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Título: Análise espectral de reflectarrays com substratos de duas camadas dielétricas anisotrópicas uniaxiais
Autor(es): Souza, Adriano Gouveia de
Palavras-chave: Eletromagnetismo;Arranjo Refletor;FSS;Propagação;Electromagnetism;Wave Scattering;FSS;Propagation
Data do documento: 12-Jun-2006
Editor: Universidade Federal do Rio Grande do Norte
Citação: SOUZA, Adriano Gouveia de. Análise espectral de reflectarrays com substratos de duas camadas dielétricas anisotrópicas uniaxiais. 2006. 78 f. Dissertação (Mestrado em Automação e Sistemas; Engenharia de Computação; Telecomunicações) - Universidade Federal do Rio Grande do Norte, Natal, 2006.
Resumo: Recently, an amazing development has been observed in telecommunication systems. Two good examples of this development are observed in mobile communication and aerospace systems. This impressive development is related to the increasing need for receiving and transmitting communication signals. Particularly, this development has required the study of new antennas and filters. This work presents a fullwave analysis of reflectarrays. The considered structures are composed by arrays of rectangular conducting patches printed on multilayer dieletric substrates, that are mounted on a ground plane. The analysis is developed in the spectral domain, using an equivalent transmission line method in combination with Galerkin method. Results for the reflection coefficient of these structures are presented and compared to those available in the literature. A good agreement was observed. Particularly, the developed analysis uses the transmission lines theory in combination with the incident potentials and the field continuity equations, at the structures interfaces, for obtaining the scattered field components expressions as function of the patch surface currents and of the incident field. Galerkin method is used to determine the unknown coefficients in the boundary value problem. Curves for the reflection coefficient of several reflectarray geometries are presented as function of frequency and of the structural parameters
metadata.dc.description.resumo: Os constantes avanços das telecomunicações tornam-se cada vez mais evidentes nas últimas décadas. As tecnologias de comunicações móveis e da indústria aeroespacial são um bom exemplo desta evolução. Isto ocorreu devido ao aumento do fluxo de dados a serem transmitidos. Para suprir essa demanda, novas tecnologias vêm surgindo na construção de antenas e na filtragem dos sinais de RF. Este trabalho apresenta uma análise de onda completa de estrutura de arranjos refletores (reflectarray). A estrutura analisada é composta por um arranjo de patches condutores retangulares depositados sobre um substrato com duas camadas de materiais iso/anisotrópicos, que por sua vez estão montadas sobre um plano de terra. A análise foi efetuada no domínio espectral, sendo utilizado o método da linha de transmissão equivalente em combinação com o método de Galerkin. Como resultado foram obtidos os coeficientes de reflexão (amplitude e fase) correspondentes para as estruturas analisadas. Para validação desses resultados foi realizada uma comparação com os resultados disponíveis na literatura. Especificamente, a análise desenvolvida usa a teoria de linha de transmissão em conjunto com os potenciais incidentes e com a imposição da continuidade dos campos nas interfaces de contorno, para a obtenção das expressões das componentes dos campos espalhados em função das densidades de corrente do patch e dos campos incidentes. O método de Galerkin é utilizado na determinação numérica dos coeficientes pesos desconhecidos. Desta forma, são determinados os coeficientes de reflexão (amplitude e fase) das estruturas consideradas
URI: http://repositorio.ufrn.br:8080/jspui/handle/123456789/15393
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