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dc.contributor.advisorD'assunção, Adaildo Gomespt_BR
dc.contributor.authorGomes Neto, Milton Luciano Cavalcantept_BR
dc.date.accessioned2014-12-17T14:55:23Z-
dc.date.available2009-06-24pt_BR
dc.date.available2014-12-17T14:55:23Z-
dc.date.issued2004-04-06pt_BR
dc.identifier.citationGOMES NETO, Milton Luciano Cavalcante. Análise de superfícies seletivas de freqüência através do método dos potenciais vetorias de Hertz. 2004. 88 f. Dissertação (Mestrado em Automação e Sistemas; Engenharia de Computação; Telecomunicações) - Universidade Federal do Rio Grande do Norte, Natal, 2004.por
dc.identifier.urihttp://repositorio.ufrn.br:8080/jspui/handle/123456789/15259-
dc.description.abstractThis work presents a theoretical and numerical analysis of Frequency Selective Surfaces (FSS) with elements as rectangular patch, thin dipole and crossed dipole mounted on uniaxial anisotropic dielectric substrate layers for orientations of the optical axis along x, y and z directions. The analysis of these structures is accomplished by combination of the Hertz vector potentials method and the Galerkin's technique, in the Fourier transform-domain, using entire¬domain basis functions. This study consists in the use of one more technique for analysis of FSS on anisotropic dielectric substrate. And presents as the main contribution the introduction of one more project parameter to determinate the transmission and reflection characteristics of periodic structures, from the use of anisotropic dielectric with orientations of the crystal optical axis along x, y and z directions. To validate this analysis, the numerical results of this work are compared to those obtained by other authors, for FSS structures on anisotropic and isotropic dielectric substrates. Also are compared experimental results and the numerical correspondent ones for the FSS isotropic case. The technique proposed in this work is accurate and efficient. ln a second moment, curves are presented for the transmission and reflection characteristics of the FSS structures using conducting patch elements mounted on uniaxial anisotropic dielectric substrate layers with optical axis oriented along x, y and z directions. From analysis of these curves, the performance of the considered FSS structures as function of the optical axis orientation is describedeng
dc.formatapplication/pdfpor
dc.languageporpor
dc.publisherUniversidade Federal do Rio Grande do Nortepor
dc.rightsAcesso Abertopor
dc.subjectFreqüência (Engenharia Elétrica)por
dc.subjectFreqüênciapor
dc.subjectSuperfícies seletivas de freqüênciapor
dc.subjectPotências vetorias de Hertzpor
dc.titleAnálise de superfícies seletivas de freqüência através do método dos potenciais vetorias de Hertzpor
dc.typemasterThesispor
dc.publisher.countryBRpor
dc.publisher.initialsUFRNpor
dc.publisher.programPrograma de Pós-Graduação em Engenharia Elétricapor
dc.contributor.authorLatteshttp://lattes.cnpq.br/1810013278411504por
dc.contributor.advisor-co1Campos, Antônio Luiz Pereira de Siqueirapt_BR
dc.contributor.advisor-co1Latteshttp://lattes.cnpq.br/1982228057731254por
dc.contributor.referees1Oliveira, José de Ribamar Silvapt_BR
dc.contributor.referees1Latteshttp://lattes.cnpq.br/4002176927695547por
dc.contributor.referees2Mendonça, Laércio Martins dept_BR
dc.contributor.referees2Latteshttp://lattes.cnpq.br/1853488415531363por
dc.contributor.referees3Silva, Sandro Gonçalves dapt_BR
dc.contributor.referees3Latteshttp://lattes.cnpq.br/6122570451445215por
dc.description.resumoEste trabalho apresneta uma análise teórica e numérica de superfícies seletivas de freqüência, ou Frequency Secective Surface (FSS) com elementos do tipo patch retangular, dipolo fino e dipolo cruzado sobre camadas de substratos dielétricos anisotrópicos uniaxiais para orientações de eixo óptico nas direções x, y e z. A análise destas estruturas é realizada através do método dos potenciais vetoriais de Hertz em combinação com a técnica numérica de Galerkin , no domínio da transforma de Fourier, utilizando-se funções de base de domínio inteiro. Este estudo consiste no emprego de mais uma técnica para análise de FSS sobre substratos dielétrico anisotrópicos. E apresenta com o principal constribuição a introdução de mais um parâmetro de projeto para determinação das características de transmissão e reflexão das estruturas periódicas, a partir da utilização de dielétricos anisotrópicos com orientações de eixo óptico nas direções x, y e z do sistema de coordenadas cartesianas. Com o objetivo de validar a técnica utilizada, são realizadas comparações entre os resultados numéricos obtidos neste trabalho e os resultados apresentados por outros autores, para o caso de estruturas de FSS com substratos dielétricos anisotrópicos e isotrópicos. Também são feitas confrontações entre resultados experimentais e os numéricos correspondentes para o caso de FSS com material isotrópicos. O método de análise proposto mostrou-se bastante eficiente e preciso. Em um segundo momento, são apresentadas as curvas das características de transmissão e reflexão de FSS usando patches condutores sobre uma camada dielétrica anisotrópica uniaxial com eixo ópitco orientado nas direções x, y e z. A partir da análise destas curvas, o desempenho das estgruturas de FSS consideradas em função da orientação do eixo óptico é descritopor
dc.publisher.departmentAutomação e Sistemas; Engenharia de Computação; Telecomunicaçõespor
dc.subject.cnpqCNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICApor
Aparece nas coleções:PPGEE - Mestrado em Engenharia Elétrica e de Computação

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