Avaliação de propriedades ópticas e espessura de filmes finos de TiO2 a partir do espectro de transmitância
| Autores | Severiano Sobrinho, Valmar da Silva | |
|---|---|---|
| Orientador | Melo, José Daniel Diniz | |
| Editor | Universidade Federal do Rio Grande do Norte | |
| Data | 2016-05-12 | |
| Palavras-chave | Filmes finos Propriedades ópticas Band gap TiO2 Espessura Método do envelope PUMA | |
| Citação | ||
| Resumo | ||
| Abstract | ||
| URI | https://repositorio.ufrn.br/jspui/handle/123456789/21301 | |
| Coleções | PPGEM - Mestrado em Engenharia Mecânica |
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