publisher.programPrograma de Pós-Graduação em Engenharia Elétricapor
dc.rightsAcesso Abertopor
dc.subjectRessonância transversapor
dc.subjectEstruturas planarespor
dc.subjectComportamento dispersivopor
dc.subjectAnálise numéricapor
dc.subjectTransverse Resonanceeng
dc.subjectPlanar Structureeng
dc.subjectDispersive Behavieoreng
dc.subjectNumerical Analysiseng
dc.subject.cnpqCNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICApor
dc.titleCaracterização de estruturas planares com substratos Iso/Anisotrópicos truncados através da técnica da ressonância transversa modificadapor
dc.typedoctoralThesispor

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